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Test Card Fの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 2件
The test head 40 includes: a test head body 50 having a frame 51; an interface device 60 electrically connecting the probe card 20 and test head body 50 to each other; and a brake unit 80 interposed between the probe card 20 and frame 51, and transmitting pressure F, applied to the probe card 20, to the frame 51.例文帳に追加
テストヘッド40は、フレーム51を有するテストヘッド本体50と、プローブカード20とテストヘッド本体50とを電気的に接続するインタフェース装置60と、プローブカード20とフレーム51の間に介在して、プローブカード20に印加される押圧力Fをフレーム51に伝達するブレーキユニット80と、を備えている。 - 特許庁
Thus, it is not required to build in a test program as an F/W in a DSP (CPU) in the card 101 to be collected without the need for using a test device such as a logic analyzer so as to simply collect the digital signal.例文帳に追加
こうすることにより、ロジックアナライザ等試験機器を使用することなく、また被試収集カード101内におけるDSP(CPU)内に予めF/Wとして試験用プログラムを内蔵しておく必要がなくなり、簡単にディジタル信号の収集が可能となる。 - 特許庁
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