「Test method」に関連した英語例文の一覧と使い方(21ページ目) - Weblio英語例文検索

TEST SPECIFICATION PREPARATION SUPPORT DEVICE, TEST SPECIFICATION PREPARATION METHOD, CONSTRUCTION METHOD FOR DATABASE, AND TEST SPECIFICATION PREPARATION PROGRAM例文帳に追加

テスト仕様作成支援装置、テスト仕様作成方法、データベースの構築方法、テスト仕様作成プログラム - 特許庁

AIRTIGHTNESS TEST MANAGEMENT SYSTEM, MOBILE DEVICE FOR AIRTIGHTNESS TEST, COMPUTER FOR AIRTIGHTNESS TEST MANAGEMENT, AND AIRTIGHTNESS TEST MANAGEMENT METHOD例文帳に追加

気密検査管理システム、気密検査用モバイル装置、気密検査管理用コンピュータ及び気密検査管理方法 - 特許庁

TEST SAMPLE MOUNTING DEVICE, BENDING TESTING APPARATUS, BENDING TEST METHOD, BENDING TEST PROGRAM, AND TEST SAMPLE例文帳に追加

試験試料装着装置、曲げ強さ試験装置、曲げ強さ試験方法、曲げ強さ試験プログラム及び試験試料 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR AC WITHSTAND VOLTAGE TEST例文帳に追加

交流耐電圧試験方法と装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TEST OF CAPACITOR例文帳に追加

コンデンサの試験方法及び試験装置 - 特許庁

PIPE FLATTENING TEST METHOD AND APPARATUS THEREFOR例文帳に追加

パイプの扁平試験方法および装置 - 特許庁

ENVIRONMENT TEST DEVICE AND ANALYSIS METHOD例文帳に追加

環境試験装置および解析方法 - 特許庁

TEST METHOD OF ACCIDENT AUTOMATIC RECOVERY EQUIPMENT例文帳に追加

事故自動復旧装置の試験方法 - 特許庁

LSI TESTER AND TEST METHOD例文帳に追加

ＬＳＩテスタ及びＬＳＩのテスト方法 - 特許庁

DRIVING APTITUDE TEST METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

運転適性検査方法及びプログラム - 特許庁

TEST TERMINAL AND CONTROL METHOD THEREOF例文帳に追加

テスト用端末及びその制御方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MANUFACTURING TEST CHIP例文帳に追加

試験チップの製造方法及び装置 - 特許庁

DOT RECORDING METHOD FOR TEST AND PRINTER例文帳に追加

テスト用ドット記録方法およびプリンタ - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR YARN-DYEING TEST例文帳に追加

糸の染色試験装置及び方法 - 特許庁

UNDERWATER FIRING TEST METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

水中発射試験方法及び装置 - 特許庁

BURN-IN SYSTEM AND BURN IN TEST METHOD例文帳に追加

バーンインシステムおよびバーンイン試験方法 - 特許庁

TESTING APPARATUS, METHOD OF TESTING, AND TEST PROGRAM例文帳に追加

テスト装置、テスト方法及びテストプログラム - 特許庁

MAGNETIC HEAD TEST METHOD AND TESTER例文帳に追加

磁気ヘッド検査方法および検査装置 - 特許庁

PRINTER AND TEST PATTERN PRINTING METHOD例文帳に追加

印字装置およびテストパタ—ン印字方法 - 特許庁

METHOD OF LAYOUT OF BOUNDARY SCAN TEST CIRCUIT例文帳に追加

バウンダリスキャンテスト回路のレイアウト方法 - 特許庁

COMBINATION TEST METHOD AND TESTING DEVICE例文帳に追加

組合せ試験方法及び試験装置 - 特許庁

TEST STIMULUS COMPACTION DEVICE AND METHOD例文帳に追加

テスト刺激コンパクション装置および方法 - 特許庁

INTEGRATED ELEMENT TEST SYSTEM AND ITS METHOD例文帳に追加

集積素子テストシステム及びその方法 - 特許庁

PROJECTOR AND LAMP LIGHTING TEST METHOD例文帳に追加

プロジェクター及びランプ点灯試験方法 - 特許庁

NUCLEAR RESONANCE TEST EQUIPMENT AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

核共鳴のテスト装置および方法 - 特許庁

AUTOMATIC TEST METHOD AND PROGRAM OF IC例文帳に追加

ＩＣの自動試験方法及びプログラム - 特許庁

TEST EXECUTIVE SYSTEM AND METHOD FOR OPERATING THE SAME例文帳に追加

テスト実行システムとその操作方法 - 特許庁

MICRO-FLUIDIC TEST APPARATUS AND METHOD例文帳に追加

マイクロ流体試験装置および方法 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATION SYSTEM AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

テストパターン生成装置及びその方法 - 特許庁

TENSION AND FRACTURE TOUGHNESS TEST METHOD例文帳に追加

引張および破壊靭性試験方法 - 特許庁

PATTERN TEST METHOD AND DEVICE例文帳に追加

パターン検査方法及びパターン検査装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR COMMUNICATION TROUBLE TEST例文帳に追加

通信障害試験装置及び方法 - 特許庁

CYCLE DETERMINING METHOD FOR LSI TEST PATTERN例文帳に追加

ＬＳＩテストパターンのサイクル決定方法 - 特許庁

STORAGE DEVICE AND ITS SELF-TEST METHOD例文帳に追加

記憶装置およびその自己テスト方法 - 特許庁

TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF IC例文帳に追加

ＩＣの試験装置及び試験方法 - 特許庁

Gm-C FILTER AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

Ｇｍ−Ｃフィルタ及びそのテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体記憶装置及びテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体記憶装置およびテスト方法 - 特許庁

A/D CONVERTER TEST SYSTEM AND METHOD例文帳に追加

Ａ／Ｄコンバ—タテスト方式および方法 - 特許庁

PIN AND GROOVE FORMING METHOD FOR TEST SOCKET例文帳に追加

テストソケットのピン及び溝形成方法 - 特許庁

DISK STORAGE DEVICE AND SERVO TEST METHOD例文帳に追加

ディスク記憶装置及びサーボテスト方法 - 特許庁

LOOPBACK TEST METHOD AND RELAYING DEVICE例文帳に追加

ループバック試験方法及び中継装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR IC TEST例文帳に追加

ＩＣテスト装置およびＩＣテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

半導体記憶装置とそのテスト方法 - 特許庁

AUTOMATIC TEST METHOD AND AUTOMATIC TESTING MACHINE例文帳に追加

自動試験方法及び自動試験機 - 特許庁