| 意味 | 例文 |
Scanning methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 3560件
RECORDING APPARATUS AND METHOD FOR CONTROLLING CARRIAGE SCANNING例文帳に追加
記録装置およびキャリッジ走査制御方法 - 特許庁
SCANNING OPTICAL APPARATUS AND METHOD OF ADJUSTING THE SAME例文帳に追加
走査光学装置及びその調整方法 - 特許庁
SCANNING EXPOSURE DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加
走査型露光装置及びデバイス製造方法 - 特許庁
IMAGE SCANNING DEVICE AND CALIBRATION METHOD THEREOF例文帳に追加
画像読取装置及びそのキャリブレーション方法 - 特許庁
SCANNING LINE INTERPOLATOR AND ITS CONTROL METHOD例文帳に追加
走査線補間装置及びその制御方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING SCANNING OPTICAL UNIT例文帳に追加
走査光学ユニット検査方法および装置 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS PHOTOGRAPHING METHOD例文帳に追加
走査電子顕微鏡及びその撮像方法 - 特許庁
ELECTROSTATIC SCANNING-TYPE COMBINATORIAL ION IMPLANTATION METHOD例文帳に追加
静電走査型コンビナトリアルイオン注入方法 - 特許庁
SCANNER DRIVING METHOD FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡のスキャナ駆動方法 - 特許庁
MEASURING METHOD USING SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査プローブ顕微鏡を用いた測定方法 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS MEASUREMENT METHOD例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡とその測定方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND SCANNING TEST METHOD例文帳に追加
半導体集積回路及びスキャンテスト方法 - 特許庁
DOPPLER RADAR APPARATUS AND ITS BEAM SCANNING METHOD例文帳に追加
ドップラーレーダ装置及びそのビーム走査方法 - 特許庁
IMAGE OBSERVATION METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
像観察方法および走査電子顕微鏡 - 特許庁
OBSERVATION METHOD FOR SCANNING SECONDARY ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
走査型２次電子顕微鏡の観察方法 - 特許庁
LASER SCANNING MICROSCOPE AND OPERATION METHOD THEREOF例文帳に追加
レーザ走査顕微鏡およびその動作方法 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS USING METHOD例文帳に追加
走査プローブ顕微鏡およびその使用方法 - 特許庁
SCANNING METHOD FOR DISPLAY PANEL AND DISPLAY DEVICE例文帳に追加
表示パネルのスキャン方法及び表示装置 - 特許庁
SCANNING PROJECTION ALIGNER AND EXPOSURE METHOD例文帳に追加
走査型投影露光装置及び露光方法 - 特許庁
SCANNING PROJECTION ALIGNER AND EXPOSING METHOD例文帳に追加
走査型投影露光装置および露光方法 - 特許庁
OPTICAL SCANNER APPARATUS AND OPTICAL SCANNING METHOD例文帳に追加
光学スキャナ装置および光学走査方法 - 特許庁
SCANNING EXPOSURE DEVICE, EXPOSURE METHOD, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
走査型露光装置、露光方法、及びデバイスの製造方法 - 特許庁
PERCH CHANNEL SCANNING METHOD AND MOBILE STATION USING THE METHOD例文帳に追加
止まり木チャネルスキャン方法及びこれを用いた移動局 - 特許庁
SCANNING OPTICAL SYSTEM BEAM MEASURING DEVICE AND METHOD例文帳に追加
走査光学系ビーム測定装置および方法 - 特許庁
METHOD FOR DRIVING SELF-SCANNING TYPE LIGHT EMITTING ELEMENT ARRAY例文帳に追加
自己走査型発光素子アレイの駆動方法 - 特許庁
SCANNING ALIGNER AND METHOD OF MANUFACTURING DEVICE例文帳に追加
走査型露光装置、及びデバイスの製造方法 - 特許庁
CIRCUIT AND METHOD FOR INTERLACED SCANNING例文帳に追加
インターレース走査回路およびインターレース走査方法 - 特許庁
HEART BEAT SYNCHRONOUS SCANNING METHOD AND MRI DEVICE例文帳に追加
心拍同期スキャン方法およびＭＲＩ装置 - 特許庁
OPTICAL SCANNING DEVICE AND FAILURE DETECTION METHOD例文帳に追加
光走査装置及びその異常検出方法 - 特許庁
HANDHELD SCANNING SYSTEM AND OPERATION METHOD OF THE SAME例文帳に追加
手持ち型スキャニングシステム及びその作動方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR INTERPOLATING SCANNING LINE例文帳に追加
走査線補間装置、及び走査線補間方法 - 特許庁
CODING METHOD FOR DIGITAL INTERLACE SCANNING MOVING PICTURE例文帳に追加
デジタル飛越し走査動映像の符号化方法 - 特許庁
FORCE MEASURING METHOD AND SCANNING FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
力計測方法及び走査型力顕微鏡 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR OPERATING THE SAME例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡およびその操作法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE BY INFRARED SCANNING INTERFERENCE例文帳に追加
赤外スキャニング干渉法による装置と方法 - 特許庁
ILLUMINANT APPARATUS, OPTICAL SCANNING APPARATUS, METHOD FOR ADJUSTING ILLUMINANT APPARATUS, AND METHOD FOR ADJUSTING OPTICAL SCANNING APPARATUS例文帳に追加
光源装置、光走査装置、光源装置の調整方法及び、光走査装置の調整方法 - 特許庁
SIGNAL SCANNING METHOD FOR WIRELESS COMMUNICATION SYSTEM例文帳に追加
無線通信システムにおける信号スキャン方式 - 特許庁
CHANNEL SCANNING METHOD FOR TERRESTRIAL DIGITAL RECEIVER例文帳に追加
地上ディジタル受信装置のチャンネルスキャン方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR LIGHT BEAM SCANNING例文帳に追加
光ビーム走査方法及び光ビーム走査装置 - 特許庁
PIXEL INTERPOLATION CIRCUIT, SCANNING LINE INTERPOLATION CIRCUIT, PIXEL INTERPOLATION METHOD, SCANNING LINE INTERPOLATION METHOD, AND APPLICATION APPARATUS例文帳に追加
画素補間回路、走査線補間回路、画素補間方法、走査線補間方法、および応用装置 - 特許庁
| 意味 | 例文 |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
検索履歴を保存できる！
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
