「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(31ページ目) - Weblio英語例文検索

NETWORK TESTING DEVICE, NETWORK TESTING METHOD, AND PROGRAM THEREOF例文帳に追加

ネットワーク試験装置、ネットワーク試験方法およびそのプログラム - 特許庁

REMOTE TESTING METHOD AND REMOTE TESTING SYSTEM FOR CONTROLLER例文帳に追加

制御装置の遠隔試験方法及び遠隔試験システム - 特許庁

EXPANSIVE PROPERTY EVALUATION TESTING DEVICE AND EXPANSIVE PROPERTY EVALUATION TESTING METHOD例文帳に追加

拡管性評価試験機及び拡管性評価試験方法 - 特許庁

PART-TESTING SYSTEM AND COMMUNICATION METHOD OF PART- TESTING SYSTEM例文帳に追加

部品試験システムおよび部品試験システムの通信方法 - 特許庁

EDDY CURRENT-UTILIZING FLAW DETECTION TESTING APPARATUS AND TESTING METHOD OF THE SAME例文帳に追加

渦電流探傷試験装置およびその試験方法 - 特許庁

TENSILE TESTING DEVICE AND TESTING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

引張試験装置、該引張試験装置を用いた試験方法 - 特許庁

Withstand voltage testing device, material testing machine, and electrical measuring instrument 例文帳に追加

耐電圧試験装置、材料試験機及び電気計測器 - 日本法令外国語訳データベースシステム

TESTING/DIAGNOSING METHOD AND TESTING/DIAGNOSING DEVICE FOR STORAGE DEVICE例文帳に追加

記憶装置の試験・診断方法および試験・診断装置 - 特許庁

TIRE TESTING MACHINE AND RUN-OUT MEASURING METHOD FOR TIRE TESTING MACHINE例文帳に追加

タイヤ試験機とそのタイヤ試験機の芯ぶれ測定方法 - 特許庁

DEVICE FOR PULL-OUT TESTING OF EYELESS NEEDLE AND TESTING METHOD OF THE SAME例文帳に追加

医療用アイレス針の引抜試験装置及び試験方法 - 特許庁

To provide a testing device and a technique for testing a protection device appropriately.例文帳に追加

防御装置を適切に試験する技術を提供する。 - 特許庁

CALL PROCESSING TESTING METHOD, CALL PROCESSING TESTING DEVICE, AND ITS PROGRAM例文帳に追加

呼処理試験方法、呼処理試験装置及びそのプログラム - 特許庁

MAGNETIC HEAD SLIDER TESTING APPARATUS AND MAGNETIC HEAD SLIDER TESTING METHOD例文帳に追加

磁気ヘッドスライダ検査装置および磁気ヘッドスライダ検査方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR-DEVICE TESTING APPARATUS AND SEMICONDUCTOR-DEVICE TESTING METHOD例文帳に追加

半導体デバイス試験装置及び半導体デバイス試験方法 - 特許庁

TEMPERATURE TESTING METHOD AND TEMPERATURE TESTING APPARATUS OF RADAR MODULE例文帳に追加

レーダモジュールの温度試験方法およびその温度試験装置 - 特許庁

LONG TERM TESTING SYSTEM, TESTING CONTAINER AND MEASUREMENT CONTAINER例文帳に追加

長期間試験システム、試験用容器および測定用容器 - 特許庁

SPHERICAL IC TESTING METHOD AND SPHERICAL IC TESTING DEVICE例文帳に追加

球状ＩＣ試験方法及び球状ＩＣ試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置及び半導体デバイスの試験方法 - 特許庁

TESTING SYSTEM, TESTING METHOD, AND METHOD OF MANUFACTURING ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

検査システム，検査方法，及び電子装置の製造方法 - 特許庁

INTERFACE CIRCUIT TESTING DEVICE AND INTERFACE CIRCUIT TESTING METHOD例文帳に追加

インターフェース回路テスト装置およびインターフェース回路テスト方法 - 特許庁

HOSE PRESSURE-PROOFNESS TESTING TOOL AND HOSE PRESSURE-PROOFNESS TESTING METHOD例文帳に追加

ホース用耐圧試験用具、及び、ホース用耐圧試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING SYSTEM AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体試験システム及び半導体装置の試験方法 - 特許庁

SOLDER WETTABILITY TESTING DEVICE AND SOLDER WETTABILITY TESTING METHOD例文帳に追加

はんだ濡れ性試験装置及びはんだ濡れ性試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置及び半導体装置の試験方法 - 特許庁

PEELING RESISTANCE TESTING METHOD AND TESTING DEVICE FOR PRESSURE SENSITIVE ADHESIVE TAPE例文帳に追加

粘着テープの耐剥離性試験方法、および、試験装置 - 特許庁

TESTING APPARATUS FOR ELECTRICAL EQUIPMENT, AND TESTING METHOD OF ELECTRICAL EQUIPMENT例文帳に追加

電気機器用試験装置および電気機器の試験方法 - 特許庁

HIGH-VOLTAGE GROUND FAULT RELAY TESTING CIRCUIT WITH BUILT-IN GROUND FAULT TESTING CIRCUIT例文帳に追加

地絡試験回路内蔵高圧地絡継電器試験回路 - 特許庁

TESTING METHOD OF ELECTRIC BOARD AND STRUCTURE OF TESTING OBJECT ELECTRIC BOARD例文帳に追加

電気基板の試験方法と被試験電気基板の構造 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING METHOD例文帳に追加

半導体装置の試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加

半導体チップのテスト方法 - 特許庁

TESTING DEVICE OF AUTOMATIC TRANSMISSION例文帳に追加

自動変速機の試験装置 - 特許庁

HEMOLYTIC ANEMIA TESTING METHOD例文帳に追加

溶血性貧血検査方法 - 特許庁

WATER-COOLING TYPE IC TESTING DEVICE例文帳に追加

水冷式ＩＣ試験装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING PRODUCT CHARACTER例文帳に追加

製品特性の検査方法 - 特許庁

PLUG FOR TESTING OF PIPING WORK例文帳に追加

配管工事のテスト用プラグ - 特許庁

UNDERWATER PENETRATION TESTING MACHINE例文帳に追加

水中用の貫入試験機 - 特許庁

TERMINAL PLUG FOR TESTING RELAY例文帳に追加

継電器試験用端子プラグ - 特許庁

DELAY CIRCUIT AND TESTING DEVICE例文帳に追加

遅延回路、及び試験装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR PRESSURE TESTING例文帳に追加

加圧試験方法及び装置 - 特許庁

When a testing circuit 21 generates a testing signal by a testing mode signal, this testing signal is supplied to a sequencer 15.例文帳に追加

テストモード信号により、テスト回路２１がテスト信号を発生すると、このテスト信号がシーケンサ１５に供給される。 - 特許庁

METHOD OF TESTING SiC SUBSTRATE例文帳に追加

ＳｉＣ基板の検査方法 - 特許庁

TESTING APPARATUS OF HARD DISK DRIVE例文帳に追加

ハードディスクドライブの試験装置 - 特許庁

DROP TESTING APPARATUS FOR DRY ICE例文帳に追加

ドライアイスの落下試験装置 - 特許庁

ULTRASONIC FLAW DETECTION TESTING DEVICE例文帳に追加

超音波探傷試験装置 - 特許庁

SOLID-STATE IMAGING ELEMENT TESTING DEVICE例文帳に追加

固体撮像素子テスト装置 - 特許庁