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evaluation methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 7848件
EVALUATION METHOD OF COATING AGENT AND IN-MOLD COATING MOLDING METHOD例文帳に追加
被覆剤の評価方法及び金型内被覆成形方法。 - 特許庁
FLOW VELOCITY DETERMINATION METHOD OF ANALYTE, ANALYTE EVALUATION METHOD USING THE METHOD, AND DESIGN METHOD OF ANALYTE EVALUATION DEVICE例文帳に追加
被検体の流速決定方法、ならびにその方法を用いた被検体評価方法および被検体評価装置の設計方法 - 特許庁
PLASMA PROCESSING DEVICE, EVALUATION METHOD AND CONTROL METHOD OF THE SAME例文帳に追加
プラズマ処理装置とその評価方法及びその制御方法 - 特許庁
DESIGN METHOD AND RELIABILITY EVALUATION METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置の設計方法および信頼性評価方法 - 特許庁
WAFER EVALUATION METHOD, AND MANAGEMENT METHOD OF WAFER MANUFACTURING PROCESS例文帳に追加
ウエーハの評価方法及びウエーハ製造工程の管理方法 - 特許庁
GOLF SWING SIMULATION METHOD AND GOLF SWING EVALUATION METHOD例文帳に追加
ゴルフスウィングのシミュレーション方法およびゴルフスウィングの評価方法 - 特許庁
PATTERN EVALUATION METHOD, PROGRAM, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
パターン評価方法、プログラムおよび半導体装置の製造方法 - 特許庁
SELECTION METHOD, SOLAR CELL MODULE MANUFACTURING METHOD, AND EVALUATION DEVICE例文帳に追加
選別方法、太陽電池モジュール製造方法、及び評価装置 - 特許庁
EVALUATION METHOD, MANUFACTURING METHOD AND MANUFACTURING APPARATUS FOR HOLLOW FIBER MEMBRANE例文帳に追加
中空糸膜の評価方法、製造方法および製造装置 - 特許庁
QUALITY EVALUATION METHOD AND MANUFACTURING METHOD OF SILICON WAFER例文帳に追加
シリコンウェーハの品質評価方法およびシリコンウェーハの製造方法 - 特許庁
PHOTOMASK FOR TESTING, METHOD OF EVALUATION ON FLARE, AND METHOD OF CORRECTION FOR FLARE例文帳に追加
試験用フォトマスク、フレア評価方法、及びフレア補正方法 - 特許庁
CHARACTERISTIC EVALUATION METHOD AND INSPECTION METHOD FOR FERROELECTRIC MATERIAL例文帳に追加
強誘電体材料の特性評価方法及び検査方法 - 特許庁
EVALUATION METHOD AND MANUFACTURING METHOD OF COPOLYMER FOR LITHOGRAPHY例文帳に追加
リソグラフィー用共重合体の評価方法および製造方法 - 特許庁
SAMPLE, MANUFACTURING METHOD THEREOF, AND EVALUATION METHOD例文帳に追加
評価用試料およびその製造方法、ならびに評価方法 - 特許庁
ELASTIC PAVING MATERIAL, AND PRODUCTION METHOD AND QUALITY EVALUATION METHOD THEREFOR例文帳に追加
弾性舗装材と、その製造方法および品質評価方法 - 特許庁
RESIN FILM EVALUATION METHOD, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
樹脂膜の評価方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁
DEFLECTION AMPLIFIER EVALUATION METHOD AND CHARGED PARTICLE BEAM LITHOGRAPHY METHOD例文帳に追加
偏向アンプの評価方法および荷電粒子ビーム描画方法 - 特許庁
SHARPNESS EVALUATION METHOD AND SHARPNESS MANAGEMENT METHOD FOR GRINDING WHEEL例文帳に追加
研削砥石の切れ味評価方法および切れ味管理方法 - 特許庁
IMAGE EVALUATION METHOD AND QUALITY CONTROL METHOD FOR PLANOGRAPHIC PRINTING PLATE例文帳に追加
平版印刷版の画像評価方法及び品質管理方法 - 特許庁
IMAGE EVALUATION METHOD AND QUALITY CONTROL METHOD FOR PLANOGRAPHIC PRINTING PLATE例文帳に追加
画像評価方法及び平版印刷版の品質管理方法 - 特許庁
DISEASE RESISTANCE EVALUATION METHOD OF PLANT AND REPRODUCTION METHOD例文帳に追加
植物の病害抵抗性評価方法及び増殖方法 - 特許庁
PATTERN EVALUATION METHOD AND DEVICE MANUFACTURING METHOD USING IT例文帳に追加
パターン評価方法及び該方法を用いたデバイス製造方法 - 特許庁
MICRO-VARIATION DETERMINATION METHOD, RELIABILITY EVALUATION METHOD AND PROGRAM例文帳に追加
微小変化判定方法、信頼性評価方法及びプログラム - 特許庁
PATTERN EVALUATION METHOD AND METHOD OF MANUFACTURING DEVICE USING SAME例文帳に追加
パターン評価方法および該方法を用いたデバイス製造方法 - 特許庁
CONCENTRATION EVALUATION METHOD AND CONCENTRATION ADJUSTMENT METHOD OF FILM FORMATION APPARATUS例文帳に追加
成膜装置の濃度評価方法および濃度調整方法 - 特許庁
WATER QUALITY EVALUATION METHOD AND OPERATION MANAGEMENT METHOD FOR WATER TREATMENT APPARATUS例文帳に追加
