「sample beam」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

SAMPLE IMAGE DISPLAY METHOD IN ELECTRON BEAM DEVICE AND ELECTRON BEAM DEVICE例文帳に追加

電子線装置における試料像表示方法および電子線装置 - 特許庁

SAMPLE STAGE CONTROL METHOD IN ELECTRON BEAM DEVICE AND ELECTRON BEAM DEVICE例文帳に追加

電子線装置における試料ステージ制御方法および電子線装置 - 特許庁

SAMPLE STAGE FOR FOCUSED ION BEAM DEVICE AND METHOD FOR FORMING LAMINA SAMPLE例文帳に追加

集束イオンビーム装置用試料ステージ及び薄片試料の形成方法 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, AND METHOD OF PREPARING SAMPLE例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置、および試料作成方法 - 特許庁

SAMPLE HOLDER FOR FOCUSED ION BEAM MACHINING OBSERVATION DEVICE例文帳に追加

集束イオンビーム加工観察装置用試料ホールダ - 特許庁

A sample of the magnetic recording medium is irradiated with an electron beam as an area beam and the electron beam is reflected in the vicinity of the pole of the sample to obtain an image.例文帳に追加

磁気記録媒体に面積ビームとした電子線を試料に照射し、試料の極近傍で反射させ像を得る。 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND SAMPLE OBSERVATION TECHNIQUE USING CHARGED PARTICLE BEAM例文帳に追加

荷電粒子線装置および荷電粒子線を用いた試料観察手法 - 特許庁

ELECTRON BEAM DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING SAMPLE CHAMBER CONTAINER OF ELECTRON BEAM DEVICE例文帳に追加

電子線装置、および電子線装置の試料室容器の製造方法 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, AND SAMPLE IMAGE DISPLAYING METHOD例文帳に追加

荷電粒子線装置及び試料像表示方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING CONTAMINATION OF SAMPLE IN ELECTRON BEAM TESTER例文帳に追加

電子ビーム検査装置の試料汚染測定方法 - 特許庁

SAMPLE IMAGE ROTATING METHOD, AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

試料像回転方法、及び荷電粒子線装置 - 特許庁

CHARGED CORPUSCULAR BEAM DEVICE AND SAMPLE IMAGE OBSERVING METHOD例文帳に追加

荷電粒子線装置及び試料像観察方法 - 特許庁

SAMPLE OBSERVATION DEVICE AND METHOD USING ELECTRON BEAM例文帳に追加

電子線を用いた試料観察装置および方法 - 特許庁

The method includes a step of irradiating the sample with a neutral atomic beam or ion beam, and a step of irradiating the sample with radiation after the irradiation of the sample with the neutral atomic beam or ion beam and analyzing the electrons from the sample.例文帳に追加

試料に中性原子線又はイオン線を照射する過程と、中性原子線又はイオン線の照射後に、試料に対して放射線を照射し、試料からの電子を分析する過程とを含む。 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND SAMPLE IMAGE OBSERVATION METHOD例文帳に追加

荷電粒子線装置及び試料像観察方法 - 特許庁

Thus, the sample is scanned by the laser beam.例文帳に追加

これにより、試料がレーザ光によって走査される。 - 特許庁

SAMPLE IMAGE FORMING METHOD AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

試料像形成方法及び荷電粒子線装置 - 特許庁

DEVICE FOR COOLING SAMPLE DURING ION BEAM PROCESSING例文帳に追加

イオンビーム処理の間サンプルを冷却するための装置 - 特許庁

SAMPLE IMAGE FORMATION METHOD AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

試料像形成方法及び荷電粒子線装置 - 特許庁

SAMPLE HEIGHT ADJUSTMENT METHOD, SAMPLE OBSERVATION METHOD, SAMPLE PROCESSING METHOD, AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

試料高さ調整方法と試料観察方法と試料加工方法および荷電粒子ビーム装置 - 特許庁

Since the sample is dispersed in the binder, collapse of the sample is suppressed, even if the sample is irradiated with a laser beam.例文帳に追加

