「Test method」に関連した英語例文の一覧と使い方(17ページ目) - Weblio英語例文検索

TEST METHOD AND TEST REAGENT FOR CANCER INVASION AND METASTASIS例文帳に追加

癌の浸潤と転移の検査方法及び検査用試薬 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST MODULE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体試験モジュールおよび半導体装置の試験方法。 - 特許庁

TEST METHOD AND TEST BOARD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置のテスト方法およびテストボード - 特許庁

TEST METHOD OF LOGICAL CIRCUIT AND TEST DEVICE OF LOGICAL CIRCUIT例文帳に追加

論理回路のテスト方法および論理回路のテスト装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY, ITS TEST METHOD, AND TEST CIRCUIT例文帳に追加

半導体記憶装置およびそのテスト方法並びにテスト回路 - 特許庁

ANALYSIS IDDQ TEST MODULE AND IDDQ TEST METHOD例文帳に追加

解析ＩＤＤＱテストモジュール及びＩＤＤＱテスト方法 - 特許庁

TEST METHOD AND TEST DEVICE FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE例文帳に追加

液晶表示装置の検査方法およびその検査装置 - 特許庁

TEST PIECE PICKING DEVICE AND PICKING METHOD FOR TEST PIECE例文帳に追加

試験片切り出し装置及び試験片の切り出し方法 - 特許庁

CORRECTION METHOD IN UNIFORMITY TEST AND DYNAMIC BALANCING TEST例文帳に追加

ユニフォーミティ試験及び動釣合試験における補正方法 - 特許庁

VEHICLE EVALUATION TEST SYSTEM AND VEHICLE EVALUATION TEST METHOD例文帳に追加

車両評価試験システムおよび車両評価試験方法 - 特許庁

ENVIRONMENTAL TEST UNIT AND METHOD FOR SETTING TEST PATTERN例文帳に追加

環境試験装置及びこれの試験パターンの設定方法 - 特許庁

TEST UNIT FOR CDMA BASE STATION AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

ＣＤＭＡ基地局の試験装置及びその試験方法 - 特許庁

TEST APPARATUS AND TEST METHOD OF INDEPENDENT OPERATION DETECTOR例文帳に追加

単独運転検出装置の試験装置および試験方法 - 特許庁

CROSS CONNECT PATH TEST SYSTEM AND PATH TEST METHOD USED THEREFOR例文帳に追加

クロスコネクトパス試験システム及びそれに用いるパス試験方法 - 特許庁

TEST ITEM CREATION DEVICE, TEST ITEM CREATION SYSTEM, TEST ITEM CREATION METHOD AND TEST ITEM CREATION PROGRAM例文帳に追加

テスト項目生成装置、テスト項目生成システム、テスト項目生成方法、およびテスト項目生成プログラム - 特許庁

TEST BENCH GENERATING DEVICE, AUTOMATIC TEST BENCH GENERATING METHOD, VERIFYING METHOD, AND EVALUATING METHOD例文帳に追加

テストベンチ生成装置とその自動テストベンチ生成方法、検証方法、評価方法 - 特許庁

TEST DEVICE AND CALIBRATION METHOD例文帳に追加

試験装置およびキャリブレーション方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR LEAKAGE TEST例文帳に追加

リークテスト装置およびリークテスト方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR LEAKAGE TEST例文帳に追加

リークテスト方法およびリークテスト装置 - 特許庁

TEST SUPPORT SYSTEM, METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

テスト支援システム、方法、及び、プログラム - 特許庁

TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体記憶装置の検査方法 - 特許庁

TEST METHOD OF POLLEN SLIPPING OFF PERFORMANCE例文帳に追加

花粉脱落性能の試験方法 - 特許庁

PROBING TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR CHIPS例文帳に追加

半導体チップのプロービングテスト方法 - 特許庁

SCANNING TEST CIRCUIT AND METHOD例文帳に追加

スキャンテスト回路及びスキャンテスト方法 - 特許庁

TEST METHOD OF OPTICAL ANISOTROPIC FILM例文帳に追加

光学異方性膜の試験方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR BENDING FRACTURE TEST例文帳に追加

曲げ破壊試験方法及び装置 - 特許庁

TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR MEMORY APPARATUS例文帳に追加

半導体記憶装置のテスト方法 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

集積回路及びそのテスト方法 - 特許庁

MEMORY TEST CIRCUIT AND MEMORY TESTING METHOD例文帳に追加

メモリテスト回路及びメモリテスト方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TEST DISK FORMATION例文帳に追加

テストディスク作成装置及び方法 - 特許庁

METHOD OF PRESSURE RESISTANCE TEST OF AC ELEMENT例文帳に追加

交流素子の耐圧テスト方法 - 特許庁

TRANSMISSION RECEPTION TEST METHOD AND DEVICE例文帳に追加

送受信試験方法および装置 - 特許庁

METHOD, DEVICE AND SYSTEM FOR SCANNING TEST例文帳に追加

スキャンテスト方法、装置およびシステム - 特許庁

NETWORK SYSTEM AND TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

ネットワークシステム及びその試験方法 - 特許庁

DISPLAY DRIVING CIRCUIT AND TEST METHOD例文帳に追加

表示駆動回路及びテスト方法 - 特許庁

METHOD FOR SENDING ATM TEST CELL例文帳に追加

ＡＴＭ試験セルの送出方法 - 特許庁

WAVEFORM COMPARISON METHOD AND TEST DEVICE例文帳に追加

波形比較方法及び試験装置 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR SCALABILITY TEST例文帳に追加

スケーラビリティ試験方法およびシステム - 特許庁

SOLDER TEST METHOD AND DEVICE例文帳に追加

はんだ検査方法およびその装置 - 特許庁

HARDWARE TEST ITEM GENERATING METHOD例文帳に追加

ハードウェア用テスト項目生成方法 - 特許庁

DISPLAY DEVICE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

表示装置及びその検査方法 - 特許庁

TEST PRINT AND ITS COLORIMETRIC METHOD例文帳に追加

テストプリントおよびその測色方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING ELONGATION OF TENSION TEST例文帳に追加

引張り試験の伸び計測方法 - 特許庁

PROBE UNIT AND CONTINUITY TEST METHOD例文帳に追加

プローブユニット及び導通試験方法 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATING APPARATUS AND METHOD例文帳に追加

テスト・パターン発生装置及び方法 - 特許庁