「Scanning method」に関連した英語例文の一覧と使い方(19ページ目) - Weblio英語例文検索

IMAGE DISPLAY DEVICE, DRIVING METHOD THEREOF, AND SCANNING LINE DRIVING CIRCUIT例文帳に追加

画像表示装置及びその駆動方法と走査線駆動回路 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR SPEED-NORMALIZED LOCATION-BASE SCANNING例文帳に追加

速度正規化した位置ベースの走査のための方法およびシステム - 特許庁

POLISHING METHOD, DIE OR OPTICAL ELEMENT OR OPTICAL SCANNING UNIT例文帳に追加

研磨方法、金型または光学素子あるいは走査光学ユニット - 特許庁

OPTICAL RETICLE SUBSTRATE INSPECTION APPARATUS AND BEAM SCANNING METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

光学式レチクル基板検査装置及びそのビーム走査方法 - 特許庁

IMAGE FORMING APPARATUS, SCANNING OPTICAL APPARATUS, AND CONTROL METHOD THEREFOR例文帳に追加

画像形成装置、走査光学装置、及びそれらの制御方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD USING IT例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡および該顕微鏡による測定方法 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR SCANNING IMAGE VIA INTERNET RECEIVER例文帳に追加

インターネット受信機を介して画像を走査する方法およびシステム - 特許庁

CONFOCAL SCANNING TYPE MICROSCOPE AND IMAGE INFORMATION CONSTRUCTING METHOD例文帳に追加

共焦点走査型顕微鏡および画像情報構築方法 - 特許庁

SCANNING SIGNAL LINE DRIVING CIRCUIT, DISPLAY DEVICE, AND ITS DRIVING METHOD例文帳に追加

走査信号線駆動回路、表示装置、およびその駆動方法 - 特許庁

SAMPLE INFORMATION MEASURING METHOD AND SCANNING TYPE CONFOCAL MICROSCOPE例文帳に追加

試料情報測定方法および走査型共焦点顕微鏡 - 特許庁

DATA LINE DRIVE CIRCUIT, SCANNING LINE DRIVE CIRCUIT, DISPLAY APPARATUS, ELECTRONIC EQUIPMENT, DATA LINE DRIVE METHOD, SCANNING LINE DRIVE METHOD, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

データ線駆動回路、走査線駆動回路、表示装置、電子機器、データ線駆動方法、走査線駆動方法及びコンピュータプログラム - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR SCANNING COMPUTER TOMOGRAPHY例文帳に追加

コンピュータ断層撮影走査を実行するための方法及び装置 - 特許庁

LASER SCANNING MICROSCOPE AND SENSITIVITY SETTING METHOD FOR PHOTODETECTOR例文帳に追加

レーザ走査顕微鏡および光検出器の感度設定方法 - 特許庁

MULTIBEAM SCANNER, MULTIBEAM SCANNING METHOD AND IMAGE FORMING DEVICE例文帳に追加

マルチビ—ム走査装置・マルチビ—ム走査方法および画像形成装置 - 特許庁

LIGHT BEAM SCANNER, PICTURE DISPLAY DEVICE AND LIGHT BEAM SCANNING METHOD例文帳に追加

光線走査装置、画像表示装置及び光線走査方法 - 特許庁

MULTIBEAM CYLINDER INNER FACE SCANNING EXPOSURE DEVICE AND EXPOSURE METHOD THEREOF例文帳に追加

マルチビーム円筒内面走査型露光装置及び露光方法 - 特許庁

MULTIBEAM OPTICAL SCANNING METHOD AND OPTICAL SCANNER USING THE SAME例文帳に追加

マルチビーム光走査方法及びそれを用いた光走査装置 - 特許庁

PARTIAL EXTENDED SCANNING METHOD REDUCING QUANTITY OF DELAY TEST PATTERN例文帳に追加

遅延テストパターンの量を削減する部分的拡張スキャン方法 - 特許庁

IMAGE OUTPUT APPARATUS AND METHOD FOR SETTING VERTICAL SCANNING PERIOD THEREOF例文帳に追加

画像出力装置及びその副走査周期設定方法 - 特許庁

ELECTRONIC SCANNING TYPE ULTRASONIC OBJECT DETECTION DEVICE AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

電子走査式超音波物体検出装置及びその方法 - 特許庁

PRESSURIZING AND INFILTRATING METHOD FOR SCANNING AND INSPECTING FLAW AND PRESSURIZING AND INFILTRATING APPARATUS例文帳に追加

加圧式浸透探傷検査方法及び加圧式浸透装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SCANNING PROJECTION ALIGNMENT, AND MANUFACTURE OF DEVICE例文帳に追加

