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「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(24ページ目) - Weblio英語例文検索


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Testingを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 14405



例文

SEABED CONE PENETRATION TESTING MACHINE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

水底コーン貫入試験機およびその試験方法 - 特許庁

MODULE FOR TESTING, AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

試験用モジュール及び半導体装置の試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE AND TESTING METHOD例文帳に追加

半導体集積回路試験装置及び試験方法 - 特許庁

RFID TAG TESTING METHOD AND RFID TAG TESTING SYSTEM例文帳に追加

RFIDタグの試験方法及びその試験システム - 特許庁

例文

TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR ELEMENT AND TESTING EQUIPMENT THEREOF例文帳に追加

半導体素子の試験方法およびその試験装置 - 特許庁


例文

TESTING CIRCUIT AND DISPLAY APPARATUS HAVING THE TESTING CIRCUIT例文帳に追加

検査回路及び検査回路を有する表示装置 - 特許庁

REFLOW HEATING TESTING DEVICE AND REFLOW HEATING TESTING METHOD例文帳に追加

リフロー加熱試験装置、及びリフロー加熱試験方法 - 特許庁

TESTING PROCESS AND TESTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR LASER DEVICE例文帳に追加

半導体レーザ装置の試験方法及び試験装置 - 特許庁

METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR LASER, AND LASER TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体レーザの試験方法およびレーザ試験装置 - 特許庁

例文

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND SEMICONDUCTOR TESTING METHOD例文帳に追加

半導体試験装置及びその半導体試験方法 - 特許庁

例文

TESTING DEVICE AND ITS TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR ELEMENT例文帳に追加

半導体素子の試験装置及びその試験方法 - 特許庁

TRANSMITTER, RECEIVER, TESTING CIRCUIT, AND TESTING METHOD例文帳に追加

送信装置、受信装置、テスト回路、およびテスト方法 - 特許庁

DEVICE FOR TESTING COMMUNICATION PROTOCOL例文帳に追加

通信プロトコル試験装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING PROCESSING WASTEWATER例文帳に追加

廃水処理試験方法 - 特許庁

CAN LEAKAGE TESTING METHOD例文帳に追加

缶詰のリーク試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING IMPERVIOUS SHEET例文帳に追加

遮水シート検査方式 - 特許庁

METHOD FOR TESTING CYTOTOXICITY例文帳に追加

細胞毒性検査方法 - 特許庁

VEHICLE BEHAVIOR TESTING APPARATUS例文帳に追加

車両挙動試験装置 - 特許庁

BOTH EYES PUPIL TESTING APPARATUS例文帳に追加

両眼瞳孔検査装置 - 特許庁

HOPKINSON BAR TESTING APPARATUS例文帳に追加

ホプキンソン棒法試験装置 - 特許庁

POWDER CHARACTERISTIC TESTING APPARATUS例文帳に追加

粉体特性試験装置 - 特許庁

BALLISTIC MORTAR TESTING DEVICE例文帳に追加

弾動臼砲試験装置 - 特許庁

UNIT MODULE TESTING METHOD例文帳に追加

単体モジュール試験方法 - 特許庁

RUBBER ROLLER EVALUATING AND TESTING MACHINE例文帳に追加

ゴムローラの評価試験機 - 特許庁

TESTING SUBSTRATE FIXING MECHANISM例文帳に追加

検査用基板固定機構 - 特許庁

ABRASION TESTING METHOD OF TIRE例文帳に追加

タイヤの摩耗試験方法 - 特許庁

METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

半導体ウエハのテスト法 - 特許庁

TESTING DEVICE OF CIRCUIT BOARD例文帳に追加

回路基板の検査装置 - 特許庁

APPARATUS FOR TESTING PARTICLE CHARACTERISTICS例文帳に追加

粒子特性試験装置 - 特許庁

BUCKLER ROTARY TESTING METHOD例文帳に追加

バックラー回転試験方法 - 特許庁

HOLDER DEVICE FOR TESTING CONNECTOR例文帳に追加

コネクタ検査用ホルダ装置 - 特許庁

SOLDER WETTABILITY TESTING APPARATUS例文帳に追加

はんだぬれ性試験装置 - 特許庁

MINUTE MATERIAL TESTING APPARATUS例文帳に追加

微小材料試験装置 - 特許庁

TESTING DEVICE OF TRANSMISSION BELT例文帳に追加

伝動ベルトの試験装置 - 特許庁

LIGHT STABILITY-TESTING APPARATUS例文帳に追加

光安定性試験装置 - 特許庁

SHAKER AND METHOD OF TESTING例文帳に追加

加振機及び試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING SKIN AGING例文帳に追加

皮膚老化の検査方法 - 特許庁

BONDING STRENGTH TESTING DEVICE例文帳に追加

ボンディング強度試験装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING VIDEO SYNCHRONIZATION例文帳に追加

映像同期試験方法 - 特許庁

AUTOMATIC VISUAL FUNCTION TESTING DEVICE例文帳に追加

自動視機能検査装置 - 特許庁

APPARATUS FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路検査装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING AIRTIGHTNESS PERFORMANCE例文帳に追加

気密性能試験方法 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR ELECTRONIC EQUIPMENT例文帳に追加

電子機器用試験装置 - 特許庁

DIRECT DIFFUSION TESTING DEVICE例文帳に追加

直接拡散試験装置 - 特許庁

TESTING DEVICE OF CONTROLLER例文帳に追加

制御装置の試験装置 - 特許庁

TIRE UNIFORMITY TESTING SYSTEM例文帳に追加

タイヤ均等性試験装置 - 特許庁

TWO-LAYER OPTICAL DISK FOR TESTING例文帳に追加

テスト用二層光ディスク - 特許庁

CONDUCTION IMMUNITY TESTING DEVICE例文帳に追加

伝導イミュニティ試験装置 - 特許庁

APPARATUS FOR TESTING ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

電子デバイスの試験装置 - 特許庁

例文

ORGANISM INFORMATION TESTING DEVICE例文帳に追加

生体情報検査装置 - 特許庁




  
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