「Test method」に関連した英語例文の一覧と使い方(19ページ目) - Weblio英語例文検索

TEST CREATION DEVICE, TEST CREATION METHOD, PROGRAM, AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

テスト作成装置、テスト作成方法、プログラムおよび記憶媒体 - 特許庁

PARALLEL GENERATION METHOD FOR TEST PATTERN AND GENERATION APPARATUS FOR TEST PATTERN例文帳に追加

テストパターンの並列生成方法およびテストパターン生成装置 - 特許庁

DIFFERENT TYPE INCLUSION TEST METHOD AND DIFFERENT TYPE INCLUSION TEST DEVICE例文帳に追加

異品種混入検査方法及び異品種混入検査装置 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATION CIRCUIT AND GENERATION METHOD FOR BUILT IN SELF TEST CIRCUIT例文帳に追加

自己診断回路のテストパターン発生回路及び発生方法 - 特許庁

TERMINAL MEMBER FOR TEST AND FITTING METHOD OF TERMINAL MEMBER FOR TEST例文帳に追加

テスト用端子部材およびテスト用端子部材の取付方法 - 特許庁

TEST DATA ANALYSER, TEST DATA ANALYSING METHOD AND STORAGE MEDIA例文帳に追加

テストデータ解析装置、テストデータ解析方法および記録媒体 - 特許庁

COAGULATION TEST DEVICE AND COAGULATION TEST METHOD FOR CONTAINER CONTENT例文帳に追加

容器内容物の凝固検査装置および凝固検査方法 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATION MANAGING SYSTEM AND TEST PATTERN GENERATION MANAGEMENT METHOD例文帳に追加

テストパターン生成管理システム及びテストパターン生成管理方法 - 特許庁

SYSTEM FOR EVALUATING SOFTWARE TEST PROCESS AND METHOD FOR EVALUATING TEST PROCESS例文帳に追加

ソフトウェアのテストプロセス評価方式及びテストプロセス評価方法 - 特許庁

SYNCHRONOUS RECTIFICATION CONVERTER, AND TEST SYSTEM AND TEST METHOD THEREOF例文帳に追加

同期整流型コンバータ、その試験システムおよびその試験方法 - 特許庁

TEST DATA GENERATION SUPPORT PROGRAM AND TEST DATA GENERATION SUPPORT METHOD例文帳に追加

テストデータ作成支援プログラムおよびテストデータ作成支援方法 - 特許庁

TEST PIECE MOUNTING METHOD, TEST PIECE INSERTION DEVICE AND TESTING MACHINE例文帳に追加

試験片の装着方法、試験片挿入装置および試験機 - 特許庁

NETWORK SYSTEM TEST METHOD, NETWORK SYSTEM TEST PROGRAM, AND NETWORK DEVICE例文帳に追加

ネットワークシステムテスト方法、ネットワークシステムテストプログラム及びネットワーク装置 - 特許庁

HYDRAULIC TEST STRUCTURE AND HYDRAULIC TEST METHOD OF HIGH PRESSURE CASING例文帳に追加

高圧車室の水圧試験構造及び水圧試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY, ITS TEST JIG, AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体記憶装置およびその検査治具並びに検査方法 - 特許庁