水質評価方法及び水処理装置の運転管理方法 - 特許庁
METHOD FOR DISTINGUISHING HEALTH CARE AND METHOD OF DISPLAYING THE EVALUATION例文帳に追加
健康管理の鑑別方法及びその評価の表示方法 - 特許庁
CORRECTION METHOD FOR MAGNETIC SENSOR AND EVALUATION METHOD OF MAGNETIC SENSOR例文帳に追加
磁気センサのための補正方法及び磁気センサの評価方法 - 特許庁
PERFORMANCE EVALUATION METHOD FOR INTEGRATED CIRCUIT AND DESIGNING METHOD FOR IT例文帳に追加
集積回路の特性評価方法及びその設計方法 - 特許庁
CLEANLINESS EVALUATION METHOD OF STEEL BY IMMERSION ULTRASONIC INSPECTION METHOD例文帳に追加
水浸超音波探傷法による鋼の清浄度評価方法 - 特許庁
EVALUATION METHOD AND DESIGN METHOD OF FIN FOR UNDERWATER PROPULSION例文帳に追加
水中推進用足ひれの評価方法および設計方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE, FUNCTIONAL SETTING METHOD THEREFOR, AND ITS EVALUATION METHOD THEREFOR例文帳に追加
半導体デバイス,その機能設定方法及びその評価方法 - 特許庁
MULTILAYER FILM MIRROR, EVALUATION METHOD, EXPOSURE APPARATUS, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
多層膜ミラー、評価方法、露光装置及びデバイス製造方法 - 特許庁
RECIPE DATABASE INFORMATION MANAGEMENT METHOD AND USER EVALUATION MANAGEMENT METHOD例文帳に追加
レシピデータベース情報管理方法及びユーザ評価管理方法 - 特許庁
EVALUATION METHOD FOR PHOTOMASK AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
フォトマスクの評価方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁
SCREENING METHOD FOR PARTICULATE MATTER AND EVALUATION METHOD USING IT例文帳に追加
粒状物質の篩い分け法及びそれを利用した評価法 - 特許庁
GENERATION METHOD OF EVALUATION MODEL OF ROAD SURFACE CONDITION FOR BICYCLE, EVALUATION METHOD OF ROAD SURFACE ENVIRONMENT FOR BICYCLE, AND EVALUATION SYSTEM例文帳に追加
自転車の走行路面状況の評価モデルを生成する方法、自転車の走行路面環境評価方法及び評価システム - 特許庁
VISUAL OBSERVATION FEELING EVALUATION METHOD AND SYSTEM, METALLIC COATING FACE EVALUATION DEVICE, OPERATION PROGRAM THEREFOR, AND VISUAL OBSERVATION FEELING EVALUATION METHOD FOR METALLIC COATING FACE例文帳に追加
目視感評価方法並びにシステム、メタリック塗装面評価装置、その動作プログラム及びメタリック塗装面の目視感評価方法 - 特許庁
DEVELOPMENT LOADING EVALUATION PATTERN, EVALUATION METHOD USING THE SAME, MASK FOR DEVELOPMENT LOADING EVALUATION, DEVELOPING METHOD, AND ELECTRON BEAM EXPOSURE DEVICE例文帳に追加
現像ローディング評価パターン、それを用いた評価方法、現像ローディング評価用マスク、および現像方法、並びに電子ビーム露光装置 - 特許庁
COMPOSING APPARATUS, COMPUTER PROGRAM FOR COMPOSING, COMPOSING METHOD, MUSICAL SOUND EVALUATION APPARATUS, COMPUTER PROGRAM FOR MUSICAL SOUND EVALUATION AND MUSICAL SOUND EVALUATION METHOD例文帳に追加
作曲装置、作曲用コンピュータプログラム、作曲方法、楽音評価装置、楽音評価用コンピュータプログラム、および楽音評価方法 - 特許庁
METHOD OF EVALUATION OF CONTACT AREA RATIO OF ELECTRODE TIP, METHOD OF EVALUATION OF INTERNAL RESISTANCE OF WORKPIECE, METHOD OF EVALUATION OF ATTENUATION RATE OF ULTRASONIC WAVE AND METHOD OF DETERMINING INCLINATION STATE OF ELCTRODE TIP例文帳に追加
電極チップの接触面積比評価方法、ワークの内部抵抗評価方法、超音波の減衰率評価方法及び電極チップの傾斜状態判別方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR BONE DENSITY EVALUATION例文帳に追加
骨密度評価装置および骨密度評価方法 - 特許庁
TWO-DIMENSIONAL WIND TUNNEL AND WINDPROOF STABILITY EVALUATION METHOD例文帳に追加
二次元風洞および耐風安定性評価方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR SCHEDULING EVALUATION例文帳に追加
スケジューリング評価装置およびスケジューリング評価方法 - 特許庁
ELECTRICAL INERTIA EVALUATION DEVICE FOR DYNAMOMETER AND ITS METHOD例文帳に追加
ダイナモメータの電気慣性評価装置とその方法 - 特許庁
INFORMATION PROCESSING SYSTEM AND SUPPLY CHAIN EVALUATION METHOD例文帳に追加
情報処理システムおよびサプライチェーン評価方法 - 特許庁
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