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Scanning methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 3560件
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE SIGNAL PROCESSING METHOD例文帳に追加
走査型電子顕微鏡および画像信号処理方法 - 特許庁
INSPECTION METHOD AND DEVICE USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
走査電子顕微鏡を用いた検査方法および装置 - 特許庁
INFRARED CONFOCAL SCANNING TYPE MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD例文帳に追加
赤外共焦点走査型顕微鏡および計測方法 - 特許庁
DARK FIELD SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD例文帳に追加
暗視野走査透過電子顕微鏡および観察方法 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND MICRO-PATTERN MEASURING METHOD例文帳に追加
走査型電子顕微鏡及び微細パターン測定方法 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS MEASUREMENT SETTING METHOD例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡およびその測定設定方法 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS IMAGE DISPLAY METHOD例文帳に追加
走査型電子顕微鏡およびその画像表示方法 - 特許庁
SCANNING LASER MICROSCOPE SYSTEM AND DATA TRANSFER METHOD例文帳に追加
走査型レーザ顕微鏡システムおよびデータ転送方法 - 特許庁
METHOD OF INSPECTING AND MEASURING SAMPLE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
試料の検査,測定方法、及び走査電子顕微鏡 - 特許庁
SCANNING LASER MICROSCOPE AND RECORDING METHOD FOR EXTERNAL SIGNAL例文帳に追加
走査型レーザ顕微鏡及び外部信号の記録方法 - 特許庁
OPTICAL SCANNER, OPTICAL SCANNING METHOD, AND IMAGE DISPLAY APPARATUS例文帳に追加
光走査装置、光走査方法及び画像表示装置 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR OPTICAL SCANNING IN IMAGE FORMING APPARATUS例文帳に追加
画像形成装置における光走査方法及び装置 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR AUTOMATIC EXPOSURE CONTROL FOR CT SCANNING例文帳に追加
CTスキャンにおける自動露出制御方法と装置 - 特許庁
OPTICAL SCANNING APPARATUS, ADJUSTING METHOD, AND IMAGE FORMING APPARATUS例文帳に追加
光走査装置、調整方法及び画像形成装置 - 特許庁
PROGRESSIVE SCANNING CONVERSION DEVICE AND METHOD例文帳に追加
順次走査変換装置及び順次走査変換方法 - 特許庁
SWITCH MATRIX CIRCUIT AND SCANNING METHOD FOR IT例文帳に追加
スイッチマトリクス回路、および、スイッチマトリクス回路の走査方法 - 特許庁
ILLUMINATION OPTICAL DEVICE, SCANNING EXPOSURE DEVICE, AND EXPOSURE METHOD例文帳に追加
照明光学装置、走査露光装置及び露光方法 - 特許庁
METHOD FOR CONTROLLING TRAVEL IN PROBE IN SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡の探針移動制御方法 - 特許庁
SCANNING ALIGNER AND METHOD, CONTROLLING DEVICE AND METHOD, AND DEVICE-MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
走査露光装置及び方法、管理装置及び方法、ならびにデバイス製造方法 - 特許庁
MAIN SCANNING MAGNIFICATION ERROR ADJUSTING METHOD IN MULTI-BEAM SCANNING DEVICE, MULTI-BEAM SCANNING DEVICE, IMAGE FORMING DEVICE, COMPUTER PROGRAM AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
マルチビーム走査装置の主走査倍率誤差調整方法、マルチビーム走査装置、画像形成装置、コンピュータプログラム及び記録媒体 - 特許庁
To provide a method of preparing sample for a scanning probe microscope applicable to SCM (Scanning Capacitance Microscope) measurement and SSRM (Scanning Spreading Resistance Microscope) measurement.例文帳に追加
SCM測定及びSSRM測定に適用できる走査型プローブ顕微鏡用試料の作成方法を提供する。 - 特許庁
SCANNING EXPOSURE APPARATUS AND CONTROL METHOD THEREFOR, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
走査露光装置およびその制御方法、ならびにデバイス製造方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR AUTOMATICALLY SCANNING ROLLED FILM BY DIGITAL METHOD例文帳に追加
ディジタル式且つ自動的にロ—ル状フィルムを走査する方法及び装置 - 特許庁
ELECTROSTATIC CHARGE MEASURING METHOD, FOCUS ADJUSTING METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
帯電測定方法、焦点調整方法、及び走査電子顕微鏡 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR SCANNING PROJECTION ALIGNMENT, AND METHOD OF MANUFACTURING THE DEVICE例文帳に追加
走査露光装置及び走査露光方法並びにデバイスの製造方法 - 特許庁
LIGHT SCANNING OPTICAL DEVICE, IMAGE FORMING DEVICE USING SAME, AND LIGHT SCANNING METHOD例文帳に追加
