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du Pinの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 2件
In the A/D converting circuit 1, a two-input delay unit DU which inputs the output of a precedent-stage delay unit DU or an input pulse Pin applied directly from outside in every fixed cycle is inserted as a delay unit DU constituting a pulse delay circuit 10, and the input pulse Pin can be input from the position where the two-input delay unit DU is inserted.例文帳に追加
A/D変換回路1では、パルス遅延回路10を構成する遅延ユニットDUとして、一定間隔毎に、前段の遅延ユニットDUの出力又は外部から直接印加される入力パルスPinを入力とする二入力の遅延ユニットDUが挿入されており、この二入力の遅延ユニットDUが挿入された位置から入力パルスPinを入力することができるようにされている。 - 特許庁
When testing the A-D conversion circuit 3, an input pulse Pin is inputted to a delay unit DU(1) on a first stage and operated in a test mode during which a sampling term TS is shorter than a real mode (actual use), so that the ring delay circuit 30 is tested and separately, the test clock CKT is inputted and operated to test the counter 36.例文帳に追加
このA/D変換回路3の試験を行う時には、初段の遅延ユニットDU(1)に入力パルスPinを入力し、サンプリング周期TSが実モード(実使用)時より短いテストモードで動作させることで、リング遅延回路30の試験を行い、これとは別に、テストクロックCKTを入力して動作させることで、カウンタ36の試験を行う。 - 特許庁
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