「Scanning method」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD OF SETTING DIFFERENT MAGNIFICATION FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡の異種倍率設定方法 - 特許庁

METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用試料の作成方法 - 特許庁

PREPARATION METHOD OF SAMPLE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡用の試料の作製方法 - 特許庁

SIGNAL-PROCESSING METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

信号処理方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

CHARGE-UP DETECTION METHOD FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡のチャージアップ検出方法 - 特許庁

LUMINOUS FLUX SCANNER AND LUMINOUS FLUX SCANNING METHOD例文帳に追加

光線束走査装置及び光線束走査方法 - 特許庁

INSPECTION METHOD AND INSPECTION DEVICE FOR SCANNING OPTICAL SYSTEM例文帳に追加

走査光学系の検査方法および検査装置 - 特許庁

ULTRASONIC SCANNING METHOD AND ULTRASONIC DIAGNOSTIC EQUIPMENT例文帳に追加

超音波走査方法および超音波診断装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING BEAM OF SCANNING OPTICAL SYSTEM例文帳に追加

走査光学系のビーム測定装置および方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING BEAM OF SCANNING OPTICAL SYSTEM例文帳に追加

走査光学系のビーム測定方法及び装置 - 特許庁

DISPLAY DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING SCANNING CIRCUIT FOR THE SAME例文帳に追加

表示装置およびその走査回路検査方法 - 特許庁

MULTIBEAM SCANNER, MULTIBEAM SCANNING METHOD, SYNCHRONOUS BEAM DETECTING METHOD AND IMAGE FORMING DEVICE IN MULTIBEAM SCANNING例文帳に追加

マルチビーム走査装置・マルチビーム走査方法・マルチビーム走査における同期ビーム検出方法・画像形成装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR CONTROLLING SCANNING OF MOSAIC SENSOR ARRAY例文帳に追加

モザイクセンサ配列走査の制御方法及びデバイス - 特許庁

SCANNING OPTICAL SYSTEM INSPECTION DEVICE, SCANNING OPTICAL SYSTEM INSPECTION METHOD, LIGHT SOURCE CONTROL UNIT, SCANNING OPTICAL SYSTEM, AND IMAGE FORMING APPARATUS例文帳に追加

走査光学系検査装置、走査光学系検査方法、光源制御装置、走査光学系、及び画像形成装置 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING LENS FOR TANDEM SCANNING OPTICAL SYSTEM, LENS FOR TANDEM SCANNING OPTICAL SYSTEM, OPTICAL SCANNING DEVICE, AND IMAGE FORMING DEVICE例文帳に追加

タンデム走査光学系用レンズの製造方法、タンデム走査光学系用レンズ、光走査装置、および画像形成装置 - 特許庁

NANOTUBE PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, ITS MANUFACTURING METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用ナノチューブプローブとその製造方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SIGNAL PROCESSOR FOR SCANNING TYPE DISTANCE MEASURING APPARATUS, SIGNAL PROCESSING METHOD AND SCANNING TYPE DISTANCE MEASURING APPARATUS例文帳に追加

走査式測距装置の信号処理装置、信号処理方法、及び走査式測距装置 - 特許庁

SCANNING LINE INTERPOLATION APPARATUS, IMAGE PROCESSING APPARATUS, IMAGE DISPLAY DEVICE AND SCANNING LINE INTERPOLATION METHOD例文帳に追加

走査線補間装置、画像処理装置、画像表示装置及び走査線補間方法 - 特許庁

OPTICAL SCANNING LINE CALIBRATOR AND METHOD FOR ADJUSTING OPTICAL SCANNING LINE FORMING POSITION USING SAME例文帳に追加

光走査線校正器及びそれを用いた光走査線形成位置調整方法 - 特許庁

MULTI-BEAM SCANNING METHOD, MULTI-BEAM SCANNING DEVICE, MULTI-BEAM LIGHT SOURCE DEVICE, AND IMAGE-FORMING DEVICE例文帳に追加

マルチビ—ム走査方法・マルチビ—ム走査装置・マルチビ—ム光源装置および画像形成装置 - 特許庁

METHOD OF SCANNING OBJECT INCLUDING A PLURALITY OF IMPORTANT AREAS USING SCANNING BEAM ARRAY例文帳に追加

走査ビームアレイを使用する複数の重要領域を含む対象物を走査する方法 - 特許庁

COMPUTER NETWORK SCANNING SYSTEM, COMPUTER NETWORK SCANNING METHOD AND COMPUTER READABLE MEDIUM例文帳に追加

コンピュータネットワークスキャンシステム、コンピュータネットワークスキャン方法及びコンピュータ読み取り可能な媒体 - 特許庁

To provide a biological scanning method for scanning biological growth plates.例文帳に追加

生物学的生育プレートをスキャニングするための生物学的スキャン方法を提供する。 - 特許庁

DEFECT REVIEW METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE TYPE DEFECT REVIEW APPARATUS USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE TYPE REVIEW APPARATUS例文帳に追加

