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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Probe methodに関連した英語例文

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Probe methodの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 3948



例文

PROBE AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

接触子及びその製造方法 - 特許庁

PROBE NEEDLE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

プローブ針及びその製造方法 - 特許庁

PROBE CARD AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

プローブカード及びその製造方法 - 特許庁

METHOD OF DESIGNING BIOCHIP AND PROBE例文帳に追加

バイオチップ及びプローブ設計方法 - 特許庁

例文

PROBE CARD AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

プローブカード及びその製造方法 - 特許庁


例文

PROBE CARD AND ITS PRODUCTION METHOD例文帳に追加

プローブカード及びその製造方法 - 特許庁

WORKING METHOD BY SCANNING PROBE例文帳に追加

走査型プローブによる加工方法 - 特許庁

MERCURY PROBE HORIZONTALNESS INSPECTION METHOD例文帳に追加

水銀プローブ水平度検査方法 - 特許庁

PROBE SHEET AND REPRODUCTION METHOD THEREFOR例文帳に追加

プローブシート及びその再生方法 - 特許庁

例文

PROBE HOUSING CONTAINER, PROBER, PROBE ARRANGEMENT METHOD, AND METHOD OF MANUFACTURING ITS PROBE HOUSING CONTAINER例文帳に追加

探針収納容器、プローバ装置、探針配置方法、及び探針収納容器の製造方法 - 特許庁

例文

PROBE ALIGNING METHOD FOR PROBE MICROSCOPE AND PROBE MICROSCOPE OPERATED BY THIS METHOD例文帳に追加

プローブ顕微鏡の探針位置合せ方法およびその方法により操作されるプローブ顕微鏡 - 特許庁

OPTICAL PROBE AND IRRADIATION LIGHT ADJUSTING METHOD OF OPTICAL PROBE例文帳に追加

光プローブおよび光プローブの照射光調整方法 - 特許庁

SHEET-SHAPED PROBE, PROBE CARD AND WAFER INSPECTING METHOD例文帳に追加

シート状プローブおよびプローブカードならびにウエハの検査方法 - 特許庁

PROBE UNIT MANUFACTURING METHOD AND PROBE UNIT USING THE SAME例文帳に追加

プローブユニットの製造方法及びそれを用いたプローブユニット - 特許庁

PROBE DATA COLLECTION SYSTEM, AND PROBE DATA COLLECTION METHOD例文帳に追加

プローブデータ収集システム及びプローブデータ収集方法等 - 特許庁

SETTING METHOD FOR PRESSURE FORCE OF PROBE IN PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の探針押付け力設定方法 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING PROBE CARRIER AND DEVICE OF MANUFACTURING PROBE CARRIER例文帳に追加

プローブ担体の製造方法およびプローブ担体の製造装置 - 特許庁

DEVICE OF MANUFACTURING PROBE CARRIER AND METHOD OF MANUFACTURING PROBE CARRIER例文帳に追加

プローブ担体の製造装置およびプローブ担体の製造方法 - 特許庁

MAGNETIC INFORMATION REPRODUCING PROBE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE PROBE例文帳に追加

