例文 (3件) |
gallium scanningの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 3件
The gallium injected into the surface is crystallized and removed by a chelating agent which specifically couples with gallium by an electric field generated by a voltage applied on a conductive probe of a submerged scanning probe microscope with addition of a chelating agent which specifically couples with gallium, or by a high electric field enhanced at the top of the probe by irradiating a conductive probe of a submerge scanning probe microscope with laser light.例文帳に追加
ガリウムと特異的に結合するキレート剤を添加した液中走査プローブ顕微鏡の導電性探針に電圧印加して電界または液中走査プローブ顕微鏡の導電性探針にレーザを照射して針先で増強された高電界により表面に注入されたガリウムを析出させ、ガリウムと特異的に結合するキレート剤で除去する。 - 特許庁
Or, the gallium injected into the surface is crystallized and removed by a chelating agent which specifically couples with gallium by local heating by irradiation with proximity field light from a probe of a submerge proximity field optical microscope with addition of a chelating agent which specifically couples with gallium, or by local heating by allowing the heated probe of a submerge scanning probe microscope to approach the surface.例文帳に追加
もしくはガリウムと特異的に結合するキレート剤を添加した液中近接場光学顕微鏡の探針から近接場光を照射した局所過熱、または液中走査プローブ顕微鏡の加熱した探針を接近させた局所過熱により表面に注入されたガリウムを析出させ、ガリウムと特異的に結合するキレート剤で除去する。 - 特許庁
If the dopant profile measurement is implemented by using a scanning capacitance microscope, a surface of the thin piece 2 is oxidized by an oxygen gas cluster ion beam after the removal of the residual gallium layer 3.例文帳に追加
走査キャパシタンス顕微鏡を用いてドーパントプロファイル測定を行う場合は、残留ガリウム層除去後の薄片2の表面を酸素ガスクラスターイオンビームで表面酸化を行う。 - 特許庁
例文 (3件) |
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