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「Scanning method」に関連した英語例文の一覧と使い方(17ページ目) - Weblio英語例文検索


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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Scanning methodの意味・解説 > Scanning methodに関連した英語例文

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Scanning methodの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 3560



例文

TOUCH CIRCUIT OF CAPACITIVE TOUCH SENSOR AND SCANNING METHOD例文帳に追加

静電容量式タッチセンサーのタッチ回路及びスキャン方法 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR FACILITATING ERRORLESS SCANNING APPLICATION例文帳に追加

無過誤スキャン施術を容易にするための方法及びシステム - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR ENHANCED NANO-SPECTROSCOPIC SCANNING例文帳に追加

増強ナノ分光学的走査のための方法および装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR PROVIDING SCANNING PATTERN TO ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

電子デバイスにスキャンパターンを提供する方法および装置 - 特許庁

例文

OPTICAL SCANNER AND OPTICAL SCANNING METHOD FOR FORMING IMAGE例文帳に追加

画像形成用の光走査装置および光走査方法 - 特許庁


例文

VIRUS SCANNING METHOD AND COMPUTER SYSTEM USING THE SAME例文帳に追加

ウィルススキャン方法及びその方法を用いた計算機システム - 特許庁

METHOD FOR SCANNING IN PRINTER AND DEVICE FOR FETCHING IMAGE, OR LIKE例文帳に追加

印刷装置、画像取り込み装置等に於ける、走査方法 - 特許庁

MULTI-BEAM SOURCE SCANNER AND MULTI-BEAM SOURCE SCANNING METHOD例文帳に追加

マルチビーム光源走査装置およびマルチビーム光源走査方法 - 特許庁

MULTIBEAM SCANNER, MULTIBEAM SCANNING METHOD, AND IMAGE FORMING APPARATUS例文帳に追加

マルチビーム走査装置・マルチビーム走査方法・画像形成装置 - 特許庁

例文

MEASURING METHOD OF PHYSICAL PROPERTY VALUE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

物性値の測定方法および走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁

例文

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD USING IT例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及びこれを用いた観察方法 - 特許庁

CORRECTION METHOD OF MEASURED DATA IN SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡における測定データの補正方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MULTI-SLICE CT SCANNING FOR REGION OF INTEREST例文帳に追加

関心領域マルチ・スライスCT走査の方法及び装置 - 特許庁

DOT POSITION MEASURING APPARATUS AND METHOD OF SCANNING OPTICAL SYSTEM例文帳に追加

走査光学系のドット位置測定装置およびその方法 - 特許庁

DEVICE FOR SCANNING AND DETECTING TOUCH POINT OF TOUCH PANEL AND METHOD THEREOF例文帳に追加

タッチパネルの押圧ポイントの走査検出装置及びその方法 - 特許庁

METHOD OF DRIVING LAMP OF SCANNING BACKLIGHT FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE例文帳に追加

液晶表示装置のスキャニングバックライトのランプ駆動方法 - 特許庁

OPTICAL SCANNING APPARATUS, CONTROL METHOD THEREOF, AND IMAGE FORMING APPARATUS例文帳に追加

光走査装置、その制御方法及び画像形成装置 - 特許庁

ADAPTIVE MACROBLOCK SCANNING METHOD FOR VIDEO AND IMAGE COMPRESSION例文帳に追加

ビデオ及び画像圧縮のための適応マクロブロックスキャン方法 - 特許庁

METHOD OF MODIFYING NANOTUBE AND PROBE FOR SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

ナノチューブの改質方法及び走査型顕微鏡用プローブ - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND ELECTRON BEAM AXIS ALIGNING METHOD例文帳に追加

走査電子顕微鏡および電子ビームの軸合わせ方法 - 特許庁

ILLUMINATION DEVICE, ILLUMINATION METHOD, AND SCANNING TYPE OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

照明装置、照明方法、及び走査型光学顕微鏡 - 特許庁

DETECTION METHOD OF IMAGE INTEGRATION TIMES OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡の画像積算回数検出方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SURFACE INFORMATION MEASURING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及び表面情報測定方法 - 特許庁

