Testingを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 14414件
METHOD OF TESTING SOLDER HEAT RESISTANCE例文帳に追加
はんだ耐熱性試験方法 - 特許庁
AUTOMATIC FERTILIZED EGG TESTING APPARATUS例文帳に追加
有精卵自動検卵装置 - 特許庁
HYDRAULIC PRESSURE REPRODUCTION LOAD TESTING DEVICE例文帳に追加
水圧再現載荷試験装置 - 特許庁
TESTING APPARATUS AND MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
試験装置及び製造方法 - 特許庁
POWER SUPPLY CIRCUIT AND TESTING DEVICE例文帳に追加
電源回路及び試験装置 - 特許庁
SUBSTRATE TESTING METHOD AND SUBSTRATE TESTING DEVICE USING SAME METHOD例文帳に追加
基板検査方法およびこの方法を用いた基板検査装置 - 特許庁
BATTERY TESTING APPARATUS, BATTERY TESTING METHOD AND BATTERY TEST PROGRAM例文帳に追加
電池試験装置と電池試験方法及び電池試験プログラム - 特許庁
MEASUREMENT APPARATUS, TESTING SYSTEM AND TESTING METHOD FOR FEMTOCELL BASE STATIONS例文帳に追加
フェムトセル基地局の測定装置、試験システム及び試験方法 - 特許庁
To provide a testing device capable of testing a semiconductor device including a TSV, and a testing method.例文帳に追加
TSVを備える半導体デバイスを試験可能な試験装置、試験方法を提供する。 - 特許庁
WATERPROOF TESTING DEVICE, WATERPROOF TESTING METHOD, AND WATERPROOF TEST PROGRAM例文帳に追加
防水試験装置、防水試験方法および防水試験プログラム - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE-TESTING APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置試験装置および半導体装置試験方法 - 特許庁
Testing of the touch panel is performed using the testing device 11-1.例文帳に追加
検査装置11−1を用いてタッチパネルの検査を行う。 - 特許庁
PROGRAM TESTING DEVICE, PROGRAM TESTING METHOD, AND PROGRAM TEST SYSTEM例文帳に追加
プログラム検査装置、プログラム検査方法およびプログラム検査システム - 特許庁
TESTING APPARATUS FOR GAS ANALYTICAL DEVICE例文帳に追加
ガス分析装置の試験装置 - 特許庁
CONNECTING UNIT AND TESTING DEVICE例文帳に追加
接続ユニットおよび試験装置 - 特許庁
INCORPORATED SELF-TESTING CIRCUIT FOR MEMORY例文帳に追加
メモリ用内蔵自己テスト回路 - 特許庁
TESTING METHOD OF DISK DRIVE例文帳に追加
ディスク・ドライブ装置のテスト方法 - 特許庁
To reduce the total time for a testing for a semiconductor device testing system.例文帳に追加
半導体装置の試験システムの試験の総時間の短縮。 - 特許庁
METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体デバイス試験方法及び半導体デバイス試験装置 - 特許庁
VIBRATION TESTING APPARATUS FOR STRUCTURE AND ITS VIBRATION TESTING METHOD例文帳に追加
構造物の振動試験装置およびその振動試験方法 - 特許庁
AUTOMATIC TESTING DEVICE AND AUTOMATIC TESTING METHOD FOR PORTABLE TERMINAL EQUIPMENT例文帳に追加
携帯端末装置の自動試験装置および自動試験方法 - 特許庁
TESTING SOCKET FOR SEMICONDUCTOR APPARATUS例文帳に追加
半導体機器のテスト用ソケット - 特許庁
TCP TESTING DEVICE, AND PREPARATORY WORK METHOD FOR TCP TESTING DEVICE例文帳に追加
TCP試験装置及びTCP試験装置の段取方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, TESTING DEVICE THEREFOR, AND TESTING METHOD例文帳に追加
半導体集積回路装置、その試験装置及び試験方法 - 特許庁
Appointment of Designated Testing Agency 例文帳に追加
指定試験実施機関の指定 - 日本法令外国語訳データベースシステム
METHOD FOR TESTING UNVULCANIZED CARCASS PLY例文帳に追加
未加硫カーカスプライの試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING APPARATUS, TESTING BOARD, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING METHOD例文帳に追加
半導体集積回路試験装置及び試験用ボード並びに半導体集積回路試験方法 - 特許庁
INTERPHONE TALKING TESTING DEVICE OF ELEVATOR AND TALKING TESTING METHOD USING INTERPHONE TALKING TESTING DEVICE例文帳に追加
エレベータのインターホン通話試験装置およびそのインターホン通話試験装置を用いた通話試験方法 - 特許庁
The material testing machine includes a testing machine body and a personal computer.例文帳に追加
材料試験機は、試験機本体とパーソナルコンピュータとを含む。 - 特許庁
SEMICONDUCTOR WAFER, PROBE APPARATUS, WAFER TESTING APPARATUS, AND WAFER TESTING METHOD例文帳に追加
半導体ウエハ,プローブ装置,ウエハテスト装置およびウエハテスト方法 - 特許庁
OPERATION TESTING DEVICE FOR MICROPROCESSOR例文帳に追加
マイクロプロセッサの動作試験装置 - 特許庁
HARDNESS AND SOFTNESS TESTING METHOD, TESTING APPARATUS AND, MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加
硬軟試験方法、硬軟試験装置、及び硬軟測定装置 - 特許庁
METHOD FOR TESTING RADIO COMMUNICATIONS EQUIPMENT例文帳に追加
無線通信機器試験方法 - 特許庁
INFORMATION PROCESSOR TESTING SYSTEM例文帳に追加
情報処理装置試験方式 - 特許庁
ULTRASONIC TESTING DEVICE AND ULTRASONIC TESTING METHOD USING SAME例文帳に追加
超音波試験装置及びこれを用いた超音波試験方法 - 特許庁
HORIZONTAL VIBRATION TESTING DEVICE例文帳に追加
水平方向振動試験装置 - 特許庁
To provide an ultrasonic fatigue testing apparatus enhanced in precision as compared with a conventional ultrasonic fatigue testing apparatus and a conventional ultrasonic fatigue testing method, and an ultrasonic fatigue testing method.例文帳に追加
超音波疲労試験において、従来の装置、方法にくらべて精度が高い装置および方法を提供する。 - 特許庁
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
| ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。 |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
