「Scanning method」に関連した英語例文の一覧と使い方(17ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD OF SCANNING TYPE PROJECTION ALIGNER例文帳に追加

走査型投影露光方法及び走査型投影露光装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE OF ADAPTED INTERPOLATION TYPE REDUCED VIEW CT SCANNING例文帳に追加

適応補間式ビュー低減ＣＴスキャン方法及び装置 - 特許庁

SCANNING METHOD AND DEVICE FOR MEASURING OPTICAL DENSITY例文帳に追加

光学的な密度測定用の走査方法及び走査装置 - 特許庁

OPTICAL SCANNER, METHOD OF OPTICAL SCANNING, AND IMAGE FORMING DEVICE例文帳に追加

光走査装置・光走査方法および画像形成装置 - 特許庁

PAPER FEEDING DEVICE, IMAGE SCANNING DEVICE, PAPER FEEDING METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

給紙装置、画像読取装置、給紙方法、及びプログラム - 特許庁

OPTICAL SCANNING APPARATUS, CONTROL METHOD THEREOF, AND IMAGE FORMING APPARATUS例文帳に追加

光走査装置、その制御方法及び画像形成装置 - 特許庁

SCANNING PROJECTION ALIGNER, AND METHOD OF MANUFACTURING MICRO DEVICE例文帳に追加

走査型投影露光装置及びマイクロデバイスの製造方法 - 特許庁

SCANNING MECHANISM, METHOD OF MACHINING MATERIAL TO BE MACHINED AND MACHINING APPARATUS例文帳に追加

走査機構、被加工材の加工方法および加工装置 - 特許庁

IMAGE FORMING APPARATUS, SCANNING OPTICAL DEVICE, AND CONTROL METHOD THEREOF例文帳に追加

画像形成装置、走査光学装置及びその制御方法 - 特許庁

OPTICAL SCANNER AND SCANNING METHOD FOR VEHICULAR WHEEL例文帳に追加

車両用ホイールの光学的走査装置および走査方法 - 特許庁

IMAGE FORMING APPARATUS AND MAIN SCANNING SCALE FACTOR CORRECTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

画像形成装置およびその主走査倍率補正方法 - 特許庁

METHOD FOR READING TWO OR MORE BARCODES DURING SCANNING OPERATION例文帳に追加

走査動作中に複数のバーコードを読み取るための方法 - 特許庁

SCANNING METHOD 3 WEIGHT-ADDED RANDOM SCAN BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT例文帳に追加

スキャン方式３重み加重ランダムス・ビルトイン・セルフテスト回路 - 特許庁

OPTICAL SCANNING DEVICE, IMAGE FORMING DEVICE AND IMAGE FORMING METHOD例文帳に追加

光走査装置，画像形成装置及び画像形成方法 - 特許庁

MIRROR ADJUSTING MECHANISM, OPTICAL SCANNING UNIT, AND MIRROR ADJUSTING METHOD例文帳に追加

ミラー調整機構、光走査ユニット、及びミラー調整方法 - 特許庁

DOUBLE SIDE DOCUMENT SCANNING APPARATUS AND METHOD例文帳に追加

原稿両面読取装置および原稿両面読取方法 - 特許庁

MAGNETIC RESONANCE IMAGING APPARATUS AND SCANNING-CONDITION SETTING METHOD例文帳に追加

磁気共鳴イメージング装置および撮像条件設定方法 - 特許庁

PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD OF MANUFACTURING SAME例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用探針およびその製造方法。 - 特許庁

MICRO STATE OBSERVING METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

微細状態の観察方法及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

ILLUMINATION DEVICE, ILLUMINATION METHOD, AND SCANNING TYPE OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

照明装置、照明方法、及び走査型光学顕微鏡 - 特許庁

INSPECTING DEVICE AND METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡を用いた検査装置および検査方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS OF OBSERVING IMAGE IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡における像観察方法及び装置 - 特許庁

LINEWIDTH MEASUREMENT REGULATION METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

線幅測定調整方法及び走査型電子顕微鏡 - 特許庁

PROBE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND PROBE MICROSCOPE OF SCANNING TYPE例文帳に追加

プローブとその製造方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

AUTOMATIC FOCUSING METHOD IN SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡における自動焦点合わせ方法 - 特許庁

METHOD OF CORRECTING DEFECT OF PHOTOMASK AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

フォトマスクの欠陥修正方法及び走査プローブ顕微鏡 - 特許庁

ANISOTROPIC FRICTION DATA ACQUISITION METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の異方摩擦データ取得方法 - 特許庁

SCANNING IMAGE SIGNAL ACQUIRING METHOD AND SCAN TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査像信号取得方法および走査電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD USING SAME例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及びそれを用いる測定方法 - 特許庁

CANTILEVER FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用カンチレバーおよびその製造方法 - 特許庁

SCANNING LASER MICROSCOPE, ITS CONTROL METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

走査型レーザ顕微鏡、及びその制御方法、並びにプログラム - 特許庁

LASER SCANNING MICROSCOPE, CONTROL METHOD AND PROGRAM THEREOF例文帳に追加

レーザ走査顕微鏡及びその制御方法、並びにプログラム - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND EXCITATION METHOD FOR CANTILEVER ARRAY例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及びカンチレバーアレイの励振方法 - 特許庁

PRODUCING METHOD OF SILVER NANO-STRUCTURE BY SCANNING TUNNELING MICROSCOPE例文帳に追加

走査トンネル顕微鏡による銀ナノ構造の作製方法 - 特許庁

PROBE OF SCANNING TUNNELING MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査型トンネル顕微鏡の探針及びその製造方法 - 特許庁

NETWORK SCANNING METHOD AND APPARATUS, AND PACKET FORMAT例文帳に追加

ネットワークスキャニング方法，ネットワークスキャニング装置およびパケットフォーマット - 特許庁

PROBE FOR SCANNING TUNNELING MICROSCOPE AND METHOD OF FABRICATION例文帳に追加

走査型トンネル顕微鏡用探針およびその作製方法 - 特許庁

ELECTROSTATIC CAPACITY MEASURING METHOD BY SCANNING CAPACITIVE MICROSCOPE例文帳に追加

走査容量顕微鏡による静電容量測定方法 - 特許庁

SCANNING METHOD IN ELECTRON SOURCE DEVICE AND ELECTRON SOURCE DEVICE例文帳に追加

電子源装置におけるスキャン方法および電子源装置 - 特許庁

SENSOR FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査型探針顕微鏡用センサ及びその製造方法 - 特許庁

LASER SCANNING-TYPE FLUORESCENCE MICROSCOPE AND FLUORESCENCE OBSERVATION METHOD例文帳に追加

レーザ走査型蛍光顕微鏡および蛍光観察方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTING METHOD USING SCANNING CHARGED PARTICLE BEAM SYSTEM例文帳に追加

走査型荷電粒子ビーム装置を用いた欠陥検査方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR CORRECTING SCANNING ERROR IN FLATBED CANNER例文帳に追加

フラットベッドスキャナーにおけるスキャニングエラー補正方法及び装置 - 特許庁

SELF-SCANNING LIGHT-EMITTING DEVICE ARRAY CHIP AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

自己走査型発光素子アレイチップおよびその製造方法 - 特許庁

MOTOR CONTROLLER, DOCUMENT SCANNING DEVICE, AND MOTOR CONTROL METHOD例文帳に追加

モータ制御装置、原稿読取装置およびモータ制御方法 - 特許庁