「sample beam」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

SAMPLE STAGE AND PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

試料支持台及び粒子線装置 - 特許庁

SAMPLE TABLE FOR CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

荷電粒子線装置用試料台 - 特許庁

The beam adjusting sample is irradiated with the beam so that the amount of the beam passing through the beam adjusting sample is detected.例文帳に追加

このビーム調整用試料にビームを照射し、ビーム調整用試料を通り抜けたビーム量を検出する。 - 特許庁

SAMPLE STAGE DEVICE, AND ELECTRON BEAM DEVICE例文帳に追加

試料ステージ装置、及び電子線装置 - 特許庁

SAMPLE DEVICE OF CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置の試料装置 - 特許庁

SAMPLE HOLDER FOR CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

荷電粒子線装置用試料ホールダ - 特許庁

SAMPLE STAGE FOR ELECTRON BEAM EXPOSURE SYSTEM例文帳に追加

電子ビーム露光装置用試料ステージ - 特許庁

ION BEAM DEVICE AND SAMPLE WORKING METHOD例文帳に追加

イオンビーム装置及び試料加工方法 - 特許庁

SAMPLE HOLDER, AND ION BEAM PROCESSING DEVICE例文帳に追加

試料ホルダおよびイオンビーム加工装置 - 特許庁

SAMPLE HOLDER AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

試料ホルダ及び荷電粒子線装置 - 特許庁

SAMPLE HOLDER FOR CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

荷電粒子線装置用の試料ホルダ - 特許庁

ELECTRON BEAM DEVICE AND SAMPLE HOLDER FOR ELECTRON BEAM DEVICE例文帳に追加

電子線装置および電子線装置用試料保持装置 - 特許庁

SAMPLE EVALUATION METHOD USING ELECTRON BEAM AND ELECTRON BEAM DEVICE例文帳に追加

電子線を用いた試料評価方法及び電子線装置 - 特許庁

REFERENCE SAMPLE FOR FOCUSED ION BEAM DEVICE例文帳に追加

集束イオンビーム装置用標準試料 - 特許庁

SAMPLE GROUNDING MECHANISM, SAMPLE GROUNDING METHOD, AND ELECTRON BEAM EXPOSURE SYSTEM例文帳に追加

試料接地機構、試料接地方法、及び電子線露光装置 - 特許庁

SAMPLE SUPPORTING DEVICE FOR CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

荷電粒子線装置の試料支持装置 - 特許庁

METHOD OF OBSERVING SAMPLE USING ELECTRON BEAM例文帳に追加

電子線を用いた試料の観察方法 - 特許庁

A sample 9 is scanned by an electron beam 2.例文帳に追加

試料９は電子線２で走査される。 - 特許庁

SAMPLE OBSERVATION DEVICE, AND FOCUSING ION BEAM APPARATUS例文帳に追加

試料観察装置，集束イオンビーム装置 - 特許庁

SAMPLE HOLDING APPARATUS FOR CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS例文帳に追加

荷電粒子線装置用試料保持装置 - 特許庁

BEAM MEMBER, AND SAMPLE PROCESSING DEVICE AND SAMPLE EXTRACTION METHOD USING BEAM MEMBER例文帳に追加

はり部材およびはり部材を用いた試料加工装置ならびに試料摘出方法 - 特許庁

SAMPLE SCANNING MECHANISM FOR CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置の試料走査機構 - 特許庁

SAMPLE AND VAPOR SOURCE FOR MOLECULAR BEAM EPITAXY例文帳に追加

分子線エピタキシ用試料及び蒸発源 - 特許庁

SAMPLE RETAINER AND ELECTRON BEAM RENDERING DEVICE例文帳に追加

試料保持装置、および電子線描画装置 - 特許庁

SAMPLE OBSERVATION METHOD USING ELECTRON BEAM APPARATUS例文帳に追加

電子線装置を用いた試料観察方法 - 特許庁

SAMPLE TRANSFERRING DEVICE FOR CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

荷電粒子線装置用試料移動装置 - 特許庁

SECTION SAMPLE PREPARATION METHOD USING ION BEAM例文帳に追加

イオンビームを用いる断面試料作製方法 - 特許庁

ION BEAM PROCESSING DEVICE AND SAMPLE PROCESSING METHOD例文帳に追加

イオンビーム加工装置及び試料加工方法 - 特許庁

SAMPLE PROCESSING METHOD WITH FOCUSED ION BEAM例文帳に追加

集束イオンビームによる試料の加工方法 - 特許庁

CROSS-SECTIONAL SAMPLE PRODUCING APPARATUS USING ION BEAM例文帳に追加

イオンビームを用いた断面試料作製装置 - 特許庁

COHERENT BEAM DEVICE FOR SAMPLE OBSERVING MEASUREMENT例文帳に追加

試料観察計測用可干渉ビーム装置 - 特許庁

SAMPLE HOLDER FOR FOCUSED ION BEAM PROCESSING, AND FOCUSED ION BEAM DEVICE例文帳に追加

集束イオンビーム加工用試料ホルダ及び集束イオンビーム装置 - 特許庁

SAMPLE MICROMOTION SYSTEM, AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

試料微動システム、及び荷電粒子線装置 - 特許庁

SAMPLE MOUNTING DEVICE AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

試料設置装置、及び荷電粒子ビーム装置 - 特許庁

SAMPLE HOLDING DEVICE AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

試料保持装置および荷電粒子線装置 - 特許庁

SAMPLE POSITIONING DEVICE OF CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS例文帳に追加

荷電粒子線装置の試料位置決め装置 - 特許庁

CONDENSED ION BEAM DEVICE AND SAMPLE PROCESSING METHOD例文帳に追加

集束イオンビーム装置及び試料処理方法 - 特許庁

SAMPLE FOR ELECTRON BEAM DIFFRACTION AND METHOD FOR PRODUCING ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE例文帳に追加

電子線回折用試料および電子顕微鏡試料の製造方法 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND METHOD OF IRRADIATING SAMPLE WITH CHARGED PARTICLE BEAM BY USING CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

荷電粒子線装置及びそれを用いた試料への荷電粒子照射方法 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND SAMPLE OBSERVATION METHOD例文帳に追加

荷電粒子線装置および試料観察方法 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND SAMPLE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置及び試料作製方法 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND SAMPLE PROCESSING METHOD例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置及び試料加工方法 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND SAMPLE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

荷電粒子線装置及び試料作製方法 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING SAMPLE例文帳に追加

荷電粒子線装置及び試料作製方法 - 特許庁

SAMPLE ANALYTICAL METHOD AND ELECTRON BEAM ANALYTICAL DEVICE例文帳に追加

試料分析方法および電子線分析装置 - 特許庁