| 意味 | 例文 |
Scanning methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 3560件
IMAGE FORMING APPARATUS, SCANNING OPTICAL APPARATUS, AND CONTROL METHOD THEREFOR例文帳に追加
画像形成装置、走査光学装置、及びそれらの制御方法 - 特許庁
SCANNING EXPOSURE METHOD AND MANUFACTURE OF DEVICE USING THE SAME例文帳に追加
走査露光方法及び該方法を用いるデバイス製造方法 - 特許庁
MULTIBEAM SCANNER, MULTIBEAM SCANNING METHOD, RECORDING MEDIUM, AND PROGRAM例文帳に追加
マルチビーム走査装置、マルチビーム走査方法、記録媒体及びプログラム - 特許庁
SUBSTRATE SUPPORT DEVICE, SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE, AND METHOD SUPPORT SUBSTRATE例文帳に追加
基板支持装置、走査型電子顕微鏡、及び基板支持方法 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVATION METHOD USING SAME例文帳に追加
走査プローブ顕微鏡およびこれを用いた試料の観察方法 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVATION METHOD USING IT例文帳に追加
走査プローブ顕微鏡およびこれを用いた試料観察方法 - 特許庁
METHOD AND SYSTEM FOR SCANNING IMAGE VIA INTERNET RECEIVER例文帳に追加
インターネット受信機を介して画像を走査する方法およびシステム - 特許庁
CONFOCAL SCANNING TYPE MICROSCOPE AND IMAGE INFORMATION CONSTRUCTING METHOD例文帳に追加
共焦点走査型顕微鏡および画像情報構築方法 - 特許庁
SCANNING SIGNAL LINE DRIVING CIRCUIT, DISPLAY DEVICE, AND ITS DRIVING METHOD例文帳に追加
走査信号線駆動回路、表示装置、およびその駆動方法 - 特許庁
SAMPLE INFORMATION MEASURING METHOD AND SCANNING TYPE CONFOCAL MICROSCOPE例文帳に追加
試料情報測定方法および走査型共焦点顕微鏡 - 特許庁
DATA LINE DRIVE CIRCUIT, SCANNING LINE DRIVE CIRCUIT, DISPLAY APPARATUS, ELECTRONIC EQUIPMENT, DATA LINE DRIVE METHOD, SCANNING LINE DRIVE METHOD, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加
データ線駆動回路、走査線駆動回路、表示装置、電子機器、データ線駆動方法、走査線駆動方法及びコンピュータプログラム - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR SCANNING COMPUTER TOMOGRAPHY例文帳に追加
コンピュータ断層撮影走査を実行するための方法及び装置 - 特許庁
LASER SCANNING MICROSCOPE AND SENSITIVITY SETTING METHOD FOR PHOTODETECTOR例文帳に追加
レーザ走査顕微鏡および光検出器の感度設定方法 - 特許庁
PICTURE DISPLAY DEVICE, PIXEL DRIVING METHOD, AND SCANNING LINE DRIVING CIRCUIT例文帳に追加
画像表示装置、画素駆動方法、および走査線駆動回路 - 特許庁
SCANNING LASER MICROSCOPE, AND DETECTION WAVELENGTH RANGE SETTING METHOD例文帳に追加
走査型レーザ顕微鏡および検出波長範囲設定方法 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE, AND ITS FOCUSING METHOD例文帳に追加
走査型電子顕微鏡装置およびその焦点あわせ方法 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM AND METHOD OF MANUFACTURING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
走査電子顕微鏡システムおよび集積回路の製造方法 - 特許庁
METHOD FOR AUTOMATICALLY APPLYING CORRECTION SUCH AS CROPPING TO SCANNING IMAGE例文帳に追加
走査画像にクロッピング等の修正を自動的に行う方法 - 特許庁
OPTICAL SCANNING TYPE IMAGE DISPLAY DEVICE AND ITS IMAGE DISPLAY METHOD例文帳に追加
光走査型画像表示装置及びその画像表示方法 - 特許庁
MULTIBEAM SCANNER, MULTIBEAM SCANNING METHOD AND IMAGE FORMING DEVICE例文帳に追加
マルチビ—ム走査装置・マルチビ—ム走査方法および画像形成装置 - 特許庁
SCANNING ALIGNER AND MANUFACTURING METHOD OF ELEMENT USING THE ALIGNER例文帳に追加
走査型露光装置、及び該装置を用いる素子製造方法 - 特許庁
OPTICAL SCANNER, IMAGE FORMING APPARATUS AND METHOD OF CORRECTING SCANNING LINE VARIATION例文帳に追加
光走査装置・画像形成装置・走査線変化補正方法 - 特許庁
IMAGE FORMING APPARATUS AND METHOD FOR REGULATING POSITION OF LIGHT SCANNING DEVICE例文帳に追加
画像形成装置および光走査装置の位置調整方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR SCANNING DATA STORED ON RECORDING MEDIUM例文帳に追加
記録媒体に保存されたデータをスキャニングする方法及び装置 - 特許庁
