| 例文 |
pattern methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 23002件
POSITIONING METHOD OF PATTERN例文帳に追加
パターンの位置合わせ方法 - 特許庁
RESIST PATTERN SIMULATION METHOD例文帳に追加
レジストパターンシミュレーション方法 - 特許庁
IDENTIFICATION METHOD FOR HOLOGRAM PATTERN例文帳に追加
ホログラムパターン識別方法 - 特許庁
MICRO PATTERN CORRECTION METHOD例文帳に追加
微細パターン修正方法 - 特許庁
RECOGNIZING METHOD FOR PATTERN MATCHING例文帳に追加
パターンマッチング認識方法 - 特許庁
PATTERN DRAWING APPARATUS, PATTERN INSPECTION APPARATUS, SUBSTRATE, PATTERN DRAWING METHOD, AND PATTERN INSPECTION METHOD例文帳に追加
パターン描画装置、パターン検査装置、基板、パターン描画方法およびパターン検査方法 - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING PATTERN TRANSFER MOLD, PATTERN FORMING METHOD, PATTERN TRANSFER MOLD, AND PATTERN FORMING APPARATUS例文帳に追加
パターン転写型の製作方法、パターン形成方法、パターン転写型、パターン形成装置 - 特許庁
PATTERN RECOGNITION DEVICE AND PATTERN RECOGNITION METHOD例文帳に追加
パターン認識装置及びパターン認識方法 - 特許庁
PATTERN IDENTIFICATION METHOD AND PATTERN IDENTIFICATION DEVICE例文帳に追加
パターン識別方法及びパターン識別装置 - 特許庁
PATTERN RECOGNITION METHOD AND PATTERN RECOGNITION DEVICE例文帳に追加
パターン認識方法及びパターン認識装置 - 特許庁
PATTERN INSPECTION METHOD AND PATTERN INSPECTION APPARATUS例文帳に追加
パターン検査方法およびパターン検査装置 - 特許庁
PATTERN INSPECTION APPARATUS AND PATTERN INSPECTION METHOD例文帳に追加
パターン検査装置およびパターン検査方法 - 特許庁
PATTERN MEASUREMENT DEVICE AND PATTERN MEASUREMENT METHOD例文帳に追加
パターン測定装置及びパターン測定方法 - 特許庁
PATTERN CORRECTION DEVICE AND PATTERN CORRECTION METHOD例文帳に追加
パターン補正装置およびパターン補正方法 - 特許庁
PATTERN MEASUREMENT METHOD AND PATTERN MEASUREMENT DEVICE例文帳に追加
パターン計測方法及びパターン計測装置 - 特許庁
PATTERN RECOGNITION SYSTEM AND PATTERN RECOGNITION METHOD例文帳に追加
パターン認識システム及びパターン認識方法 - 特許庁
PATTERN GENERATION DEVICE AND PATTERN GENERATING METHOD例文帳に追加
パターン作成装置及びパターン作成方法 - 特許庁
PATTERN MEASURING METHOD AND PATTERN MEASURING DEVICE例文帳に追加
パターン測定方法、及びパターン測定装置 - 特許庁
PATTERN RECOGNIZING DEVICE AND PATTERN RECOGNIZING METHOD例文帳に追加
パターン認識装置及びパターン認識方法 - 特許庁
PATTERN GENERATING METHOD AND PATTERN GENERATION DEVICE例文帳に追加
パターン発生方法及びパターン発生装置 - 特許庁
PATTERN TRANSFER DEVICE AND PATTERN TRANSFER METHOD例文帳に追加
パターン転写装置及びパターン転写方法 - 特許庁
PATTERN TRANSFER METHOD AND PATTERN TRANSFER DEVICE例文帳に追加
パターン転写方法、及びパターン転写装置 - 特許庁
PATTERN CONTROL METHOD AND PATTERN CONTROL PROGRAM例文帳に追加
パターン管理方法及びパターン管理プログラム - 特許庁
PATTERN MEASUREMENT METHOD AND PATTERN MEASURING DEVICE例文帳に追加
パターン測定方法及びパターン測定装置 - 特許庁
INSPECTING METHOD OF PATTERN AND INSPECTION SYSTEM FOR PATTERN例文帳に追加
パターン検査方法、及びパターン検査システム - 特許庁
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