Testingを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 14405件
EDDY-CURRENT FLAW DETECTION TESTING DEVICE例文帳に追加
渦流探傷試験装置 - 特許庁
NONDESTRUCTIVE ROLLOVER TESTING MACHINE例文帳に追加
非破壊型ロールオーバー試験機 - 特許庁
TESTING APPARATUS OF INTERNAL COMBUSTION ENGINE例文帳に追加
内燃機関の試験装置 - 特許庁
Deploying and Testing the Web Service 例文帳に追加
Web サービスの配備およびテスト - NetBeans
SPOT WELDING STRENGTH TESTING TOOL例文帳に追加
スポット溶接強度試験具 - 特許庁
TEST BOARD FOR TESTING SEMICONDUCTOR例文帳に追加
半導体試験用テストボード - 特許庁
CASSETTE FOR TESTING PATHOLOGICAL TISSUE例文帳に追加
病理組織検査用カセット - 特許庁
TORQUE WRENCH FOR TESTING SUBSEQUENTLY TIGHTENING例文帳に追加
増し締め検査用トルクレンチ - 特許庁
Testing the Add Wish Functionality 例文帳に追加
ウィッシュの追加機能のテスト - NetBeans
In particular,dictionaries support memership testing as a nicer way of spelling 例文帳に追加
特に、辞書型では、 - Python
METHOD FOR TESTING COMMUNICATION APPARATUS例文帳に追加
通信装置の試験方法 - 特許庁
TESTING DEVICE FOR ELECTRONIC CROSSING例文帳に追加
電子踏切用試験装置 - 特許庁
TIRE UNIFORMITY TESTING DEVICE例文帳に追加
タイヤのユニフォーミティ試験装置 - 特許庁
INDIVIDUAL ENVIRONMENTAL TESTING DEVICE, INDIVIDUAL ENVIRONMENTAL TESTING METHOD AND MODULE TESTING DEVICE FOR OPTICAL TRANSMISSION例文帳に追加
個別環境試験装置、個別環境試験方法および光伝送用モジュール試験装置 - 特許庁
STANDARD TESTING SPECIMEN FOR ANTIMICROBIAL PROPERTY TESTING, METHOD FOR PRODUCING THE SAME AND METHOD FOR ANTIMICROBIAL PROPERTY TESTING例文帳に追加
抗菌性試験用標準試験片、その製造方法及び抗菌性試験方法 - 特許庁
MOUNT TESTING APPARATUS FOR TESTING APPROPRIATE DESIGN OF LAND PATTERN, AND ITS MOUNT TESTING METHOD例文帳に追加
ランドパターンの設計の適否を試験する実装試験装置及びその実装試験方法 - 特許庁
TESTING CIRCUIT, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE WITH TESTING CIRCUIT BUILT IN, AND TESTING METHOD例文帳に追加
テスト回路、そのテスト回路を内蔵した半導体集積回路装置、及びそのテスト方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING SYSTEM AND SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS, WAFER TO BE TESTED, AND SEMICONDUCTOR TESTING METHOD例文帳に追加
半導体試験システム、半導体試験装置、被試験ウェハおよび半導体試験方法 - 特許庁
OPERATION PANEL AND TENSILE TESTING MACHINE, COMPRESSION TESTING MACHINE OR TENSILE/COMPRESSION TESTING MACHINE HAVING IT例文帳に追加
操作パネル及びこれを有する引張試験機、圧縮試験機又は引張・圧縮試験機 - 特許庁
STANDARD WAFER FOR TESTING SEMICONDUCTOR, METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR, AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加
半導体検査用標準ウエハ、半導体の検査方法および半導体検査装置 - 特許庁
STRESS-TESTING CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND STRESS-TESTING METHOD USING THE STRESS-TESTING CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路のストレス試験回路、及びこの回路を用いたストレス試験方法 - 特許庁
PART-TESTING SYSTEM AND COMMUNICATION METHOD OF PART- TESTING SYSTEM例文帳に追加
部品試験システムおよび部品試験システムの通信方法 - 特許庁
EDDY CURRENT-UTILIZING FLAW DETECTION TESTING APPARATUS AND TESTING METHOD OF THE SAME例文帳に追加
渦電流探傷試験装置およびその試験方法 - 特許庁
BEARING POWER TESTING METHOD AND TESTING DEVICE FOR PILE BURIED IN GROUND例文帳に追加
地盤埋設杭の支持力試験方法および試験装置 - 特許庁
CDMA BASE STATION TESTING DEVICE AND BASE STATION TESTING METHOD例文帳に追加
CDMA基地局試験装置及び基地局試験方法 - 特許庁
ULTRASONIC FATIGUE TESTING APPARATUS AND ULTRASONIC FATIGUE TESTING METHOD例文帳に追加
超音波疲労試験装置及び超音波疲労試験方法 - 特許庁
To provide a testing device and a technique for testing a protection device appropriately.例文帳に追加
防御装置を適切に試験する技術を提供する。 - 特許庁
TESTING/DIAGNOSING METHOD AND TESTING/DIAGNOSING DEVICE FOR STORAGE DEVICE例文帳に追加
記憶装置の試験・診断方法および試験・診断装置 - 特許庁
DRIVING METHOD FOR VIBRATION TESTING DEVICE AND VIBRATION TESTING DEVICE例文帳に追加
振動試験装置の駆動方法及び振動試験装置 - 特許庁
APPARATUS FOR TESTING LIQUID CRYSTAL DISPLAY ELEMENT AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加
液晶表示素子の検査装置及びその検査方法 - 特許庁
DISPENSING METHOD FOR SPECIMEN TESTING DEVICE AND SPECIMEN TESTING DEVICE例文帳に追加
検体試験装置の分注方法及び検体試験装置 - 特許庁
THREE-AXIS CELL, THREE-AXIS TESTING DEVICE, AND THREE-AXIS TESTING METHOD例文帳に追加
三軸セル、三軸試験装置および三軸試験方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING MAGNETIC HEAD ELEMENT, TESTING DEVICE, AND TEST PROGRAM例文帳に追加
磁気ヘッド素子の試験方法、試験装置、及び試験プログラム - 特許庁
ELECTRONIC CONTROL DEVICE, SIMULATION DEVICE, TESTING DEVICE, AND TESTING METHOD例文帳に追加
電子制御装置、模擬装置、試験装置および試験方法 - 特許庁
LOOP-BACK TESTING APPARATUS, LOOP-BACK TESTING METHOD, AND PROGRAM THEREFOR例文帳に追加
ループバック試験装置、ループバック試験方法、およびそのプログラム - 特許庁
PHOTORECEPTOR DETERIORATION ACCELERATION TESTING METHOD AND ACCELERATION TESTING EQUIPMENT例文帳に追加
感光体劣化加速試験方法及び加速試験装置 - 特許庁
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