METHOD OF DETERMINING APPLICATION RANGE FOR PLANAR SCANNING NEAR-FIELD ANTENNA MEASUREMENT例文帳に追加
平面走査近傍界アンテナ測定の適用範囲判定法 - 特許庁
SYSTEM AND METHOD OF IMAGE RESTORATION ADOPTING LINEAR TRACK SCANNING例文帳に追加
直線軌跡走査を採用した画像復元システム及び方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING SCANNING OPTICAL UNIT例文帳に追加
走査光学ユニット検査方法および走査光学ユニット検査装置 - 特許庁
METHOD AND SYSTEM FOR SPEED-NORMALIZED LOCATION-BASE SCANNING例文帳に追加
速度正規化した位置ベースの走査のための方法およびシステム - 特許庁
IMAGE DISPLAY DEVICE, DRIVING METHOD THEREOF, AND SCANNING LINE DRIVING CIRCUIT例文帳に追加
画像表示装置及びその駆動方法と走査線駆動回路 - 特許庁
PRESSURIZING AND INFILTRATING METHOD FOR SCANNING AND INSPECTING FLAW AND PRESSURIZING AND INFILTRATING APPARATUS例文帳に追加
加圧式浸透探傷検査方法及び加圧式浸透装置 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR SCANNING PROJECTION ALIGNMENT, AND MANUFACTURE OF DEVICE例文帳に追加
走査露光方法、走査型露光装置、及びデバイス製造方法 - 特許庁
LIGHT BEAM SCANNER, PICTURE DISPLAY DEVICE AND LIGHT BEAM SCANNING METHOD例文帳に追加
光線走査装置、画像表示装置及び光線走査方法 - 特許庁
MULTIBEAM CYLINDER INNER FACE SCANNING EXPOSURE DEVICE AND EXPOSURE METHOD THEREOF例文帳に追加
マルチビーム円筒内面走査型露光装置及び露光方法 - 特許庁
MULTIBEAM OPTICAL SCANNING METHOD AND OPTICAL SCANNER USING THE SAME例文帳に追加
マルチビーム光走査方法及びそれを用いた光走査装置 - 特許庁
PARTIAL EXTENDED SCANNING METHOD REDUCING QUANTITY OF DELAY TEST PATTERN例文帳に追加
遅延テストパターンの量を削減する部分的拡張スキャン方法 - 特許庁
BEAM CONTROLLER, PHASED ARRAY RADAR AND METHOD FOR SCANNING THE BEAM例文帳に追加
ビーム制御器及びフェーズドアレーレーダ、並びにそのビーム走査方法 - 特許庁
COLOR IMAGE SCANNER, COMMUNICATION DEVICE AND METHOD FOR SCANNING COLOR IMAGE例文帳に追加
カラー画像読取装置、通信装置及びカラー画像読取方法 - 特許庁
APPROACH METHOD FOR PROBE AND SAMPLE IN SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡における探針とサンプルの近接方法 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND CONTROL METHOD OF THE SAME例文帳に追加
走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡の制御方法 - 特許庁
ALIGNMENT METHOD FOR MEASUREMENT, CANTILEVER AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
測定位置合わせ方法、カンチレバ及び走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁
SCANNING TYPE CONFOCAL MICROSCOPE AND ITS OPTICAL AXIS CHECKING METHOD例文帳に追加
走査型共焦点顕微鏡およびその光軸チェック方法 - 特許庁
PROBE CONTROL DEVICE AND METHOD OF SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡の探針制御の装置および方法 - 特許庁
METHOD OF OBSERVING SAMPLE IN LIQUID USING SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡を用いた液中試料観察方法 - 特許庁
EVALUATION METHOD AND EVALUATION DEVICE OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加
走査型電子顕微鏡装置の評価方法及び評価装置 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR MEASURING LEAKAGE PHYSICAL QUANTITY例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡および漏洩物理量の計測方法 - 特許庁
SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE, AND PREPARATORY OPERATION METHOD FOR PIEZOELECTRIC ELEMENT例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡及び圧電素子の準備動作方法 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE, AND IMAGING METHOD USING IT例文帳に追加
走査型電子顕微鏡装置およびそれを用いた撮像方法 - 特許庁
SCANNING TYPE LASER MICROSCOPE, ITS ADJUSTMENT METHOD AND PROGRAM例文帳に追加
走査型レーザ顕微鏡及びその調整方法、並びにプログラム - 特許庁
| 意味 | 例文 |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|