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「Test method」に関連した英語例文の一覧と使い方(14ページ目) - Weblio英語例文検索


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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Test methodの意味・解説 > Test methodに関連した英語例文

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Test methodの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 8057



例文

DATA WRITE-IN DEVICE, DATA WRITE-IN METHOD, TEST DEVICE, AND TEST METHOD例文帳に追加

データ書込装置、データ書込方法、試験装置、及び試験方法 - 特許庁

MEMORY MODULE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

メモリモジュール及びそのテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体装置及びテスト方法 - 特許庁

TEST-PATTERN GENERATION METHOD AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテストパターン生成方法及びテスト方法 - 特許庁

例文

SELECTION METHOD OF VIDEO TEST SIGNAL例文帳に追加

ビデオ・テスト信号の選択方法 - 特許庁


例文

DURABILITY TEST METHOD OF TIRE DRUM例文帳に追加

タイヤのドラム耐久試験方法 - 特許庁

GATEWAY UNIT AND TEST METHOD例文帳に追加

ゲートウエイ装置および試験方法 - 特許庁

ACOUSTIC TEST METHOD AND DEVICE例文帳に追加

音響検査方法および装置 - 特許庁

TENSILE TEST METHOD AND DEVICE例文帳に追加

引張り試験方法および装置 - 特許庁

例文

QUALITY ASSESSMENT METHOD FOR TEST PATTERN例文帳に追加

テストパターンの品質評価方法 - 特許庁

例文

LSI TEST METHOD AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

LSIテスト方法および装置 - 特許庁

FRICTION TESTER, FRICTION TEST METHOD, AND EVALUATION METHOD OF FRICTION TEST例文帳に追加

摩擦試験機、摩擦試験方法及び摩擦試験の評価方法 - 特許庁

INSPECTING METHOD OF SEMICONDUCTOR TEST SAMPLE例文帳に追加

半導体試料の検査方法 - 特許庁

HAMMERING TEST METHOD USING LINER PREDICTION COEFFICIENT METHOD AND HAMMERING TEST DEVICE例文帳に追加

線形予測係数法を用いた打検方法および打検装置 - 特許庁

ELECTRON BEAM TESTER AND TEST METHOD例文帳に追加

電子ビームテスタ及び試験方法 - 特許庁

CLOCK DISTRIBUTING CIRCUIT, AND TEST METHOD例文帳に追加

クロック分配回路とテスト方法 - 特許庁

FATIGUE TEST METHOD IN HYDROGEN GAS例文帳に追加

水素ガス中疲労試験方法 - 特許庁

a method of a diagnosis, called association test 例文帳に追加

連想検査という診断法 - EDR日英対訳辞書

LEG DROP TEST METHOD AND DEVICE例文帳に追加

脚落下試験方法及び装置 - 特許庁

PARALLEL BIT TEST DEVICE AND METHOD例文帳に追加

並列ビットテスト装置及び方法。 - 特許庁

TEST METHOD FOR PRESS HOT PLATEN PRECISION例文帳に追加

プレス熱板精度の検査方法 - 特許庁

ADAPTIVE TEST SYSTEM AND ITS METHOD例文帳に追加

適応型テストシステムとその方法 - 特許庁

TEST DATA GENERATION DEVICE AND METHOD例文帳に追加

テストデータ生成装置及び方法 - 特許庁

MEMORY TEST CIRCUIT AND METHOD例文帳に追加

メモリテスト回路及びメモリテスト方法 - 特許庁

WAFER AND ITS TEMPERATURE TEST METHOD例文帳に追加

ウエハ及びその温度試験方法 - 特許庁

TEST METHOD FOR THYRISTOR STARTING DEVICE例文帳に追加

サイリスタ起動装置の試験方法 - 特許庁

MEMORY CIRCUIT AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

メモリ回路及びその試験方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR MEMORY TEST例文帳に追加

メモリテストシステム及びメモリテスト方法 - 特許庁

TEST DATA GENERATION METHOD AND SYSTEM例文帳に追加

テストデータ生成方法及びシステム - 特許庁

CANCER EXAMINATION TEST DRUG AND TESTING METHOD例文帳に追加

ガン検査薬および検査方法 - 特許庁

DELAY LINE TEST METHOD AND CIRCUIT例文帳に追加

遅延ラインテスト方法および回路 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体装置およびテスト方法 - 特許庁

TEST METHOD AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

テスト方法および半導体装置 - 特許庁

IC CHIP AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

ICチップ及びその試験方法 - 特許庁

MICROCOMPUTER AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

マイクロコンピュータ及びそのテスト方法 - 特許庁

TEST CIRCUIT AND CIRCUIT TESTING METHOD例文帳に追加

テスト回路及び回路テスト方法 - 特許庁

PROBE TEST DEVICE AND ITS METHOD例文帳に追加

プローブテスト装置およびその方法 - 特許庁

ENERGIZATION TEST METHOD OF ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加

電子部品の通電検査方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR WIND TUNNEL TEST例文帳に追加

風洞実験装置及び方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体装置及び試験方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR MATERIAL TEST例文帳に追加

材料試験装置および方法 - 特許庁

WEATHER RESISTANCE TEST METHOD OF PAINTING MATERIAL例文帳に追加

塗装材の耐候性試験方法 - 特許庁

TEST BENCH SYSTEM AND VERIFICATION METHOD例文帳に追加

テストベンチシステム及び検証方法 - 特許庁

METHOD FOR SETTING OF TIRE TEST CONDITION例文帳に追加

タイヤ試験条件設定方法 - 特許庁

RE-TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体デバイスの再テスト方法 - 特許庁

TEST METHOD OF MASS FLOWMETER例文帳に追加

質量流量計のテスト方法 - 特許庁

TEST PIECE, AND FILM SEPARATION METHOD例文帳に追加

テストピースおよび皮膜分離方法 - 特許庁

COMMUNICATION LINE TEST AND DIAGNOSTIC METHOD例文帳に追加

通信回線試験診断方法 - 特許庁

LEAK DETECTOR AND LEAKAGE TEST METHOD例文帳に追加

リークディテクタ及び漏れ試験方法 - 特許庁

例文

EXCITATION DEVICE AND EXCITATION TEST METHOD例文帳に追加

加振装置及び加振試験方法 - 特許庁




  
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