光走査光学装置、該光走査光学装置を用いた画像形成装置並びに光走査方法 - 特許庁
To improve known devices for scanning dental objects and to improve a method for scanning dental objects.例文帳に追加
既知の対象歯をスキャンする装置を改善し、対象歯をスキャンする方法を改善する。 - 特許庁
Regarding a method of inputting, it is inputted using coordinates in a main scanning direction and a sub scanning direction, for example.例文帳に追加
入力の仕方は、例えば、主走査方向と副走査方向の座標で入力する。 - 特許庁
LIGHT SCANNING APPARATUS, LIGHT SCANNING METHOD, IMAGE FORMING APPARATUS, COLOR IMAGE FORMING APPARATUS, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
光走査装置、光走査方法、画像形成装置、カラー画像形成装置、プログラム、記録媒体 - 特許庁
SCANNING OPTICAL MICROSCOPIC DEVICE AND METHOD FOR RESTORING OBJECT IMAGE FROM THE SCANNING OPTICAL MICROSCOPIC IMAGE例文帳に追加
走査型光学顕微鏡装置及び走査型光学顕微鏡像から物体像の復元法 - 特許庁
MULTIBEAM SCANNING DEVICE FOR SCANNING PHOTOSENSITIVE MATERIAL, AND METHOD FOR CORRECTING POSITION OF IMAGE POINT OF MULTISPOT ARRAY例文帳に追加
感光材の走査用のマルチビーム走査装置、並びに、マルチスポットアレイの画点の位置補正方法 - 特許庁
To provide a method for rapidly performing the scanning of a living sample by a laser scanning microscope in almost real time.例文帳に追加
レーザ走査顕微鏡による生体試料の走査を迅速で準リアルタイム的に行なう。 - 特許庁
TRANSPORTER, X-RAY CT SYSTEM, AND DEVICE FOR SETTING SCANNING RANGE, AND METHOD FOR SETTING SCANNING RANGE例文帳に追加
搬送装置、X線CTシステム及びスキャン範囲設定装置並びにスキャン範囲設定方法 - 特許庁
METHOD FOR OBTAINING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE IMAGE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE USER FOR THE SAME例文帳に追加
走査電子顕微鏡画像を得る方法及びこれに用いられる走査電子顕微鏡装置 - 特許庁
MEASURING METHOD OF PHYSICAL DATA USING SCANNING PROBE MICROSCOPE, CANTILEVER AND THE SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査プローブ顕微鏡を用いた物性情報の測定方法、カンチレバー及び走査プローブ顕微鏡 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING ELECTROMAGNETIC FIELD DISTRIBUTION, SCANNING TYPE ELECTROMAGNETIC FIELD SENSOR UNIT, AND SCANNING TYPE ELECTROMAGNETIC FIELD MEASURING DEVICE例文帳に追加
電磁界分布計測方法、走査型電磁界センサユニット、および走査型電磁界計測装置 - 特許庁
TWEEZERS SYSTEM FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, SCANNING PROBE MICROSCOPE DEVICE, AND REMOVAL METHOD OF DUST例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡用ピンセットシステム、走査型プローブ顕微鏡装置およびゴミの除去方法 - 特許庁
SCANNING TRANSMITTED IMAGE AND MAGNIFICATION OF TRANSMITTED IMAGE/ROTATION CORRECTION METHOD AND SCANNING TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
走査透過像と透過像の倍率・回転補正方法及び走査透過型電子顕微鏡 - 特許庁
To provide a device and method for performing contour scanning by use of a scanning probe microscope.例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡を用いて輪郭走査を実行する装置および方法を提供する。 - 特許庁
SCANNING TYPE OPTICAL MICROSCOPE AND CONFOCAL PINHOLE ADJUSTING METHOD FOR THE SCANNING TYPE OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加
走査型光学顕微鏡および該走査型光学顕微鏡の共焦点ピンホール調整方法 - 特許庁
METHOD AND SYSTEM FOR PROVIDING USER GUIDE IN SCANNING TYPE MICROSCOPIC METHOD例文帳に追加
走査型顕微鏡法における使用者手引きのための方法およびシステム - 特許庁
MANUFACTURING METHOD OF PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, INSPECTION METHOD, AND USAGE例文帳に追加
走査プローブ顕微鏡用探針の製造方法、検査方法、使用方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR MULTIBEAM EXPOSURE SCANNING, AND METHOD FOR MANUFACTURING PRINTING PLATE例文帳に追加
マルチビーム露光走査方法及び装置並びに印刷版の製造方法 - 特許庁
SCANNING-IMAGE TRANSMITTER, PROGRAM, METHOD, IMAGE-RECEIVING PROCESSOR, PROGRAM AND METHOD例文帳に追加
スキャン画像送信装置、プログラム、方法、画像受信処理装置、プログラム、方法 - 特許庁
IMAGE SCANNER, IMAGE SCANNING METHOD, AND PROGRAM FOR EXECUTING THE METHOD例文帳に追加
画像読取装置、画像読取方法及び該方法を実行するためのプログラム - 特許庁
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