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Sims’ positionの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1件
To provide a secondary ion mass spectrometry capable of specifying the position of a compound film/substrate interface by measuring the concentration and the distribution of a trace element highly sensitively and highly quantitatively, and specifying the position of a compound film/substrate interface, concerning material having information of an elemental composition of the polar surface of a sample and an interface such as the compound film/substrate or the like.例文帳に追加
本発明は、試料の極表面の元素組成の情報や化合物膜/基板のような界面を有する材料において、微量元素の濃度および分布を高感度でかつ高定量的に測定し、化合物膜/基板界面の位置を特定することが可能である二次イオン質量分析(SIMS)法を提供する。 - 特許庁
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