INSPECTING DEVICE AND METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡を用いた検査装置および検査方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS OF OBSERVING IMAGE IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡における像観察方法及び装置 - 特許庁

PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD OF MANUFACTURING SAME例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用探針およびその製造方法。 - 特許庁

MICRO STATE OBSERVING METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

微細状態の観察方法及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

LINEWIDTH MEASUREMENT REGULATION METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

線幅測定調整方法及び走査型電子顕微鏡 - 特許庁

PROBE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND PROBE MICROSCOPE OF SCANNING TYPE例文帳に追加

プローブとその製造方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

AUTOMATIC FOCUSING METHOD IN SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡における自動焦点合わせ方法 - 特許庁

METHOD OF CORRECTING DEFECT OF PHOTOMASK AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

フォトマスクの欠陥修正方法及び走査プローブ顕微鏡 - 特許庁

ANISOTROPIC FRICTION DATA ACQUISITION METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の異方摩擦データ取得方法 - 特許庁

PROBE FOR SCANNING TUNNELING MICROSCOPE AND METHOD OF FABRICATION例文帳に追加

走査型トンネル顕微鏡用探針およびその作製方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD USING SAME例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及びそれを用いる測定方法 - 特許庁

CANTILEVER FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用カンチレバーおよびその製造方法 - 特許庁

SCANNING IMAGE SIGNAL ACQUIRING METHOD AND SCAN TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査像信号取得方法および走査電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING LASER MICROSCOPE, ITS CONTROL METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

走査型レーザ顕微鏡、及びその制御方法、並びにプログラム - 特許庁

LASER SCANNING MICROSCOPE, CONTROL METHOD AND PROGRAM THEREOF例文帳に追加

レーザ走査顕微鏡及びその制御方法、並びにプログラム - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND EXCITATION METHOD FOR CANTILEVER ARRAY例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及びカンチレバーアレイの励振方法 - 特許庁

PRODUCING METHOD OF SILVER NANO-STRUCTURE BY SCANNING TUNNELING MICROSCOPE例文帳に追加

走査トンネル顕微鏡による銀ナノ構造の作製方法 - 特許庁

ELECTROSTATIC CAPACITY MEASURING METHOD BY SCANNING CAPACITIVE MICROSCOPE例文帳に追加

走査容量顕微鏡による静電容量測定方法 - 特許庁

SCANNING METHOD IN ELECTRON SOURCE DEVICE AND ELECTRON SOURCE DEVICE例文帳に追加

電子源装置におけるスキャン方法および電子源装置 - 特許庁

SENSOR FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査型探針顕微鏡用センサ及びその製造方法 - 特許庁

PROBE OF SCANNING TUNNELING MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査型トンネル顕微鏡の探針及びその製造方法 - 特許庁

NETWORK SCANNING METHOD AND APPARATUS, AND PACKET FORMAT例文帳に追加

ネットワークスキャニング方法,ネットワークスキャニング装置およびパケットフォーマット - 特許庁

LASER SCANNING-TYPE FLUORESCENCE MICROSCOPE AND FLUORESCENCE OBSERVATION METHOD例文帳に追加

レーザ走査型蛍光顕微鏡および蛍光観察方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTING METHOD USING SCANNING CHARGED PARTICLE BEAM SYSTEM例文帳に追加

走査型荷電粒子ビーム装置を用いた欠陥検査方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR CORRECTING SCANNING ERROR IN FLATBED CANNER例文帳に追加

フラットベッドスキャナーにおけるスキャニングエラー補正方法及び装置 - 特許庁

SELF-SCANNING LIGHT-EMITTING DEVICE ARRAY CHIP AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

自己走査型発光素子アレイチップおよびその製造方法 - 特許庁

例文

MOTOR CONTROLLER, DOCUMENT SCANNING DEVICE, AND MOTOR CONTROL METHOD例文帳に追加

モータ制御装置、原稿読取装置およびモータ制御方法 - 特許庁




  
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