「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(18ページ目) - Weblio英語例文検索

COATING MATERIAL-TESTING DEVICE例文帳に追加

コーティング材試験装置 - 特許庁

COMPRESSIVE STRENGTH TESTING MACHINE例文帳に追加

圧縮強度試験機 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR SECONDARY BATTERY例文帳に追加

二次電池試験装置 - 特許庁

SYSTEM FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD OF TESTING例文帳に追加

半導体装置のテストシステムおよびテスト方法 - 特許庁

VEHICLE TESTING DEVICE AND ROLL-OVER TESTING METHOD例文帳に追加

車両試験装置及びロールオーバ試験方法 - 特許庁

POWDER CHARACTERISTIC TESTING MACHINE AND CHARACTERISTIC TESTING METHOD例文帳に追加

粉体特性装置及び特性試験方法 - 特許庁

APPARATUS FOR AUTOMATICALLY TESTING SECONDARY CELL AND TESTING METHOD例文帳に追加

二次電池自動試験装置及び試験方法 - 特許庁

PROBE FOR TESTING WAFERS AND METHOD OF TESTING WAFERS例文帳に追加

ウエハー検査用プローブ及びウエハー検査方法 - 特許庁

The present invention provides a tire testing method and testing device.例文帳に追加

タイヤの試験方法及び試験装置である。 - 特許庁

DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR例文帳に追加

半導体検査装置、半導体検査方法 - 特許庁

UNDERWATER TESTING DEVICE AND UNDERWATER TESTING METHOD例文帳に追加

水中検査装置および水中検査方法 - 特許庁

SPECIMEN TESTING VESSEL SET, AND SPECIMEN TESTING KIT例文帳に追加

検体試験容器セット及び検体試験キット - 特許庁

TESTING DEVICE AND TESTING METHOD FOR STORAGE SYSTEM例文帳に追加

ストレージシステムの試験装置及び同試験方法 - 特許庁

TESTING CIRCUIT, TESTING METHOD, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

テスト回路、テスト方法、半導体集積回路 - 特許庁

INDOOR TIRE DURABILITY TESTING METHOD AND TESTING MACHINE例文帳に追加

室内タイヤ耐久試験方法及び試験機 - 特許庁

DC TESTING DEVICE AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

直流試験装置及び半導体試験装置 - 特許庁

CIRCUIT FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加

集積回路の試験回路及び試験方法 - 特許庁

PROBE CARD FOR WAFER TESTING AND WAFER TESTING DEVICE例文帳に追加

ウエハ検査用プローブカードおよびウエハ検査装置 - 特許庁

TESTING EQUIPMENT, TERMINAL EQUIPMENT, AND TESTING METHOD例文帳に追加

試験装置及び端末装置及び試験方法 - 特許庁

WEATHERING LIGHT TESTING METHOD AND WEATHERING LIGHT TESTING MACHINE例文帳に追加

耐候光試験方法及び耐候光試験機 - 特許庁

RADIOGRAPHIC TESTING APPARATUS, RADIOGRAPHIC TESTING METHOD AND RADIOGRAPHIC TESTING PROGRAM例文帳に追加

放射線検査装置、放射線検査方法および放射線検査プログラム - 特許庁

SUPPLY ARTICLE TESTING SYSTEM AND SUPPLY ARTICLE TESTING METHOD例文帳に追加

入荷検品システム及び入荷検品方法 - 特許庁

DURABLE TESTING METHOD AND DURABLE TESTING APPARATUS例文帳に追加

耐久試験方法および耐久試験装置 - 特許庁

To provide a precise power supply in a testing device for testing an electronic device.例文帳に追加

電子デバイスを、高い精度で試験する。 - 特許庁

INTERNAL PRESSURE TESTING MACHINE AND INTERNAL PRESSURE TESTING METHOD例文帳に追加

内圧試験装置および内圧試験方法 - 特許庁

IMPACT TESTING METHOD AND IMPACT TESTING DEVICE例文帳に追加

衝撃試験方法および衝撃試験装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING HELIUM LEAKAGE AND DEVICE FOR TESTING HELIUM LEAKAGE例文帳に追加

ヘリウムリークテスト方法及びヘリウムリークテスト装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS, SEMICONDUCTOR TESTING METHOD AND SEMICONDUCTOR TESTING PROGRAM例文帳に追加

半導体試験装置、半導体試験方法および半導体試験プログラム - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, SEMICONDUCTOR TESTING PROGRAM AND SEMICONDUCTOR TESTING METHOD例文帳に追加

半導体試験装置、半導体試験プログラムおよび半導体試験方法 - 特許庁

TIRE BALANCE TESTING METHOD AND TIRE BALANCE TESTING MACHINE例文帳に追加

タイヤバランス試験方法及びタイヤバランス試験機 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING SYSTEM AND TESTING METHOD例文帳に追加

半導体装置の試験システム及び試験方法 - 特許庁

TESTING APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR WAFER, AND TESTING METHOD例文帳に追加

半導体ウエハの試験装置及び試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND SEMICONDUCTOR TESTING METHOD例文帳に追加

半導体テスト装置及び半導体テスト方法 - 特許庁

RUBBER ROLL TESTING DEVICE, AND RUBBER ROLL TESTING METHOD例文帳に追加

ゴムロール試験装置およびゴムロール試験方法 - 特許庁

INTERNAL PRESSURE TESTING DEVICE AND INTERNAL PRESSURE TESTING METHOD例文帳に追加

内圧試験装置および内圧試験方法 - 特許庁

TESTING EQUIPMENT AND TESTING METHOD FOR SIGNAL PROCESSOR例文帳に追加

信号処理装置のテスト装置及びテスト方法 - 特許庁

LIGHT-RESISTANCE TESTING EQUIPMENT AND LIGHT-RESISTANCE TESTING METHOD例文帳に追加

耐光性試験装置及び耐光性試験方法 - 特許庁

TESTING DEVICE, MOBILE TERMINAL DEVICE, AND TESTING METHOD例文帳に追加

試験装置、移動端末装置及び試験方法 - 特許庁

BACTERIOLOGICAL TESTING APPARATUS AND BACTERIOLOGICAL TESTING METHOD例文帳に追加

微生物検査装置および微生物検査方法 - 特許庁

TEMPERATURE TESTING DEVICE, TEMPERATURE TESTING METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

温度試験装置、温度試験方法及びプログラム - 特許庁

MAGNETIC DISK DEVICE TESTING METHOD AND TESTING DEVICE例文帳に追加

磁気ディスク装置の試験方法および試験装置 - 特許庁

TEST-USE PROGRAM, TESTING SYSTEM AND TESTING METHOD例文帳に追加

検査用プログラム、検査システム並びに検査方法 - 特許庁

TESTING CIRCUIT AND TESTING METHOD FOR VOLTAGE STEP-UP CIRCUIT例文帳に追加

昇圧回路の試験回路及び試験方法 - 特許庁

DIRECT-CURRENT TESTING DEVICE AND SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS例文帳に追加

直流試験装置及び半導体試験装置 - 特許庁

To provide an interposer testing structure and an interposer testing method.例文帳に追加

インターポーザ試験構造と方法を提供する。 - 特許庁