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pattern methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 23002件
METHOD FOR FORMING PATTERN CONDUCTION例文帳に追加
パターン導通形成方法 - 特許庁
INSPECTION METHOD OF CIRCUIT PATTERN例文帳に追加
回路パターンの検査方法 - 特許庁
PATTERN EVALUATION METHOD, PATTERN ALIGNMENT METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加
パターン評価方法、パターン位置合わせ方法およびプログラム - 特許庁
LINE GROUP PATTERN RECOGNIZING METHOD例文帳に追加
線群パターン認識方法 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD OF HOLLOW PATTERN例文帳に追加
中空模型製造方法 - 特許庁
PATTERN INSPECTION METHOD, PATTERN INSPECTION DEVICE, METHOD FOR MANUFACTURING PHOTOMASK, AND PATTERN TRANSFER METHOD例文帳に追加
パターン検査方法、パターン検査装置、フォトマスク製造方法、およびパターン転写方法 - 特許庁
CONDUCTIVE PATTERN GENERATION METHOD例文帳に追加
導電パターン生成方法 - 特許庁
MASK PATTERN VERIFICATION METHOD AND MASK PATTERN PREPARING METHOD例文帳に追加
マスクパターン検証方法およびマスクパターン作成方法 - 特許庁
METHOD FOR DIVIDING MASK PATTERN AND METHOD FOR FORMING RESIST PATTERN例文帳に追加
マスクパターン分割方法およびレジストパターン形成方法 - 特許庁
WIRING PATTERN INSPECTION METHOD例文帳に追加
配線パターンの検査方法 - 特許庁
PATTERN COATING FILM FORMING METHOD例文帳に追加
模様塗膜形成方法 - 特許庁
METHOD FOR FORMING LAMINATING PATTERN例文帳に追加
積層パターン形成方法 - 特許庁
DUMMY PATTERN ARRANGEMENT DEVICE AND DUMMY PATTERN ARRANGEMENT METHOD例文帳に追加
ダミーパターン配置装置、ダミーパターン配置方法 - 特許庁
PATTERN RECOGNITION DEVICE AND PATTERN RECOGNITION METHOD例文帳に追加
パターン認識装置およびパターン認識方法 - 特許庁
PATTERN IDENTIFICATION DEVICE AND PATTERN IDENTIFICATION METHOD例文帳に追加
パターン識別装置およびパターン識別方法 - 特許庁
PATTERN MEASUREMENT METHOD AND PATTERN MEASUREMENT DEVICE例文帳に追加
パターン測定方法およびパターン測定装置 - 特許庁
PATTERN-FORMING APPARATUS AND METHOD FOR MANUFACTURING PATTERN例文帳に追加
パターン形成装置及びパターン製造方法 - 特許庁
PATTERN CORRECTION METHOD AND PATTERN CORRECTION APPARATUS例文帳に追加
パターン修正方法及びパターン修正装置 - 特許庁
ANTENNA PATTERN AND MANUFACTURING METHOD OF THE ANTENNA PATTERN例文帳に追加
アンテナパターン及びアンテナパターンの製造方法 - 特許庁
PATTERN IDENTIFICATION METHOD AND PATTERN IDENTIFICATION APPARATUS例文帳に追加
パターン特定方法およびパターン特定装置 - 特許庁
PATTERN RECOGNIZING METHOD AND PATTERN RECOGNIZING DEVICE例文帳に追加
パターン認識方法およびパターン認識装置 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD OF RELIEF PATTERN AND RELIEF PATTERN例文帳に追加
レリーフパターンの作製方法およびレリーフパターン - 特許庁
PATTERN FORMING METHOD AND PATTERN VERIFICATION PROGRAM例文帳に追加
パターン作成方法及びパターン検証プログラム - 特許庁
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