「Probe method」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

PROBE FOR INSPECTING ENERGIZATION AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND PROBE UNIT例文帳に追加

通電検査用プローブおよびその製造方法ならびにプローブユニット - 特許庁

PROBE CARRIER, METHOD OF MANUFACTURING PROBE CARRIER, AND DEVICE BEING USED IN IT例文帳に追加

プローブ担体、プローブ担体の製造方法及びそれに用いる装置 - 特許庁

ULTRASONIC PROBE APPARATUS AND METHOD OF MANUFACTURING THE ULTRASONIC PROBE APPARATUS例文帳に追加

超音波プローブ装置及び超音波プローブ装置の製造方法 - 特許庁

PROBE CARD AND ELECTRICAL CONNECTION METHOD FOR PROBE CARD AND IC CHIP例文帳に追加

プローブカード及びプローブカードとＩＣチップとの電気的接続方法 - 特許庁

PROBE USED FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用プローブ及びそのプローブの作製方法 - 特許庁

CONTACT PROBE AND METHOD FOR MAKING THE CONTACT PROBE CONTACT SOLDER TERMINAL例文帳に追加

コンタクトプローブ及びコンタクトプローブを半田端子に接触させる方法 - 特許庁

METHOD OF ATTACHING PROBE ON SUBSTRATE, AND PROBE UNIT USED THEREFOR例文帳に追加

プローブの基板への取り付け方法およびそれに用いるプローブユニット - 特許庁

OPTICAL PROBE, COVERING MEMBER, MEASUREMENT METHOD FOR OPTICAL PROBE, AND OPTICAL POWER METER例文帳に追加

光プローブ、被覆部材、光プローブの測定方法及び光パワーメータ - 特許庁

PROBE FOR PREVOTELLA CLUSTER BACTERIA AND DETECTION METHOD USING THE PROBE例文帳に追加

プレボテラクラスター細菌用プローブおよびこれを用いた検出方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF ULTRASONIC WAVE PROBE AND ULTRASONIC WAVE PROBE例文帳に追加

超音波用探触子の製造方法及び超音波用探触子 - 特許庁

SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE AND METHOD OF MEASURING ITS PROBE RELATIVE POSITION例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及びその探針相対位置測定方法 - 特許庁

COAXIAL PROBE, BARREL FOR COAXIAL PROBE, AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

同軸プローブ並びに同軸プローブ用のバレル及びその製造方法 - 特許庁

PROBE PIN, PROBE CARD, INSPECTION DEVICE, AND CONTROL METHOD OF THE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

プローブピン、プローブカード、検査装置および検査装置の制御方法 - 特許庁

SOCKET FOR CONTACT PROBE AND METHOD FOR STORING CONTACT PROBE IN THE SAME例文帳に追加

コンタクトプローブ用ソケット及びこれへのコンタクトプローブの収容方法 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING PLUNGER FOR CONTACT PROBE, AND PLUNGER FOR CONTACT PROBE例文帳に追加

コンタクトプローブ用プランジャの製造方法及びコンタクトプローブ用プランジャ - 特許庁

LIQUID-EJECTING DEVICE FOR PRODUCING PROBE CARRIER, PROBE CARRIER-PRODUCING DEVICE AND METHOD FOR PRODUCING PROBE CARRIER例文帳に追加

プローブ担体製造用液体吐出装置、プローブ担体製造装置およびプローブ担体製造方法 - 特許庁

CONTACT PROBE, USING METHOD THEREFOR, PROBE CARD PROVIDED WITH THE CONTACT PROBE, AND INSPECTION DEVICE例文帳に追加

コンタクトプローブおよびその使用方法ならびにそのコンタクトプローブを備えるプローブカードおよび検査装置 - 特許庁

CONTACT PROBE, PROBE SOCKET, ELECTRIC CHARACTERISTICS MEASURING APPARATUS, CONTACT PROBE PRESSING METHOD例文帳に追加

コンタクトプローブ及びプローブソケット及び電気特性測定装置並びにコンタクトプローブの押し当て方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD USING SCANNING PROBE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡、走査用プローブ及び走査型プローブ顕微鏡を用いた測定方法 - 特許庁

