Testingを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 14414件
TESTING APPARATUS FOR HOT BENDING STRENGTH例文帳に追加
熱間曲げ強度試験装置 - 特許庁
TESTING DEVICE AND CONTROL METHOD例文帳に追加
試験装置及び制御方法 - 特許庁
ULTRASONIC TESTING METHOD AND ULTRASONIC TESTING DEVICE USED THEREFOR例文帳に追加
超音波試験方法及びこれに用いる超音波試験装置 - 特許庁
WAFER TESTING METHOD AND PROBE CARD例文帳に追加
ウェハテスト方法及びプローブカード - 特許庁
TESTING METHOD FOR DATA PROCESSOR例文帳に追加
データ処理装置の試験方法 - 特許庁
TESTING DEVICE FOR TIRE VIBRATIONAL CHARACTERISTIC例文帳に追加
タイヤ振動特性試験装置 - 特許庁
WIRELESS CONNECTION CONFIRMATION TESTING DEVICE例文帳に追加
無線接続確認試験装置 - 特許庁
CONTROLLER OF MATERIAL TESTING MACHINE例文帳に追加
材料試験機の制御装置 - 特許庁
ANALYTICAL APPARATUS AND TESTING METHOD例文帳に追加
分析装置及び検査方法 - 特許庁
RADIO COMMUNICATION CHARACTERISTICS TESTING DEVICE例文帳に追加
無線通信特性試験装置 - 特許庁
DEVICE FOR TESTING SUBSTRATE FOR DISPLAY例文帳に追加
表示用基板の検査装置 - 特許庁
PROGRAM TESTING OPERATION SUPPORT SYSTEM例文帳に追加
プログラム試験作業支援システム - 特許庁
ALLERGIC DISEASE TESTING METHOD例文帳に追加
アレルギー性疾患の検査方法 - 特許庁
MEASUREMENT APPARATUS AND TESTING APPARATUS例文帳に追加
測定装置および試験装置 - 特許庁
EDDY-CURRENT FLAW DETECTION TESTING METHOD AND EDDY- CURRENT FLAW DETECTION TESTING DEVICE例文帳に追加
渦流探傷試験方法及び渦流探傷試験装置 - 特許庁
PRESSURE RESISTANCE TESTING METHOD OF PRESSURE CONTAINER AND PRESSURE RESISTANCE TESTING MACHINE例文帳に追加
圧力容器の耐圧試験方法及び耐圧試験装置 - 特許庁
TESTING APPARATUS FOR LIQUID TANK LEVEL SENSOR例文帳に追加
液槽レベルセンサの検査装置 - 特許庁
TORSION/BENDING COMBINED LOAD-TESTING MACHINE例文帳に追加
捩り・曲げ複合負荷試験機 - 特許庁
METHOD FOR TESTING WHOLE CHANNEL LOOP BACK TESTING METHOD FOR RELAY AND SWITCHING DEVICE例文帳に追加
中継器用全チャネルループバック試験方法及び切替装置 - 特許庁
WATER FLOW TYPE FISH TESTING APPARATUS例文帳に追加
流水式魚類試験装置 - 特許庁
TESTING CIRCUIT FOR LSI PROVIDED WITH FUNCTIONAL BLOCK, AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加
機能ブロックを備えたLSIのテスト回路及びテスト方法 - 特許庁
TESTING METHOD AND APPARATUS FOR IMPROVING YIELD RATIO OF TESTING OF MEMBERS例文帳に追加
部材の検査歩留りを向上させる検査方法と装置 - 特許庁
TESTING DEVICE FOR DATA STORAGE DEVICE例文帳に追加
データ記憶装置の試験装置 - 特許庁
SOIL-FILLED COLUMN TESTING APPARATUS AND TESTING METHOD USING THE SAME例文帳に追加
土壌充填カラム試験装置及びそれを用いた試験方法 - 特許庁
POWER SUPPLY CIRCUIT AND TESTING APPARATUS例文帳に追加
電源回路及び試験装置 - 特許庁
POWER SOURCE DEVICE, AND TESTING DEVICE例文帳に追加
電源装置及び試験装置 - 特許庁
POWER CIRCULATION TYPE TESTING APPARATUS例文帳に追加
動力循環式試験装置 - 特許庁
To provide testing device, test method and integrated circuit for testing a circuit having a counter, in a short time.例文帳に追加
カウンタを有する回路のテストを短時間で行うこと。 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND SEMICONDUCTOR TESTING TIME OPTIMIZING METHOD例文帳に追加
半導体テスト装置および半導体テスト時間最適化方法 - 特許庁
EVALUATION TESTING ARRANGEMENT AND EVALUATION TESTING METHOD OF FOULING INHIBITOR例文帳に追加
ファウリング防止剤の評価試験装置および評価試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD AND TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加
半導体集積回路装置の試験方法および試験装置 - 特許庁
TESTING SUPPORT DEVICE, FALSE ACTIVE CALL DEVICE, TESTING SUPPORT DEVICE CONTROL PROGRAM, AND TRANSMISSION PROCESSING APPARATUS TESTING METHOD例文帳に追加
試験支援装置、疑似呼装置、試験支援装置制御プログラム、及び、通信処理装置試験方法 - 特許庁
This testing device for the automobile 1 is an automobile testing device for testing the performance of the automobile as a testing object X.例文帳に追加
この自動車用試験装置1は、自動車を試験対象Xとして性能試験を行う自動車用試験装置である。 - 特許庁
SEMICONDUCTOR CIRCUIT AND TESTING METHOD例文帳に追加
半導体回路と試験方法 - 特許庁
THERMOSTATIC DEVICE FOR TESTING AND PERFORMANCE-TESTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加
試験用恒温装置及び半導体ウエハの性能試験装置 - 特許庁
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