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Testingを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 14414



例文

METHOD AND DEVICE FOR TESTING STRUCTURE例文帳に追加

構造物の試験装置及び試験方法 - 特許庁

PALETTE FEEDING METHOD OF ENVIRONMENTAL TESTING DEVICE例文帳に追加

環境試験装置のパレット搬送方法 - 特許庁

LIGHT SOURCE TESTING SYSTEM AND METHOD例文帳に追加

光源テストシステム及び光源のテスト方法 - 特許庁

MULTI-CHIP PACKAGE CAPABLE OF SHORTENING TESTING TIME例文帳に追加

テストタイムを短縮できるマルチチップパッケージ - 特許庁

例文

DEVICE AND METHOD FOR TESTING ELECTRONIC TAG例文帳に追加

電子タグのテスト装置およびその方法 - 特許庁


例文

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING CIGARETTE PACK, IN PARTICULAR例文帳に追加

特に、シガレットパックの試験方法と装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING BURN-IN例文帳に追加

バーイン試験装置、及び、バーイン試験方法 - 特許庁

DURABILITY TESTING METHOD FOR PNEUMATIC TIRE例文帳に追加

空気入りタイヤの耐久性試験方法 - 特許庁

DETERIORATION TESTER AND DETERIORATION TESTING METHOD例文帳に追加

劣化試験装置及び劣化試験方法 - 特許庁

例文

ELECTRONIC COMPONENT TESTING DEVICE AND FIXING DEVICE例文帳に追加

電子部品試験装置および固定装置 - 特許庁

例文

METHOD FOR TESTING MEMORY AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

メモリのテスト方法及び半導体装置 - 特許庁

ELECTRONIC DEVICE TESTING SYSTEM AND METHOD例文帳に追加

電子部品検査システムおよびその方法 - 特許庁

TESTING APPARATUS AND METHOD OF TRANSMITTER例文帳に追加

送信機の試験装置および試験方法 - 特許庁

POWER SUPPLY DEVICE AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

電源装置及び半導体試験装置 - 特許庁

AUTOMATIC TENSION TESTING MACHINE WITH CONSTANT TEMPERATURE BATH例文帳に追加

恒温槽を備えた自動引張試験機 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING OPTICAL DISK STAMPER例文帳に追加

光ディスクスタンパ検査方法及び装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING OUTER WALL CONTAMINATION例文帳に追加

外壁汚れ試験装置と、試験方法 - 特許庁

TEST PIECE HOLDING STRUCTURE FOR MATERIAL TESTING MACHINE例文帳に追加

材料試験機の試験片把持構造 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING HIGH-SPEED PRODUCT例文帳に追加

高速製品の試験方法及び装置 - 特許庁

METHOD OF ELECTRONICALLY TESTING MEMORY MODULES例文帳に追加

メモリモジュールを電子的に試験する方法 - 特許庁

TEST CIRCUIT, INTEGRATED CIRCUIT, AND TESTING METHOD例文帳に追加

テスト回路、集積回路及びテスト方法 - 特許庁

VARIABLE SPEED THREE-POINT BENDING IMPACT TESTING DEVICE例文帳に追加

可変速三点曲げ衝撃試験装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS OF TESTING TRANSMISSION PROTOCOL例文帳に追加

伝送プロトコルテスト方法及びテスト装置 - 特許庁

LIGHT STABILITY TESTING METHOD FOR INTRAOCULAR LENS例文帳に追加

眼内レンズの光安定性試験方法 - 特許庁

FATIGUE TESTING DEVICE AND METHOD FOR THIN PLATE例文帳に追加

薄板の疲労試験装置および方法 - 特許庁

TESTING DEVICE OF PHOTOSENSITIVE BODY FOR ELECTRONIC PHOTOGRAPH例文帳に追加

電子写真用感光体試験装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING OPERATION例文帳に追加

動作試験装置および動作試験方法 - 特許庁

ON-TABLE NOISE TESTING METHOD FOR TIRE SINGLE BODY例文帳に追加

タイヤ単体台上騒音試験方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING GENERATION OF GAS例文帳に追加

ガス発生試験装置及び試験方法 - 特許庁

METHOD FOR UPDATING SETTING VALUE OF TESTING DEVICE例文帳に追加

試験装置の設定値の更新方法 - 特許庁

LOAD CELL, AND PHYSICAL PROPERTY EVALUATION-TESTING DEVICE例文帳に追加

ロードセルおよび物性評価試験装置 - 特許庁

JIG FOR TESTING IN-PLANE SHEARING OF SHEETLIKE MATERIAL AND MACHINE FOR TESTING IN-PLANE SHEARING例文帳に追加

シート状材料の面内せん断試験用治具および面内せん断試験機 - 特許庁

SRAM DEVICE AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

SRAM装置およびそのテスト方法 - 特許庁

AIR-CONDITIONING DEVICE AND ENVIRONMENT TESTING DEVICE例文帳に追加

空調装置、並びに、環境試験装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING ACUICLUDE EARTH MATERIAL例文帳に追加

難透水性土質材料の試験方法 - 特許庁

BENDING TESTING DEVICE AND BENDING TEST METHOD例文帳に追加

曲げ試験装置および曲げ試験方法 - 特許庁

DEVICE FOR TESTING LARGE NUMBER OF SEMICONDUCTOR CHIPS例文帳に追加

多数の半導体チップをテストする装置 - 特許庁

FLUID LEAK TESTING METHOD AND FLUID LEAK TESTER DEVICE例文帳に追加

流体リークテスタ方法及びその装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING PROJECTION OPTICAL SYSTEM, TESTING DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME SYSTEM例文帳に追加

投影光学系の検査方法、検査装置、及び投影光学系の製造方法 - 特許庁

LOW FREQUENCY SOUND GENERATOR FOR FITTING TESTING例文帳に追加

建具試験用低周波音発生装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING COORDINATE INPUT-OUTPUT DEVICE例文帳に追加

座標入出力装置の試験方法 - 特許庁

DISPLAY APPARATUS AND POSITIONAL DEVIATION TESTING METHOD例文帳に追加

表示装置および位置ずれ検査方法 - 特許庁

APPARATUS FOR SCAN TESTING PRINTED CIRCUIT BOARD例文帳に追加

印刷回路板を走査検査する装置 - 特許庁

COMMUNICATION APPARATUS, COMMUNICATION APPARATUS TESTING SYSTEM, SIGNAL PROCESSOR, TESTING METHOD, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

通信装置、通信装置試験システム、信号処理装置、試験方法、コンピュータプログラム - 特許庁

TESTING METHOD AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

テスト方法及び半導体集積回路 - 特許庁

ACCELERATION TESTING METHOD OF ELASTIC PAVING MATERIAL AND ACCELERATION TESTING MACHINE THEREFOR例文帳に追加

弾性舗装材の促進試験方法およびそれに用いられる促進試験装置 - 特許庁

TESTING SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置のテストシステム - 特許庁

AUTOMATIC POLISHING METHOD FOR BEDROCK TESTING SURFACE AND AUTOMATIC POLISHING DEVICE FOR BEDROCK TESTING SURFACE例文帳に追加

岩盤試験面の自動研磨方法および岩盤試験面の自動研磨装置 - 特許庁

To shorten a testing period in case of testing a plurality of semiconductor devices.例文帳に追加

複数の半導体デバイスの検査を行う場合に、検査時間の短縮を図る。 - 特許庁

例文

ANTENNA TESTER AND METHOD FOR TESTING ANTENNA例文帳に追加

アンテナ試験装置及びアンテナ試験方法 - 特許庁




  
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