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Testingを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 14405



例文

VEIN TESTING DEVICE AND VEIN TESTING METHOD例文帳に追加

静脈検査装置および静脈検査方法 - 特許庁

PRESSURE PROOF TESTING PACKING AND PRESSURE PROOF TESTING JIG例文帳に追加

耐圧試験用パッキン及び耐圧試験用治具 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, TESTING SYSTEM, AND MANUFACTURING APPARATUS例文帳に追加

半導体テスト装置、テストシステムおよび製造装置 - 特許庁

TESTING APPARATUS AND TESTING METHOD FOR AIR ACTUATING VALVE例文帳に追加

空気作動弁の試験装置および試験方法 - 特許庁

例文

STATIC ELECTRICITY TESTING DEVICE AND STATIC ELECTRICITY TESTING METHOD例文帳に追加

静電気試験装置及び静電気試験方法 - 特許庁


例文

AUTOMATIC PENETRATION TESTING MACHINE AND PENETRATION TESTING METHOD例文帳に追加

自動貫入試験機及び貫入試験方法 - 特許庁

CONNECTOR, CONNECTOR TESTING APPARATUS AND CONNECTOR TESTING METHOD例文帳に追加

コネクタ、コネクタ検査装置およびコネクタ検査方法 - 特許庁

DYNAMIC BALANCE TESTING MACHINE AND DYNAMIC BALANCE TESTING METHOD例文帳に追加

動釣合試験機および動釣合試験方法 - 特許庁

TESTING DEVICE AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の試験装置および試験方法 - 特許庁

例文

Accreditation, etc. of Testing Laboratory of Foreign Testing Laboratory Operator 例文帳に追加

外国試験事業者の試験所の登録等 - 日本法令外国語訳データベースシステム

例文

TESTING TECHNIQUE AND TESTING EQUIPMENT OF PNEUMATIC TIRE例文帳に追加

空気入りタイヤの試験方法および試験装置 - 特許庁

MULTI PROCESS TESTING METHOD AND MULTI PROCESS TESTING DEVICE例文帳に追加

多工程試験方法及び多工程試験装置 - 特許庁

TESTING DEVICE, TESTING METHOD, AND ELECTRIC CURRENT MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加

試験装置、試験方法、及び電流測定器 - 特許庁

OPERATION TESTING SYSTEM, TESTING DEVICE AND IMAGE PICKUP UNIT例文帳に追加

動作試験システム、試験装置、及び撮像装置 - 特許庁

RELIABILITY TESTING METHOD OF CAPACITOR AND TESTING UNIT例文帳に追加

コンデンサの信頼性試験方法及びその装置 - 特許庁

MICROORGANISM TESTING DEVICE AND MICROORGANISM TESTING CHIP例文帳に追加

微生物検査装置及び微生物検査用チップ - 特許庁

LATCH-UP TESTING DEVICE AND LATCH-UP TESTING METHOD例文帳に追加

ラッチアップ試験装置およびラッチアップ試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD AND TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体デバイスの試験方法及び試験装置 - 特許庁

CHUCK CLAW FOR ROUND MATERIAL TESTING PIECE OF TENSILE TESTING MACHINE例文帳に追加

引張試験機の丸材試験片用チャック爪 - 特許庁

IMPULSE VOLTAGE TESTING APPARATUS AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加

インパルス電圧試験装置及びその試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS AND SEMICONDUCTOR TESTING METHOD例文帳に追加

半導体テスト装置および半導体テスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS AND SEMICONDUCTOR TESTING METHOD例文帳に追加

半導体試験装置及び半導体試験方法 - 特許庁

HANDOVER TESTING DEVICE AND HANDOVER TESTING METHOD例文帳に追加

ハンドオーバー試験装置およびハンドオーバー試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS AND SEMICONDUCTOR TESTING METHOD例文帳に追加

半導体検査装置及び半導体検査方法 - 特許庁

TESTING DEVICE AND TESTING METHOD FOR DIFFERENTIAL DATA DRIVER例文帳に追加

差動型データドライバのテスト装置及びテスト方法 - 特許庁

DIRECT-CURRENT TESTING DEVICE AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

直流試験装置及び半導体試験装置 - 特許庁

RELIABILITY TESTING METHOD AND RELIABILITY TESTING DEVICE例文帳に追加

信頼性試験方法及び信頼性試験装置 - 特許庁

FOUNDATION LOAD TESTING METHOD例文帳に追加

基礎の載荷試験方法 - 特許庁

DELAY FAULT TESTING CIRCUIT例文帳に追加

遅延故障試験回路 - 特許庁

MOTOR FUNCTION TESTING APPARATUS例文帳に追加

運動機能検査装置 - 特許庁

PIN-ON-FRICTION TESTING DEVICE例文帳に追加

ピンオン摩擦試験装置 - 特許庁

TESTING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

試験装置及び方法 - 特許庁

TESTING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

試験方法及び装置 - 特許庁

MULTIAXIAL VIBRATION TESTING SYSTEM例文帳に追加

多軸振動試験装置 - 特許庁

TESTING DEVICE OF POWER TRAIN例文帳に追加

パワートレインの試験装置 - 特許庁

PROGRAM AND TESTING DEVICE例文帳に追加

プログラム及び検査装置 - 特許庁

DEVICE FOR TESTING COMMUNICATION EQUIPMENT例文帳に追加

通信機器試験装置 - 特許庁

FURNACE PERFORMANCE TESTING METHOD例文帳に追加

炉の性能試験方法 - 特許庁

TYRE DURABILITY TESTING MACHINE例文帳に追加

タイヤ耐久試験装置 - 特許庁

STATIC LOAD TESTING METHOD例文帳に追加

静的載荷試験方法 - 特許庁

ELECTRICAL APPARATUS TESTING DEVICE例文帳に追加

電気機器の試験装置 - 特許庁

DEVICE FOR TESTING DYNAMIC LOAD例文帳に追加

動的載荷試験装置 - 特許庁

SALIVARY VISCOSITY TESTING IMPLEMENT例文帳に追加

唾液粘性検査用具 - 特許庁

COMPOSITE DETERIORATION TESTING APPARATUS例文帳に追加

複合劣化試験装置 - 特許庁

TESTING DEVICE, AND PROGRAM例文帳に追加

試験装置、及びプログラム - 特許庁

NETWORK EQUIPMENT TESTING APPARATUS例文帳に追加

ネットワーク機器試験装置 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR AUTOMOBILE例文帳に追加

自動車用試験装置 - 特許庁

PNEUMATIC MATERIAL TESTING MACHINE例文帳に追加

空圧式材料試験機 - 特許庁

VOLATILE COMPONENT TESTING APPARATUS例文帳に追加

揮発成分試験装置 - 特許庁

例文

SPRAYING CORROSION TESTING DEVICE例文帳に追加

噴霧腐食試験装置 - 特許庁




  
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日本法令外国語訳データベースシステム
※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。
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