Testingを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 14405件
TESTING DEVICE OF TRANSMISSION MACHINE例文帳に追加
伝導機の試験装置 - 特許庁
Implementation of radiological testing.例文帳に追加
•放射線検査を実施。 - 経済産業省
ATTACK IMITATION TESTING METHOD, ATTACK IMITATION TESTING DEVICE AND ATTACK IMITATION TESTING PROGRAM例文帳に追加
攻撃模倣テスト方法、攻撃模倣テスト装置及び攻撃模倣テストプログラム - 特許庁
SCRATCHABILITY TESTING MACHINE FOR FLOOR MATERIAL, AND TESTING DEVICE AND TESTING METHOD USING IT例文帳に追加
床材用傷付き性試験機、及びこれを用いた試験装置、試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING METHOD AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE USING THIS TESTING METHOD例文帳に追加
半導体試験方法及びその試験方法を用いた半導体試験装置 - 特許庁
GROUND BEARING CAPACITY TESTING APPARATUS AND GROUND BEARING CAPACITY TESTING METHOD例文帳に追加
地耐力試験装置および地耐力試験方法 - 特許庁
TESTING ARRANGEMENT AND TESTING PROCESS OF IMPLEMENTAL ASSEMBLY例文帳に追加
実装組立品の試験装置および試験方法 - 特許庁
ELECTRONIC INTERLOCKING SYSTEM, TESTING DEVICE, AND TESTING METHOD例文帳に追加
電子連動システム及び試験装置と試験方法 - 特許庁
SOIL BEARING POWER TESTING DEVICE AND SOIL BEARING POWER TESTING METHOD例文帳に追加
地耐力試験装置および地耐力試験方法 - 特許庁
POWER-CYCLE TESTING DEVICE AND POWER-CYCLE TESTING METHOD例文帳に追加
パワーサイクル試験装置およびパワーサイクル試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD, TESTING PROGRAM, AND INFORMATION PROCESSING UNIT例文帳に追加
試験方法、試験プログラム、及び情報処理装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TESTING DEVICE AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加
半導体装置とそのテスト装置及びテスト方法。 - 特許庁
TESTING SYSTEM AND TESTING METHOD OF WIRELESS COMMUNICATION APPARATUS例文帳に追加
無線通信機器の試験システムおよび試験方法 - 特許庁
DEVICE FOR TESTING LENS ARRAY AND METHOD FOR TESTING LENS例文帳に追加
レンズアレイの検査装置およびレンズの検査方法 - 特許庁
DEVICE TESTING MECHANISM, HANDLER, AND TESTING METHOD OF DEVICE例文帳に追加
デバイス試験機構、ハンドラおよびデバイスの試験方法 - 特許庁
MULTIPOLAR CONNECTOR CONTINUITY TESTING DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
多極コネクタ用導通検査器および検査方法 - 特許庁
VOLTAGE APPLICATION TESTING DEVICE AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加
電圧印加試験装置及び半導体試験装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR WAFER TESTING DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
半導体ウエハ試験装置およびその試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS AND SEMICONDUCTOR TESTING METHOD例文帳に追加
半導体試験装置および半導体試験方法 - 特許庁
NETWORK APPARATUS TESTING SYSTEM, NETWORK APPARATUS TESTING PROCESS例文帳に追加
ネットワーク装置試験システム、ネットワーク装置試験方法 - 特許庁
OPTICAL PATH TESTING DEVICE AND OPTICAL PATH TESTING METHOD例文帳に追加
光線路試験装置及び光線路試験方法 - 特許庁
METAL MOLD ABRASION TESTING DEVICE例文帳に追加
金型摩耗検査装置 - 特許庁
| Copyright Ministry of Economy, Trade and Industry. All Rights Reserved. |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
JESC: Japanese-English Subtitle Corpus映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書のコンテンツは、特に明示されている場合を除いて、次のライセンスに従います: Creative Commons Attribution-ShareAlike 4.0 International (CC BY-SA 4.0) |
| 日本語ワードネット1.1版 (C) 情報通信研究機構, 2009-2026 License. All rights reserved. WordNet 3.0 Copyright 2006 by Princeton University. All rights reserved.License |
| この対訳コーパスは独立行政法人情報通信研究機構の研究成果であり、Creative Commons Attribution-Share Alike 3.0 Unportedでライセンスされています。 |
| © 2010, Oracle Corporation and/or its affiliates. Oracle and Java are registered trademarks of Oracle and/or its affiliates.Other names may be trademarks of their respective owners. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
Creative Commons Attribution-ShareAlike 4.0 International (CC BY-SA 4.0)