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Ray Millerの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 4件
The overlay layer is formed such that an intensity of X-ray diffraction thereof satisfies the relation: 1%≤(200)/{(200)+(111)+(220)+(311)+(222)}≤20%, and 1%≤(200)/(111)≤30% (wherein (200), (111) or the like means Miller index (200) plane, (111) plane or the like).例文帳に追加
オーバレイ層のX線回折の強度が、1%≦(200)/{(200)+(111)+(220)+(311)+(222)}≦20%、且つ、1%≦(200)/(111)≦30%を満たすように形成する。 - 特許庁
Three angles 2θ, ω, ϕ detectable by the diffracted X-ray are measured relative to at least three Miller indices by using the three-axis goniometer and the two slits 50, 52, and the lattice constant is calculated based thereon.例文帳に追加
この3軸ゴニオメータと二つのスリット50,52を用いて,少なくとも三つのミラー指数について,回折X線が検出できる三つの角度2θ,ω,φを測定し,それに基づいて格子定数を算出する。 - 特許庁
The raw material originated from shell or pearl is mechanochemically ground such that the factor of decrease based on diffraction intensity before grinding at a predetermined Miller index of aragonite crystal obtained by the X-ray diffraction method becomes a prescribed value.例文帳に追加
貝殻または真珠由来の原料をX線回折法において得られるアラゴナイト結晶の所定のミラー指数における回折強度の粉砕前を基準とした減少率を所定値とするようにメカノケミカル粉砕する。 - 特許庁
The aluminum nitride sintered compact is one wherein throughout the part lying under the surface to a depth of at least 50 μm, the I (peak intensity)/W (half width) ratio of a face with a Miller index (100) is 27,000-23,000 when analyzed by X-ray diffraction.例文帳に追加
表面からの深さが少なくとも50μmまでの全ての部分において、X線回折によるミラー指数(100)面のI(ピーク強度)/W(半値幅)の比が、27000〜23000であることを特徴とする窒化アルミニウム焼結体。 - 特許庁
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