ＳＥＭ式レビュー装置を用いた欠陥レビュー方法及びＳＥＭ式欠陥レビュー装置 - 特許庁

METHOD OF LITHOGRAPHY USING SCANNING TUNNELING MICROSCOPE AND SCANNING TUNNELING MICROSCOPE FOR IT例文帳に追加

走査型トンネル顕微鏡を用いたリソグラフィ方法及びこのための走査型トンネル顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD OF OPTICAL IMAGE IN SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査形プローブ顕微鏡および走査形プローブ顕微鏡における光学像観察方法 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING LENS FOR TANDEM SCANNING OPTICAL SYSTEM AND LENS FOR TANDEM SCANNING OPTICAL SYSTEM例文帳に追加

タンデム走査光学系用レンズの製造方法、およびタンデム走査光学系用レンズ - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ACCELERATION VOLTAGE OPTIMIZATION METHOD IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及び走査型電子顕微鏡における加速電圧最適化方法 - 特許庁

ELECTRON BEAM SCANNING MECHANISM, ELECTRON BEAM APPARATUS, ELECTRON BEAM EXPOSURE APPARATUS AND ELECTRON BEAM SCANNING METHOD例文帳に追加

電子ビーム走査機構、電子線装置、電子線露光装置及び電子ビーム走査方法 - 特許庁

DYNAMIC STEP OF SELF-REFERENCE AND METHOD AND DEVICE FOR SCANNING DISTORTION IN SCANNING FIELD例文帳に追加

自己参照の動的ステップおよび走査フィールド内走査歪みのための方法および装置 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR CONVERTING INTERLACE SCANNING VIDEO SIGNAL INTO NONINTERLACE SCANNING VIDEO SIGNAL例文帳に追加

インタレ—ス走査ビデオ信号を非インタレ—ス走査ビデオ信号に変換する方法および装置。 - 特許庁

LASER SCANNING MICROSCOPE CONTROLLER, METHOD OF CONTROLLING LASER SCANNING MICROSCOPE AND PROGRAM例文帳に追加

レーザ走査型顕微鏡制御装置、レーザ走査型顕微鏡の制御方法、及びプログラム - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, EVALUATION METHOD OF PROBE OF SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND PROGRAM例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡、走査型プローブ顕微鏡の探針の評価方法、およびプログラム - 特許庁

PROBE, CANTILEVER BEAM, SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND MEASURING METHOD OF SCANNING TUNNEL MICROSCOPE例文帳に追加

探針、片持ち梁、走査型プローブ顕微鏡、及び走査型トンネル顕微鏡の測定方法 - 特許庁

IMAGE FORMING APPARATUS, OPTICAL SCANNING CONTROLLING METHOD, OPTICAL SCANNING CONTROLLING PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

画像形成装置、光走査制御方法、光走査制御プログラム、及び記録媒体 - 特許庁

To provide a document scanning controller, a document scanner, a document scanning system and a document scanning control method by which a period of time for both-side scanning and that for one-side scanning can be made approximately equal to each other.例文帳に追加

両面スキャニングの時間と、片面スキャニングの時間とを約同等にする文書スキャニングコントローラ、文書スキャナー、文書スキャニングシステム及び文書スキャニング制御方法を提供する。 - 特許庁

PROJECTION EXPOSURE APPARATUS, PROJECTION EXPOSURE METHOD, AND SCANNING EXPOSURE METHOD例文帳に追加

投影露光装置及び投影露光方法並びに走査露光方法 - 特許庁

SCANNING EXPOSURE APPARATUS, EXPOSURE METHOD, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査型露光装置および露光方法、ならびにデバイス製造方法 - 特許庁

PHASE CONNECTING METHOD FOR WAVE FRONTS BY FRINGE SCANNING INTERFERENCE MEASURING METHOD例文帳に追加

縞走査干渉測定方式による波面の位相つなぎ方法 - 特許庁

SCANNING ALIGNER, ITS MANUFACTURING METHOD AND METHOD OF MANUFACTURING DEVICE例文帳に追加

走査露光装置及びその製造方法並びにデバイス製造方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR SIGNAL PROCESSING THAT CONVERTS DISPLAY SCANNING METHOD例文帳に追加

表示用走査方式を変換する信号処理装置及び方法 - 特許庁

DETECTING DEVICE AND METHOD, SCANNING DEVICE AND METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

検出装置および方法、走査装置および方法、並びにプログラム - 特許庁

IMAGE READER AND READ SCANNING SPEED CONTROL METHOD例文帳に追加

画像読取装置及び読取走査速度制御方法 - 特許庁

SCANNING LIGHT BEAM SPOT MEASURING METHOD AND MEASURING DEVICE例文帳に追加

走査光ビームスポット測定方法及び測定装置 - 特許庁

IMAGE SCANNING DEVICE AND STORAGE AREA ALLOCATION METHOD例文帳に追加

画像読取装置、及び記憶領域割り当て方法 - 特許庁