「Test method」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索

TENSILE TEST METHOD AND DEVICE例文帳に追加

引張り試験方法及び装置 - 特許庁

PERMEABILITY TEST METHOD AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

透水試験方法及び装置 - 特許庁

STRESS CORROSION CRACKING TEST METHOD例文帳に追加

応力腐食割れ試験方法 - 特許庁

VIBRATION TEST METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

振動試験方法および装置 - 特許庁

TEST METHOD AND TESTING FIXTURE例文帳に追加

試験方法及び試験用治具 - 特許庁

ARRESTOR AND TEST METHOD THEREOF例文帳に追加

避雷器及びその試験方法 - 特許庁

This test method has high reliability.例文帳に追加

テスト方法は、信頼度が高い。 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM OF TRACE PULL TEST例文帳に追加

トレースプルテスト方法及びシステム - 特許庁

TEST PROGRAM GENERATION METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

テストプログラム生成方法、プログラム - 特許庁

METHOD OF ANALYZING TEST SOFTWARE TOOL例文帳に追加

テストソフトウエアツールの解析方法 - 特許庁

GENERATION METHOD FOR TEST IMAGE, IMAGE TEST METHOD USING THE SAME, AND APPEARANCE TEST DEVICE例文帳に追加

検査画像の生成方法、それを用いた画像検査方法、並びに外観検査装置 - 特許庁

TEST METHOD, MANUFACTURING METHOD, AND TEST DEVICE FOR MEMORY CHIP, TEST METHOD, MANUFACTURING METHOD, TEST DEVICE FOR MEMORY MODULE, AND MANUFACTURING METHOD FOR COMPUTER例文帳に追加

メモリチップのテスト方法、製造方法およびテスト装置、メモリモジュールのテスト方法、製造方法およびテスト装置、ならびにコンピュータの製造方法 - 特許庁

OPERATION TEST APPARATUS, OPERATION TEST METHOD, AND OPERATION TEST INFORMATION PROCESSING PROGRAM例文帳に追加

動作試験装置、動作試験方法および動作試験情報処理プログラム - 特許庁

CHARACTERISTIC TEST METHOD OF SHEET OR MAT, CHARACTERISTIC TEST BODY AND CHARACTERISTIC TEST CLOTHING例文帳に追加

シート又はマットの特性試験方法、特性試験体及び特性試験着 - 特許庁

PROGRAM TEST MONITORING SYSTEM, PROGRAM TEST MONITORING METHOD AND PROGRAM TEST MONITORING PROGRAM例文帳に追加

プログラムテスト監視システム、プログラムテスト監視方法、および、プログラムテスト監視プログラム - 特許庁

TEST PATTERN GENERATOR, TEST CIRCUIT TESTER, TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST CIRCUIT TESTING METHOD, TEST PATTERN GENERATION PROGRAM, TEST CIRCUIT TESTING PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

試験パターン生成装置、テスト回路試験装置、試験パターン生成方法、テスト回路試験方法、試験パターン生成プログラム、テスト回路試験プログラム、および記録媒体 - 特許庁

WEB APPLICATION TEST PROGRAM, WEB APPLICATION TEST APPARATUS AND WEB APPLICATION TEST METHOD例文帳に追加

Ｗｅｂアプリケーションテストプログラム、Ｗｅｂアプリケーションテスト装置およびＷｅｂアプリケーションテスト方法 - 特許庁

TURNING TEST DEVICE, TURNING TEST METHOD, TURNING TEST PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

旋回試験装置、旋回試験方法、旋回試験プログラム及び記録媒体 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM BY WHICH VIRTUAL TEST IS POSSIBLE, AND ITS SEMICONDUCTOR TEST METHOD例文帳に追加

仮想テストが可能な半導体テストシステム及びその半導体テスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST DEVICE, SEMICONDUCTOR MEMORY TEST DEVICE, SEMICONDUCTOR MEMORY TEST METHOD例文帳に追加

半導体テスト装置、半導体メモリテスト装置および半導体メモリテスト方法 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATING SYSTEM, TEST PATTERN ANALYZING SYSTEM, TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST PATTERN ANALYTICAL METHOD, TEST PATTERN GENERATION PROGRAM, TEST PATTERN ANALYTICAL PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

テストパターン生成システム、テストパターン解析システム、テストパターン生成方法、テストパターン解析方法、テストパターン生成プログラム、テストパターン解析プログラム、および記録媒体 - 特許庁