走査露光方法、走査型露光装置、及びデバイス製造方法 - 特許庁

BEAM-INSPECTING DEVICE AND BEAM ADJUSTMENT METHOD FOR LIGHT-SCANNING UNIT例文帳に追加

光走査ユニットのビーム検査装置およびビーム調整方法 - 特許庁

MULTIBEAM SCANNER, MULTIBEAM SCANNING METHOD, RECORDING MEDIUM, AND PROGRAM例文帳に追加

マルチビーム走査装置、マルチビーム走査方法、記録媒体及びプログラム - 特許庁

SCANNING EXPOSURE METHOD AND MANUFACTURE OF DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

走査露光方法及び該方法を用いるデバイス製造方法 - 特許庁

PICTURE DISPLAY DEVICE, PIXEL DRIVING METHOD, AND SCANNING LINE DRIVING CIRCUIT例文帳に追加

画像表示装置、画素駆動方法、および走査線駆動回路 - 特許庁

METHOD FOR AUTOMATICALLY APPLYING CORRECTION SUCH AS CROPPING TO SCANNING IMAGE例文帳に追加

走査画像にクロッピング等の修正を自動的に行う方法 - 特許庁

OPTICAL SCANNING TYPE IMAGE DISPLAY DEVICE AND ITS IMAGE DISPLAY METHOD例文帳に追加

光走査型画像表示装置及びその画像表示方法 - 特許庁

SCANNING LASER MICROSCOPE, AND DETECTION WAVELENGTH RANGE SETTING METHOD例文帳に追加

走査型レーザ顕微鏡および検出波長範囲設定方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE, AND ITS FOCUSING METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡装置およびその焦点あわせ方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM AND METHOD OF MANUFACTURING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

走査電子顕微鏡システムおよび集積回路の製造方法 - 特許庁

SUBSTRATE SUPPORT DEVICE, SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE, AND METHOD SUPPORT SUBSTRATE例文帳に追加

基板支持装置、走査型電子顕微鏡、及び基板支持方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVATION METHOD USING SAME例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡およびこれを用いた試料の観察方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVATION METHOD USING IT例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡およびこれを用いた試料観察方法 - 特許庁

METHOD OF OBSERVING SAMPLE IN LIQUID USING SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡を用いた液中試料観察方法 - 特許庁

EVALUATION METHOD AND EVALUATION DEVICE OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡装置の評価方法及び評価装置 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND CONTROL METHOD OF THE SAME例文帳に追加

走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡の制御方法 - 特許庁

ALIGNMENT METHOD FOR MEASUREMENT, CANTILEVER AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

測定位置合わせ方法、カンチレバ及び走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING TYPE CONFOCAL MICROSCOPE AND ITS OPTICAL AXIS CHECKING METHOD例文帳に追加

走査型共焦点顕微鏡およびその光軸チェック方法 - 特許庁

PROBE CONTROL DEVICE AND METHOD OF SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の探針制御の装置および方法 - 特許庁

APPROACH METHOD FOR PROBE AND SAMPLE IN SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡における探針とサンプルの近接方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR MEASURING LEAKAGE PHYSICAL QUANTITY例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡および漏洩物理量の計測方法 - 特許庁

SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE, AND PREPARATORY OPERATION METHOD FOR PIEZOELECTRIC ELEMENT例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及び圧電素子の準備動作方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE, AND IMAGING METHOD USING IT例文帳に追加

走査型電子顕微鏡装置およびそれを用いた撮像方法 - 特許庁

SCANNING TYPE LASER MICROSCOPE, ITS ADJUSTMENT METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

走査型レーザ顕微鏡及びその調整方法、並びにプログラム - 特許庁