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pre-specified testの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1件
The fuse 12 for discrimination belonging to a chip region CHIPf specified through a pre-test SORT 1 before the fuse-cut process is cut by the fuse-cut process, after that, at the time of post test SORT 2, abnormality of the power source supply system in this specified chip region CHIPf is detected.例文帳に追加
ヒューズカット工程以前のプリテストSORT1を経て特定されたチップ領域CHIPfに属する判定用ヒューズ12をヒューズカット工程にてカットし後のポストテストSORT2に際しこの特定のチップ領域CHIPfにおける電源供給系の異常を検出させる。 - 特許庁
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