PROBE NEEDLE FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS MANUFACTURING METHOD AND PROBE CARD WITH THE PROBE NEEDLE例文帳に追加

半導体装置のテスト用プローブ針とその製造方法およびそのプローブ針を備えたプローブカード - 特許庁

PROBE NEEDLE FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND PROBE DEVICE USING THE PROBE NEEDLE例文帳に追加

半導体装置のテスト用プローブ針とその製造方法、このプローブ針を用いたプローブ装置 - 特許庁

MEASURING PROBE FOR POTENTIOMETRY, METHOD FOR MONITORING OF AGING STATE OF MEASURING PROBE, AND USAGE METHOD FOR THE MEASURING PROBE例文帳に追加

電位差測定用測定プローブ、測定プローブの老化状態を監視する方法及び測定プローブの使用法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MANUFACTURING PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND PROBE MANUFACTURED BY THE SAME METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用探針の作製方法、該作製方法によって作製された探針及び作製装置 - 特許庁

CONTACT PROBE, MANUFACTURING METHOD AND USING METHOD THEREFOR, PROBE CARD PROVIDED WITH THE CONTACT PROBE, AND INSPECTING DEVICE例文帳に追加

コンタクトプローブ、その製造方法および使用方法ならびにそのコンタクトプローブを備えるプローブカードおよび検査装置 - 特許庁

PROBE SET, PROBE-DESIGNING METHOD, AND SOFTWARE-STORING RECORDING MEDIUM AND COMPUTER SYSTEM FOR EXECUTING THE PROBE-DESIGNING METHOD例文帳に追加

プローブセット、プローブ設計法、プローブ設計法を実行するためのソウトウエア収納記録媒体及びコンピュータシステム - 特許庁

INSPECTION PROBE INSERTION DEVICE AND METHOD例文帳に追加

検査プローブ挿入装置及びその方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR PROBE INSPECTION例文帳に追加

プローブ検査装置及びプローブ検査方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS OF MANUFACTURING PROBE例文帳に追加

プローブの製造方法および製造装置 - 特許庁

CONTACT PROBE UNIT AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

コンタクトプローブユニット及びその製造方法 - 特許庁

PROBE CARD, AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

プローブカード及びプローブカードの製造方法 - 特許庁

PLANE TYPE PROBE, AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

平面型プローブおよびその製造方法 - 特許庁

SHEET-LIKE PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

シート状プローブおよびその製造方法 - 特許庁

ULTRASONIC PROBE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

超音波プローブおよびその製造方法 - 特許庁

PROBE NEEDLE, METHOD OF MANUFACTURING PROBE NEEDLE, AND METHOD OF MANUFACTURING THREE DIMENSIONAL SOLID STRUCTURE例文帳に追加

プローブ針、プローブ針の製造方法および三次元立体構造の製造方法 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プロ—ブ顕微鏡の測定方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR MANAGING TEST PROBE例文帳に追加

テストプローブを管理するシステムおよび方法 - 特許庁

SILICON PROBE CARD AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

シリコンプローブカード及びその製造方法 - 特許庁

PROBE CARD AND INSPECTING METHOD FOR MAGNETIC SENSOR例文帳に追加

プローブカード及び磁気センサの検査方法 - 特許庁

OPTICAL FIBER PROBE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

光ファイバプローブ及びその製造方法 - 特許庁

OLIGOMER PROBE ARRAY AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

オリゴマープローブアレイ及びその製造方法 - 特許庁

CLEANING SHEET AND METHOD FOR PROBE例文帳に追加

プローブ用クリーニングシート及びクリーニング方法 - 特許庁

PROBE CARD FOR TRIMMING AND TRIMMING METHOD例文帳に追加

トリミング用プローブ・カードおよびトリミング方法 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の測定方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡と計測方法 - 特許庁

PLANAR PROBE, AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

平面型プローブ及びその製造方法 - 特許庁