Testingを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 14414件
TESTING DEVICE FOR COMPRESSOR PERFORMANCE例文帳に追加
圧縮機性能試験装置 - 特許庁
CHROMATOGRAPHIC ANALYSIS AND TESTING INSTRUMENT例文帳に追加
クロマトグラフィ分析試験装置 - 特許庁
COMPOSITE FUNCTION MATERIAL-TESTING MACHINE例文帳に追加
複合機能材料試験機 - 特許庁
RADIO COMMUNICATION DEVICE TESTING APPARATUS例文帳に追加
無線通信機器試験装置 - 特許庁
DATA TRANSMISSION SYSTEM TESTING DEVICE例文帳に追加
データ伝送システム試験装置 - 特許庁
OSCILLATION TESTING DEVICE LIMIT SENSOR例文帳に追加
動揺試験装置リミットセンサー - 特許庁
SEMICONDUCTOR ELEMENT TESTING METHOD例文帳に追加
半導体素子の試験方法 - 特許庁
HEATING FURNACE FOR MATERIAL TESTING MACHINE例文帳に追加
材料試験機用加熱炉 - 特許庁
MATERIAL TESTING METHOD FOR STEEL PLATE例文帳に追加
鋼鈑の材質試験方法 - 特許庁
TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加
半導体チップの試験装置 - 特許庁
FULL AUTOMATIC MATERIAL-TESTING DEVICE例文帳に追加
全自動材料試験装置 - 特許庁
METHOD OF TESTING SUBSCRIBER LINE例文帳に追加
加入者線路試験方法 - 特許庁
NOISE TESTING DEVICE OF MAGNETIC TAPE例文帳に追加
磁気テープのノイズ検査装置 - 特許庁
IMPACT TESTING APPARATUS USING STEEL BALL例文帳に追加
鋼球衝撃試験装置 - 特許庁
IMAGE PROCESSOR FOR TESTING MACHINE例文帳に追加
検査機用画像処理装置 - 特許庁
SERIAL COMMUNICATION CARD TESTING DEVICE例文帳に追加
シリアル通信カード試験装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR WAFER TESTING METHOD例文帳に追加
半導体ウェアの試験方法 - 特許庁
VALVE AND VALVE SEAT ABRASION TESTING MACHINE例文帳に追加
バルブ・バルブシート摩耗試験機 - 特許庁
DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR ELEMENT例文帳に追加
半導体素子の試験装置 - 特許庁
Chapter IV Designated Testing Agency 例文帳に追加
第四章 指定試験機関 - 日本法令外国語訳データベースシステム
Building and Testing a Web Application 例文帳に追加
Web アプリケーションの構築とテスト - NetBeans
SUBSCRIBER CIRCUIT TESTING DEVICE, SUBSCRIBER CIRCUIT TESTING SYSTEM, SUBSCRIBER CIRCUIT TESTING METHOD AND SUBSCRIBER CIRCUIT TESTING PROGRAM例文帳に追加
加入者回路試験装置、加入者回路試験システム、加入者回路試験方法および加入者回路試験プログラム - 特許庁
(i) sensor sensitivity testing device 例文帳に追加
一 感知器感度試験装置 - 日本法令外国語訳データベースシステム
(ii) compressive strength testing device 例文帳に追加
二 圧縮強度試験装置 - 日本法令外国語訳データベースシステム
BALL SCREW ENDURANCE TESTING APPARATUS例文帳に追加
ボールねじ耐久試験装置 - 特許庁
ARTIFICIAL NETWORK SWITCH TESTING DEVICE例文帳に追加
擬似ネットワークスイッチ試験装置 - 特許庁
METHOD OF TESTING CHARACTERISTIC OF DEVICE例文帳に追加
デバイスの特性試験方法 - 特許庁
TESTING DEVICE OF AIR CONDITIONER例文帳に追加
空気調和機の試験装置 - 特許庁
LOW-POWER-CONSUMPTION TESTING CIRCUIT例文帳に追加
低消費電力テスト回路 - 特許庁
PARALLEL TESTING FOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
集積回路の並列試験 - 特許庁
BALL-TESTING DEVICE FOR METAL PIPE例文帳に追加
金属管用ボールテスト装置 - 特許庁
CONTROL SYSTEM FOR VIBRATION TESTING MACHINE例文帳に追加
振動試験機制御システム - 特許庁
TESTING DEVICE OF ELECTROMAGNETIC CONTACTOR例文帳に追加
電磁接触器のテスト装置 - 特許庁
OPTICAL LINE TESTING AND MONITORING SYSTEM例文帳に追加
光線路試験監視システム - 特許庁
TESTING CONNECTOR OF ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加
電子部品の試験用コネクタ - 特許庁
TESTING DEVICE AND ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加
試験装置及び電子デバイス - 特許庁
METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
集積回路の試験方法 - 特許庁
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| ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。 |
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