「Test method」に関連した英語例文の一覧と使い方(16ページ目) - Weblio英語例文検索

SIGNAL RECEPTION SECTION TEST CIRCUIT, IMAGING APPARATUS, SIGNAL RECEPTION SECTION TEST METHOD AND TEST METHOD OF IMAGING APPARATUS例文帳に追加

信号受信部テスト回路、撮像装置、信号受信部テスト方法、撮像装置のテスト方法 - 特許庁

PIXEL CIRCUIT BOARD, TEST METHOD OF PIXEL CIRCUIT BOARD, TRANSISTOR GROUP, TEST METHOD AND TEST DEVICE OF TRANSISTOR GROUP例文帳に追加

画素回路基板、画素回路基板の検査方法、トランジスタ群、トランジスタ群の検査方法、検査装置 - 特許庁

BENDING TESTER, BENDING TEST METHOD, AND TEST PIECE MOUNTING APPARATUS例文帳に追加

曲げ試験機、曲げ試験方法および試験片取り付け器具 - 特許庁

DISTRIBUTED APPLICATION TEST METHOD AND DISTRIBUTED APPLICATION TEST EQUIPMENT例文帳に追加

分散アプリケーションテスト方法及び分散アプリケーションテスト装置 - 特許庁

To provide a circuit group, its test method and a test device.例文帳に追加

回路群及びそのテスト方法とテスト装置を提供する。 - 特許庁

TEST-PATTERN FORMING METHOD, PRINTER AND TEST-PATTERN FORMING PROGRAM例文帳に追加

テストパターン形成方法、プリンタ、及びテストパターン形成プログラム - 特許庁

DROP IMPACT TEST METHOD AND DROP IMPACT TEST DEVICE例文帳に追加

落下衝撃試験方法および落下衝撃試験装置 - 特許庁

TEST MATERIAL RECOVERY DEVICE, AND TEST MATERIAL RECOVERY METHOD例文帳に追加

被検物質回収装置及び被検物質回収方法 - 特許庁

UNIT TEST METHOD, UNIT TEST DEVICE, PROGRAM AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

単体テスト方法、単体テスト装置、プログラム、及び記憶媒体 - 特許庁

PHOTORECEPTOR DETERIORATION ACCELERATION TEST METHOD AND ACCELERATION TEST EQUIPMENT例文帳に追加

感光体劣化加速試験方法及び加速試験装置 - 特許庁

MATERIAL TEST CONTROL DEVICE AND MATERIAL TEST CONTROL METHOD例文帳に追加

材料試験制御装置および材料試験制御方法 - 特許庁

VEHICLE COLLISION TEST APPARATUS AND VEHICLE COLLISION TEST METHOD例文帳に追加

車両衝突試験装置及び車両衝突試験方法 - 特許庁

MOUNTING TEST EVALUATION DEVICE AND MOUNTING TEST EVALUATION METHOD例文帳に追加

実装試験評価装置および実装試験評価方法 - 特許庁

WIRELESS BASE STATION TEST UNIT AND WIRELESS BASE STATION TEST METHOD例文帳に追加

無線基地局試験装置及び無線基地局試験方法 - 特許庁

TEST DEVICE AND TEST METHOD FOR CARBON DIOXIDE RECOVERY SYSTEM例文帳に追加

二酸化炭素回収システムの試験装置及び試験方法 - 特許庁

GAS FILTER STRUCTURE FOR TEST, TEST DEVICE AND EVALUATION METHOD例文帳に追加

試験用排ガスフィルタの構造、試験装置及び評価方法 - 特許庁

CREEP TEST SUBSTITUTING METHOD AND CREEP TEST SUBSTITUTING TESTING MACHINE例文帳に追加

クリープ試験代替方法およびクリープ試験代替試験機 - 特許庁

ELECTRONIC EQUIPMENT, AND TEST APPARATUS AND TEST METHOD FOR ELECTRONIC EQUIPMENT例文帳に追加

電子機器並びに電子機器のテスト装置およびテスト方法 - 特許庁

SUBSCRIBER LINE AUTOMATIC TEST SYSTEM AND AUTOMATIC TEST METHOD例文帳に追加

加入者回線自動試験システムおよび自動試験方法 - 特許庁

LIGHTING TEST DEVICE AND LIGHTING TEST METHOD OF PLASMA DISPLAY PANEL例文帳に追加

プラズマディスプレイパネルの点灯検査装置と点灯検査方法 - 特許庁

PERMEABILITY TEST EVALUATION SYSTEM AND PERMEABILITY TEST EVALUATION METHOD例文帳に追加

透水試験評価システムおよび透水試験の評価方法 - 特許庁

TEST PATTERN OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND TEST METHOD USING THE SAME例文帳に追加