RADIO BASE STATION TEST SYSTEM AND RADIO BASE STATION TEST METHOD例文帳に追加

無線基地局試験システムおよび無線基地局試験方法 - 特許庁

BANK SELECTABLE PARALLEL TEST CIRCUIT AND PARALLEL TEST METHOD THEREOF例文帳に追加

バンク選択が可能な並列テスト回路及び該並列テスト方法 - 特許庁

TEST METHOD AND TEST SYSTEM OF COMPUTER SYSTEM BY APPLICATION OF LOAD例文帳に追加

負荷の適用によるコンピュータシステムのテスト方法およびテストシステム - 特許庁

LIGHTING TEST DEVICE AND LIGHTING TEST METHOD OF PLASMA DISPLAY PANEL例文帳に追加

プラズマディスプレイパネルの点灯検査装置および点灯検査方法 - 特許庁

TEST INFORMATION MANAGEMENT SERVER, TEST INFORMATION MANAGEMENT METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

テスト情報管理サーバ、テスト情報管理方法、およびプログラム - 特許庁

METHOD OF TESTING DATA PROCESSING SYSTEM, TEST PROGRAM, AND TEST APPARATUS例文帳に追加

データ処理システムの試験方法、試験プログラム及び試験装置 - 特許庁

SURVEILLANCE TEST DEVICE AND METHOD FOR VERIFYING SURVEILLANCE TEST PROCEDURE例文帳に追加

サーベイランステスト装置およびサーベイランステスト手順の検証方法 - 特許庁

PROGRAM TEST AUTOMATION SYSTEM, PROGRAM TEST AUTOMATION METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

プログラムテスト自動化システム、プログラムテスト自動化方法及びプログラム - 特許庁

VIBRATION TEST METHOD AND DEVICE, AND PROGRAM FOR VIBRATION TEST例文帳に追加

振動試験方法及び装置、並びに振動試験用プログラム - 特許庁

HEAT RESISTANT MATERIAL TESTING DEVICE, HEAT RESISTANT MATERIAL TEST METHOD, AND TEST PIECE例文帳に追加

耐熱材試験装置、耐熱材試験方法およびテストピース - 特許庁

CONTAINER FOR CELL TEST, AND CELL TEST METHOD USING THE SAME例文帳に追加

細胞試験用容器及びそれを用いた細胞試験方法 - 特許庁

BASE STATION EQUIPMENT, AND TEST METHOD AND TEST PROGRAM THEREFOR例文帳に追加

基地局装置、基地局装置の試験方法および試験プログラム - 特許庁

FATIGUE SAFETY FACTOR TEST APPARATUS AND FATIGUE SAFETY FACTOR TEST METHOD例文帳に追加

疲労安全率検査装置及び疲労安全率検査方法 - 特許庁

MULT-ITEM TEST TOOL, MANUFACTURING METHOD THEREFOR, AND TEST TOOL MEASURING DEVICE例文帳に追加

多項目試験具その製造方法及び試験具測定装置 - 特許庁

COMPRESSOR PERFORMANCE TEST METHOD AND COMPRESSOR PERFORMANCE TEST DEVICE例文帳に追加

圧縮機性能試験方法及び圧縮機性能試験装置 - 特許庁

TEST BURN-IN DEVICE AND METHOD OF CONTROL IN TEST BURN-IN DEVICE例文帳に追加

テストバーンイン装置、及びテストバーンイン装置における制御方法 - 特許庁

TEST METHOD AND TEST DEVICE FOR BEARING POWER OF PILE BURIED IN GROUND例文帳に追加

地盤埋設杭の支持力の試験方法および試験装置 - 特許庁

IC TEST SYSTEM AND DATA TRANSFER METHOD IN IC TEST SYSTEM例文帳に追加

ＩＣテストシステム及びＩＣテストシステムにおけるデ—タ転送方法 - 特許庁

ADHESION TEST METHOD AND ADHESION TEST TOOL USED FOR IT例文帳に追加

付着試験方法及びそれに用いる付着試験用用具 - 特許庁

TEST PATTERN AUTOMATIC GENERATION PROGRAM AND TEST PATTERN AUTOMATIC GENERATION METHOD例文帳に追加

テストパタン自動生成プログラムおよびテストパタン自動生成方法 - 特許庁

MICROCOMPUTER AND ITS TEST METHOD AND TEST CIRCUIT例文帳に追加

マイクロコンピュータのテスト方法、マイクロコンピュータ、マイクロコンピュータのテスト回路 - 特許庁

TEST BUS STRUCTURE FOR MULTILAYER LSI AND ITS TEST BUS ARRANGING METHOD例文帳に追加

多層ＬＳＩのテストバス構造およびそのテストバス配設方法 - 特許庁

ORGANIC EL PANEL TEST METHOD AND ORGANIC EL PANEL TEST DEVICE例文帳に追加

有機ＥＬパネル検査方法及び有機ＥＬパネル検査装置 - 特許庁

IC CARD TEST DEVICE, IC CARD TEST METHOD, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

ＩＣカードテスト装置、ＩＣカードテスト方法およびコンピュータプログラム - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST DEVICE, SEMICONDUCTOR TEST METHOD, PROGRAM AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

半導体試験装置、半導体試験方法、プログラム、記録媒体 - 特許庁

SEMICONDUCTOR WAFER, PROBE DEVICE, WAFER TEST DEVICE, AND WAFER TEST METHOD例文帳に追加

半導体ウェハ、プローブ装置、ウェハテスト装置及びウェハテスト方法 - 特許庁

MEMORY PAUSE TEST CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体集積回路のメモリポーズテスト回路及びテスト方法 - 特許庁

SELF-TEST CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE, AND SELF-TEST METHOD例文帳に追加

半導体記憶装置の自己テスト回路及び自己テスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, SEMICONDUCTOR DEVICE TEST CIRCUIT, AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体装置、半導体装置のテスト回路、及び試験方法 - 特許庁

IMMUNO-CHROMATOGRAPH TEST PIECE AND DETECTION METHOD OF TEST SUBSTANCE例文帳に追加

免疫クロマトグラフ用試験片および被検物質の検出方法 - 特許庁