「Scanning method」に関連した英語例文の一覧と使い方(14ページ目) - Weblio英語例文検索

BAR CODE SCANNER AND IMAGE BASED BAR CODE SCANNING METHOD例文帳に追加

バーコード・スキャナ及び画像ベースのバーコードの走査方法 - 特許庁

SCANNING CHARGED-PARTICLE MICROSCOPE AND SPECIMEN OBSERVATION METHOD例文帳に追加

走査型荷電粒子顕微鏡及び試料観察方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR OPTICAL SCANNING, AND IMAGE FORMING DEVICE例文帳に追加

光走査方法および装置および画像形成装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR OPTICAL SCANNING AND IMAGE FORMING DEVICE例文帳に追加

光走査方法および装置および画像形成装置 - 特許庁

SCANNING TYPE DEVICE AND METHOD FOR DETECTING PARTICLE例文帳に追加

走査型粒子検出装置及び粒子検出方法 - 特許庁

IMAGE FORMING APPARATUS AND METHOD FOR CONTROLLING SCANNING LENGTH THEREOF例文帳に追加

画像形成装置およびその走査長制御方法 - 特許庁

SCANNING OPTICAL APPARATUS, IMAGE FORMING APPARATUS AND CONTROL METHOD例文帳に追加

走査光学装置、画像形成装置及び制御方法 - 特許庁

SCANNING TYPE EXPOSURE APPARATUS, METHOD FOR MANUFACTURING DEVICE AND MASK例文帳に追加

走査型露光装置、デバイスの製造方法及びマスク - 特許庁

OPTICAL SCANNER, ITS SCANNING METHOD, DISPLAY AND LASER PRINTER例文帳に追加

光走査装置、その走査方法、表示装置、レーザプリンタ - 特許庁

POSITIONING METHOD OF MEASURING POSITION OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の測定位置の位置決め方法 - 特許庁

IMAGE FORMING APPARATUS AND LASER SCANNING CONTROL METHOD THEREFOR例文帳に追加

画像形成装置およびそのレーザ走査制御方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD USING THE SAME例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡およびこれを用いた測定方法 - 特許庁

IMAGE SCANNING AND PROCESSING SYSTEM, METHOD OF SCANNING AND PROCESSING IMAGE AND METHOD OF SELECTING MASTER FILE COMPRISING DATA ENCODING SCANNED IMAGE例文帳に追加

画像走査処理システム、画像走査処理方法、及び走査画像符号化データからなるマスタファイルの選択方法 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR ADJUSTING ITS AXIS例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡及びその軸調整方法 - 特許庁

SAMPLE BASE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND OBSERVING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の試料台及び観察方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING BY SCANNING ELECTROSTATIC CAPACITY MICROSCOPE例文帳に追加

走査型静電容量顕微鏡による測定方法 - 特許庁

OPTICAL SCANNER AND ADJUSTMENT METHOD OF LIGHT BEAM SCANNING POSITION例文帳に追加

光走査装置及び光ビーム走査位置調整方法 - 特許庁

IMAGE SENSOR, ITS DRIVE METHOD AND SCANNING DRIVER例文帳に追加

画像センサおよびその駆動方法、並びに走査駆動器 - 特許庁

SCANNING OPTICAL DEVICE AND ITS MANUFACTURE METHOD例文帳に追加

走査光学装置および走査光学装置の製造方法 - 特許庁

SCANNING OPTICAL DEVICE AND METHOD FOR ASSEMBLING DEFLECTION MEANS例文帳に追加

走査光学装置及び偏向手段の組み付け方法 - 特許庁

ELECTRON BEAM SCANNING METHOD IN TFT (THIN FILM TRANSISTOR) ARRAY INSPECTION例文帳に追加

ＴＦＴアレイ検査における電子線走査方法 - 特許庁

SCANNING METHOD, VIDEO PROJECTION DEVICE AND IMAGE ACQUISITION DEVICE例文帳に追加

走査方法、映像投影装置および画像取得装置 - 特許庁

TECHNOLOGY OF SETTING SCANNING METHOD IN MONOTONE PRINTING AND COLOR PRINTING例文帳に追加

モノトーン印刷とカラー印刷の走査方法の設定 - 特許庁

FOCUS POINT DETECTION MARK AND SCANNING TYPE EXPOSURE METHOD例文帳に追加

焦点位置検出マークおよび走査型露光方法 - 特許庁

SCANNING METHOD AND RADIATION IMAGE INFORMATION PHOTOGRAPHIC APPARATUS例文帳に追加

走査方法及び放射線画像情報撮影装置 - 特許庁

NANOTUBE CUTTING METHOD AND PROBE FOR SCANNING TYPE MICROSCOPE例文帳に追加

ナノチューブ切断方法及び走査型顕微鏡用プローブ - 特許庁

PROXIMITY SCANNING EXPOSURE APPARATUS AND ITS ILLUMINANCE CONTROL METHOD例文帳に追加

近接スキャン露光装置及びその照度制御方法 - 特許庁

ELECTRON BEAM ADJUSTMENT METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子ビーム調整方法、及び走査型電子顕微鏡 - 特許庁

METHOD FOR IRRADIATING ELECTRON BEAM AND ELECTRON SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

電子ビームの照射方法及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

FOREIGN SUBSTANCE REMOVAL METHOD USING SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡を用いた異物除去方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE/PROBE REPLACING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡および試料・プローブ交換方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING PATTERN USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いたパターン計測方法 - 特許庁

MEASUREMENT PARAMETER SETTING METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の測定パラメータ設定方法 - 特許庁

CIRCUIT AND METHOD FOR DRIVING SCANNING ELECTRODE OF LIQUID CRYSTAL PANEL例文帳に追加

液晶パネルの走査電極駆動回路と駆動方法 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR ENTERING BOUNDARY SCANNING TEST MODE例文帳に追加

集積回路及び境界走査テストモードに入る方法 - 特許庁

SURFACE SHAPE DATA CORRECTION METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡の表面形状データ補正方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD OF POSITIONING PROBE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡および探針の位置決め方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR CLEANING THE SAME例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡及びそのプローブの洗浄方法 - 特許庁

LASER SCANNING TYPE MICROSCOPE AND MICROSCOPIC OBSERVATION METHOD例文帳に追加

レーザ走査型顕微鏡および顕微鏡観察方法 - 特許庁

SCANNING LASER MICROSCOPE AND IMAGE ACQUIRING METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

走査型レーザー顕微鏡及びその画像取得方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS FOCUS DETECTION METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及びその焦点検出方法 - 特許庁

SAMPLE DIMENSION LENGTH MEASURING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料寸法測長方法及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

SAMPLE ANALYSIS METHOD USING SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡を用いた試料解析方法 - 特許庁

SAMPLE STATIC CHARGE CONTROL METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料帯電制御方法、及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND EVALUATION METHOD OF ITS PROBE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡およびその探針評価方法 - 特許庁