半導体素子のテストパターン及びこれを用いたテスト方法 - 特許庁

ECC FUNCTIONAL TEST CIRCUIT AND ECC FUNCTIONAL TEST METHOD例文帳に追加

ＥＣＣ機能検査回路およびＥＣＣ機能検査方法 - 特許庁

RADIATION IMMUNITY TEST APPARATUS AND RADIATION IMMUNITY TEST METHOD例文帳に追加

放射イミュニティ試験装置および放射イミュニティ試験方法 - 特許庁

HEATING AND COOLING TEST METHOD AND HEATING AND COOLING TEST EQUIPMENT例文帳に追加

加熱冷却試験方法および加熱冷却試験装置 - 特許庁

To provide a memory diagnosis test circuit and its test method.例文帳に追加

メモリ診断テスト回路及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

SAMPLE COOLING DEVICE, HARDNESS TEST DEVICE, AND HARDNESS TEST METHOD例文帳に追加

試料冷却装置、硬さ試験機及び硬さ試験方法 - 特許庁

CLEANING PAD FOR TEST PROBE AND METHOD FOR CLEANING TEST PROBE例文帳に追加

テストプローブ用のクリーニングパッドおよびテストプローブのクリーニング方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM AND TEST TEMPERATURE STABLY CONTROL METHOD例文帳に追加

半導体試験システムおよび試験温度安定制御方法 - 特許庁

CLIENT-SERVER SYSTEM, LOAD TEST METHOD, AND LOAD TEST PROGRAM例文帳に追加

クライアント−サーバシステム、負荷テスト方法、および負荷テストプログラム - 特許庁

BENDING TEST DEVICE AND BENDING TEST METHOD FOR WIRE HARNESS例文帳に追加

ワイヤーハーネスの屈曲試験装置及び屈曲試験方法 - 特許庁

STARTING METHOD FOR MATERIAL TEST APPARATUS AND MATERIAL TEST APPARATUS例文帳に追加

材料試験装置の起動方法および材料試験装置 - 特許庁

MAGNETIC DISK DEFECT TEST METHOD, PROTRUSION TEST DEVICE, AND GLIDE TESTER例文帳に追加

ディスク欠陥検査方法、突起検査装置およびグライドテスタ - 特許庁

TEST APPARATUS FOR ELECTRONIC DEVICE, AND TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

電子デバイス用試験装置及び電子デバイスの試験方法 - 特許庁

ELECTRONIC EQUIPMENT, AND TEST DEVICE AND TEST METHOD FOR ELECTRONIC EQUIPMENT例文帳に追加

電子機器並びに電子機器のテスト装置およびテスト方法 - 特許庁

TEST PATTERN MANAGEMENT DEVICE, TEST PATTERN MANAGEMENT METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

テストパターン管理装置及びテストパターン管理方法及びプログラム - 特許庁

ELECTRONIC TEST SYSTEM AND METHOD FOR CONTROLLING EXECUTION OF ELECTRONIC TEST例文帳に追加

電子テストシステムおよび電子的試験の実行制御方法 - 特許庁

TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TEST DEVICE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体デバイス試験方法・半導体デバイス試験装置 - 特許庁

HEATING TEST DEVICE OF EXHAUST SYSTEM MEMBER AND HEATING TEST METHOD THEREOF例文帳に追加

排気系部材の加熱試験装置及び加熱試験方法 - 特許庁

EXTERNAL TEST AUXILIARY DEVICE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

外部試験補助装置および半導体装置の試験方法 - 特許庁

BURN-IN TEST SYSTEM, BURN-IN TEST METHOD, AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

バーンイン試験システム、バーンイン試験方法、及び記憶媒体 - 特許庁

IC TEST METHOD, PROBE GUARD, TEST PROBER, AND IC TESTER例文帳に追加

ＩＣテスト方法、プローブカード、検査プローバー、及びＩＣテスト装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR ELEMENT TEST METHOD AND SEMICONDUCTOR ELEMENT TEST DEVICE例文帳に追加

半導体素子試験方法および半導体素子試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, TEST PROGRAM, TEST METHOD, AND TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体装置、試験プログラム、試験方法、および試験装置 - 特許庁

CIRCUIT TESTING DEVICE, CIRCUIT TEST PROGRAM, AND CIRCUIT TEST METHOD例文帳に追加

回路試験装置、回路試験プログラムおよび回路試験方法 - 特許庁