BASE STATION TEST APPARATUS, BASE STATION TEST SYSTEM, AND BASE STATION TEST METHOD OF BASE STATION TEST SYSTEM例文帳に追加

基地局試験装置、基地局試験システム及び基地局試験システムの基地局試験方法 - 特許庁

BIOMOLECULE TEST DEVICE, BIOMOLECULE TEST CHIP, BIOMOLECULE TEST METHOD, AND BIOMOLECULE TEST PROGRAM例文帳に追加

生体分子検査装置、生体分子検査チップ、生体分子検査方法、及び生体分子検査プログラム - 特許庁

COMMUNICATION TEST DEVICE, NETWORK WITH COMMUNICATION TEST FUNCTION, COMMUNICATION TEST METHOD AND COMMUNICATION TEST PROGRAM例文帳に追加

通信試験装置、通信試験機能を有するネットワーク、接続試験方法および接続試験プログラム - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF SOLDER TEST STRIP AND SOLDER TEST STRIP例文帳に追加

はんだ試験片の作製方法およびはんだ試験片 - 特許庁

TEST DEVICE FOR SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体記憶装置の試験装置及び試験方法 - 特許庁

TEST METHOD OF MEMORY, TEST DEVICE AND MEMORY MODULE FOR TESTING例文帳に追加

メモリのテスト方法、テスト装置及びテスト用メモリモジュール - 特許庁

ELECTRONIC PART TEST DEVICE AND TEST METHOD OF ELECTRONIC PART例文帳に追加

電子部品試験装置および電子部品の試験方法 - 特許庁

TEST EXECUTION DEVICE AND TEST EXECUTION METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

試験実施装置及び試験実施方法及びプログラム - 特許庁

GUI APPLICATION TEST SUPPORT DEVICE AND TEST SUPPORT METHOD例文帳に追加

ＧＵＩアプリケーションテスト支援装置及びテスト支援方法 - 特許庁

BENDING TEST CONTROL DEVICE AND BENDING TEST CONTROL METHOD例文帳に追加

曲げ試験制御装置および曲げ試験制御方法 - 特許庁

NETWORK EQUIPMENT TEST METHOD AND NETWORK EQUIPMENT TEST SYSTEM例文帳に追加

ネットワーク機器試験方法およびネットワーク機器試験システム - 特許庁

TEST EQUIPMENT AND TEST METHOD FOR OBTAINING MEASURED DATA例文帳に追加

測定データを得るための試験装置及び試験方法 - 特許庁

TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR STORAGE AND TEST DEVICE例文帳に追加

半導体記憶装置の検査方法および検査装置 - 特許庁

BARKHAUSEN NOISE TEST APPARATUS AND BARKHAUSEN NOISE TEST METHOD例文帳に追加

バルクハウゼンノイズ検査装置およびバルクハウゼンノイズ検査方法 - 特許庁

To provide a test apparatus, a synchronization module and a synchronization method which can synchronize a plurality of test modules.例文帳に追加

複数の試験モジュールの試験を同期させる。 - 特許庁

TENSION BENDING TEST METHOD OF TUBULAR TEST SPECIMEN AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

管状試験体の引張曲げ試験方法及び装置 - 特許庁

MOBILE TERMINAL TEST SYSTEM AND MOBILE TERMINAL TEST METHOD例文帳に追加

移動端末試験システム及び移動端末試験方法 - 特許庁

DISK TEST APPARATUS, DISK TEST METHOD, AND DISK APPARATUS例文帳に追加

ディスク試験装置、ディスク試験方法およびディスク装置 - 特許庁

TEST DATA ANALYZING SYSTEM AND TEST DATA ANALYZING METHOD例文帳に追加

検査デ—タ解析システムおよび検査デ—タ解析方法 - 特許庁

TEST PATTERN, TEST PATTERNING METHOD, RECORDER AND PROGRAM例文帳に追加

テストパターン、テストパターン作成方法、記録装置及びプログラム - 特許庁

BURN-IN TEST SIGNAL GENERATION CIRCUIT AND BURN-IN TEST METHOD例文帳に追加

バーンインテスト信号発生回路及びバーンインテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST DEVICE AND TEST METHOD USING IT例文帳に追加

半導体試験装置及びこれを用いる試験方法 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT COMPRISING TEST CIRCUIT AND TEST METHOD FOR IT例文帳に追加

テスト回路を備える集積回路及びそのテスト方法 - 特許庁

OPTICAL PICKUP TEST METHOD AND OPTICAL PICKUP TEST DEVICE例文帳に追加

光ピックアップ検査方法および光ピックアップ検査装置 - 特許庁