「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(28ページ目) - Weblio英語例文検索

IMAGE SENSOR, TESTING SYSTEM AND TESTING METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

イメージセンサ及びそのためのテストシステム並びにテスト方法 - 特許庁

K. Principal name: ---- null entry here will cause an exit 14.7.6 Testing It All Out 例文帳に追加

14.6.5. すべてのテスト - FreeBSD

Code Listing4.1: Testing rendering 例文帳に追加

コード表示4.1:レンダリングのテスト - Gentoo Linux

Testing for an Expected Exception 例文帳に追加

予想される例外のテスト - NetBeans

TESTING WAVEFORM SUPPLY METHOD, SEMICONDUCTOR TESTING METHOD, DRIVER, AND SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUST例文帳に追加

試験波形供給方法、半導体試験方法、ドライバ、及び半導体試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS, AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置と半導体装置の試験方法 - 特許庁

TESTING PROCESS AND TESTING CIRCUIT FOR DIFFERENTIAL OUTPUT CIRCUIT例文帳に追加

差動出力回路の試験方法および試験回路 - 特許庁

TEMPERATURE CYCLE TESTING APPARATUS AND TEMPERATURE CYCLE TESTING METHOD例文帳に追加

温度サイクル試験装置および温度サイクル試験方法 - 特許庁

LOGIC SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS例文帳に追加

ロジック半導体試験装置 - 特許庁

DRIVE CONTROL METHOD OF TIRE TESTING MACHINE AND TIRE TESTING MACHINE例文帳に追加

タイヤ試験機の駆動制御方法及びタイヤ試験機 - 特許庁

COMPRESSION TESTING METHOD, COMPRESSION TESTING MACHINE, AND PROGRAM例文帳に追加

圧縮試験方法及び圧縮試験機、並びにプログラム - 特許庁

TESTING APPARATUS AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE例文帳に追加

半導体記憶装置の試験装置及び試験方法 - 特許庁

LEAKAGE TESTING TOOL FOR FLANGE例文帳に追加

フランジ用漏洩試験治具 - 特許庁

CONTROL APPARATUS, ITS TESTING APPARATUS AND TESTING METHOD例文帳に追加

制御装置並びにその試験装置及び試験方法 - 特許庁

SUBSTRATE FOR IC TESTING APPARATUS例文帳に追加

ＩＣ検査装置用基板 - 特許庁

SLEEP TESTING APPARATUS AND SLEEP APNEA TESTING APPARATUS例文帳に追加

睡眠検査装置および睡眠時無呼吸検査装置 - 特許庁

CODEC SOFTWARE TESTING DEVICE AND CODEC SOFTWARE TESTING METHOD例文帳に追加

コーデックソフトウェア試験装置及びコーデックソフトウェア試験方法 - 特許庁

TESTING CIRCUIT AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の試験回路及び試験方法 - 特許庁

TESTING DEVICE AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の試験装置及び試験方法 - 特許庁

CONCRETE SHEARING TESTING METHOD AND SHEARING TESTING TOOL例文帳に追加

コンクリートのせん断試験方法及びせん断試験用治具 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING METHOD AND SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体デバイス試験方法・半導体デバイス試験装置 - 特許庁

THERMOSTATIC TYPE WEATHERABILITY TESTING METHOD AND WEATHERABILITY TESTING MACHINE例文帳に追加

恒温形耐候光試験方法および耐候光試験機 - 特許庁

TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TESTING CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト方法及びテスト回路 - 特許庁

CALIBRATION METHOD FOR SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS, THE SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS, AND SEMICONDUCTOR TESTING METHOD例文帳に追加

半導体試験装置の校正方法、半導体試験装置、半導体試験方法 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR D/A CONVERTER AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

Ｄ／Ａコンバータの試験装置およびその試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, SEMICONDUCTOR TESTING METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

半導体試験装置、半導体試験方法及びプログラム - 特許庁

ANTENNA SYSTEM FOR TESTING EMC AND EMC TESTING APPARATUS例文帳に追加

ＥＭＣ試験用アンテナ装置及びＥＭＣ試験装置 - 特許庁

Figure-2 Result of the Water Quality Testing例文帳に追加

図 4-2 水質検査結果 - 厚生労働省

And we took it for testing.例文帳に追加

テストへと持ち出しました - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

She's testing you.例文帳に追加

彼女はあなたを試してる - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

CELL LEAKAGE TESTING DEVICE例文帳に追加

電池の液漏れ検査装置 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT TESTING METHOD例文帳に追加

集積回路のテスト方法 - 特許庁

CRUISE TESTING DEVICE FOR VEHICLE例文帳に追加

車両走行試験装置 - 特許庁

TESTING SYSTEM OF PRESSURE RISE SUPPLY DEVICE AND TESTING METHOD例文帳に追加

昇圧供給装置の試験システム及び試験方法 - 特許庁

REMOTE TESTING DEVICE OF INTERCOM例文帳に追加

ドアホンの遠隔試験装置 - 特許庁

TESTING CIRCUIT OF ANALOG-TO-DIGITAL CONVERTER AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

Ａ／Ｄ変換器の試験回路及びその試験方法 - 特許庁

TESTING DEVICE AND METHOD FOR SELF-ADVANCING TESTING MACHINE例文帳に追加

自走式試験機の試験装置及びその試験方法 - 特許庁

SHOCK TESTING DEVICE FOR AUTOMOBILE例文帳に追加

自動車のショックテスト装置 - 特許庁

VEHICLE COLLISION TESTING APPARATUS例文帳に追加

車両衝突試験装置 - 特許庁

DISCHARGE CHARACTERISTIC TESTING APPARATUS AND DISCHARGE CHARACTERISTIC TESTING METHOD例文帳に追加

放電特性テスト装置および放電特性テスト方法 - 特許庁

SOCKET FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加

電子部品試験用ソケット - 特許庁

CONSTANT DISPLACEMENT FATIGUE TESTING APPARATUS例文帳に追加

定変位疲労試験装置 - 特許庁

HYDROPHILIC STATE TESTING METHOD例文帳に追加

親水状態検査方法 - 特許庁

To provide a testing device and a testing method that reduce load to global environment and are capable of performing high-voltage testing without making a testing device or a facility for testing complex.例文帳に追加

地球環境への負荷を低減し、かつ、試験装置や試験のための設備を複雑にすることなく、高電圧試験を実現する。 - 特許庁

A second testing circuit 25 and a third testing circuit 26A also perform testing operation similarly to the first testing circuit 24 and the third testing circuit 26B.例文帳に追加

さらに、第２テスト回路２５と第３テスト回路２６Ａも、第２テスト回路２４と第３テスト回路２６Ｂと同様にテスト動作を行う。 - 特許庁