磁気情報再生用プローブ及びそのプローブの製造方法 - 特許庁

REPAIR METHOD OF PROBE CARD AND PROBE SUBSTRATE USING THE SAME例文帳に追加

プローブカードのリペア方法及びこれを利用するプローブ基板 - 特許庁

PROBE DEVICE, PROCESSING APPARATUS, AND METHOD OF PROCESSING WAFER PROBE TEST例文帳に追加

プローブ装置、処理装置及びウェハプローブテストの処理方法 - 特許庁

CLEANING PAD FOR TEST PROBE AND METHOD FOR CLEANING TEST PROBE例文帳に追加

テストプローブ用のクリーニングパッドおよびテストプローブのクリーニング方法 - 特許庁

SHEET-LIKE PROBE, PROBE CARD, AND WAFER INSPECTION METHOD例文帳に追加

シート状プローブおよびプローブカードならびにウエハの検査方法 - 特許庁

MEMBER FOR MANUFACTURING PROBE ARRAY, AND MANUFACTURING METHOD FOR PROBE ARRAY例文帳に追加

プローブアレイ製造用部材及びプローブアレイの製造方法 - 特許庁

PROBE FOR CURRENT-CARRYING TEST, PROBE CARD, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

通電試験用プローブ、プローブカードおよびその製造方法 - 特許庁

PROBE TIP CLEANING MEMBER, AND PROBE TIP CLEANING METHOD例文帳に追加

プローブ先端クリーニング部材及びプローブ先端クリーニング方法 - 特許庁

PROBE CARD, PROBE EQUIPMENT AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

プローブカード、プローブ装置及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

AERODYNAMIC SOUND SOURCE PROBE SYSTEM AND AERODYNAMIC SOUND SOURCE PROBE METHOD例文帳に追加

空力音源探査システム及び空力音源探査方法 - 特許庁

PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD OF MANUFACTURING SAME例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用探針およびその製造方法。 - 特許庁

PROBE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND PROBE MICROSCOPE OF SCANNING TYPE例文帳に追加

プローブとその製造方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

PROBE SCANNING CONTROL METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

探針走査制御方法および走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁

PROBE CARD, SEMICONDUCTOR TESTING SYSTEM, AND PROBE CONTACT METHOD例文帳に追加

プローブカード、半導体試験システム及びプローブの接触方法 - 特許庁

PROBE METHOD AND PROBE APPARATUS FOR BURIED LINEAR METALLIC OBJECT例文帳に追加

線状埋設金属物体探査方法及び探査装置 - 特許庁

PROBE MEMBER AND MANUFACTURING METHOD THEREOF, AND APPLICATION OF PROBE MEMBER例文帳に追加

プローブ部材およびその製造方法ならびにその応用 - 特許庁

SPRING PROBE, SPRING PROBE ASSEMBLY, AND THEIR ASSEMBLING METHOD例文帳に追加

ばねプローブ、ばねプローブ組立体及びそれらの組立方法 - 特許庁

PROBE CARD AND METHOD OF MANUFACTURING IT例文帳に追加

プローブカード及びその製造方法 - 特許庁

CONTACT PROBE COMPLEX, MANUFACTURING METHOD THEREFOR, AND MANUFACTURING METHOD OF PROBE CARD例文帳に追加

コンタクトプローブ複合体、その製造方法及びプローブカードの製造方法 - 特許庁

PROBE NEEDLE AND POLISHING METHOD THEREOF例文帳に追加

プロ−ブ針及びその研磨方法 - 特許庁

PROBE CARD AND METHOD OF PRODUCTION例文帳に追加

プローブカードおよびその製造方法 - 特許庁

PROBE UNIT AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

プローブユニット及びその製造方法 - 特許庁

PROBE CABLE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

プローブケーブル及びその製造方法 - 特許庁

PROBE, AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

プローブ、及びプローブの製造方法 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING OPTICAL FIBER PROBE例文帳に追加

光ファイバー探針の製造方法 - 特許庁

PROBE CARD AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

プローブカード、およびその製造方法。 - 特許庁

PROBE UNIT, ITS MANUFACTURING METHOD, PROBE CARD, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

プローブユニットおよびその製造方法、プローブカードおよびその製造方法 - 特許庁

PROBE HEAD AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

プローブヘッドおよびその製造方法 - 特許庁

PROBE CARD, AND METHOD OF MANUFACTURING SAME例文帳に追加

プローブカード及びその製造方法 - 特許庁

FILM PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

フィルムプローブ及びその製造方法 - 特許庁

PROBE CARD AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

プローブカードおよびその製造方法 - 特許庁

例文

PROBE ARRAY AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

プローブアレイおよびその製造方法 - 特許庁




  
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