バインダ中に試料が分散されているため、レーザ照射しても試料の崩落が抑えられる。 - 特許庁

The sample 10 is moved just under the electron beam source 3 and exposed to the electron beam.例文帳に追加

試料１０は電子線源３の直下に移動し電子線に曝される。 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM APPLICATION DEVICE, AND SAMPLE INSPECTION METHOD例文帳に追加

荷電粒子線応用装置、及び試料検査方法 - 特許庁

ELECTRON BEAM DRAWER AND CORRECTING METHOD FOR SAMPLE POSITION例文帳に追加

電子線描画装置および試料位置の補正方法 - 特許庁

INSPECTION OF SAMPLE, MEASURING METHOD, AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

試料の検査，測定方法、及び荷電粒子線装置 - 特許庁

SAMPLE HOLDING MECHANISM USED IN ELECTRON BEAM APPLICATION DEVICE例文帳に追加

電子線応用装置に用いられる試料保持機構 - 特許庁

SAMPLE UNEVENNESS DETERMINING METHOD AND CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS例文帳に追加

試料の凹凸判定方法、及び荷電粒子線装置 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, AND SAMPLE PROCESSING/OBSERVING METHOD例文帳に追加

荷電粒子線装置、及び試料加工観察方法 - 特許庁

The ion beam inclined to the sample surface is used therein.例文帳に追加

試料表面に対して傾斜したイオンビームを用いる。 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM APPLICATION DEVICE AND SAMPLE OBSERVATION METHOD例文帳に追加

荷電粒子線応用装置及び試料観察方法 - 特許庁

The neutron source sends a neutron beam toward the sample.例文帳に追加

中性子源は、試料に向けて中性子ビームを送る。 - 特許庁

SAMPLE PROCESSING METHOD AND APPARATUS USING FOCUSED ION BEAM例文帳に追加

集束イオンビームによる試料加工方法及び装置 - 特許庁

SAMPLE STAGE USED INTO FOCUSING ION BEAM IRRADIATION DEVICE例文帳に追加

収束イオンビーム照射装置内に用いる試料ステージ - 特許庁

SAMPLE DIMENSION MEASURING METHOD AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

試料寸法測定方法及び荷電粒子線装置 - 特許庁

FOCUSING ION BEAM PROCESSING MONITORING DEVICE, SAMPLE PROCESSING METHOD, AND SAMPLE MONITORING METHOD例文帳に追加

集束イオンビーム加工観察装置および試料加工方法、試料観察方法 - 特許庁

To provide a sample stand for preventing a situation that a part of the sample stand cuts off a beam of electrons when the beam of electrons is irradiated to a sample.例文帳に追加

試料に電子線を照射する際に試料台の一部が電子線に対して影になる事を防ぐ試料台を提供すること。 - 特許庁

The sample stage is rotated and is inclined for thinning the sample, in such a way as to orient the back surface of the sample toward the ion beam.例文帳に追加

サンプル・ステージは、薄くするためにサンプルの背面をイオン・ビームに向けるように回転および傾斜される。 - 特許庁

This device uses ion beam machining, a conveying technique for the sample piece and a fixing technique for the sample piece on a sample piece holder.例文帳に追加

イオンビーム加工と、試料片の搬送技術さらには試料片の試料片ホルダへの固定技術を用いる。 - 特許庁

SAMPLE PREPARING METHOD THROUGH USE OF FOCUSING ION BEAM AND FOCUSING ION BEAM PREPARING DEVICE例文帳に追加

集束イオンビームを用いた試料加工方法、及び集束イオンビーム加工装置 - 特許庁

METHOD OF CONTROLLING TO MOVE SAMPLE STAND OF ELECTRON BEAM DRAWING AND APPARATUS OF DRAWING ELECTRON BEAM例文帳に追加

電子ビーム描画の試料台移動制御方法、及び電子ビーム描画装置 - 特許庁

ELECTRON BEAM IRRADIATION CONDITION DECISION SUPPORT UNIT AND ELECTRON BEAM TYPE SAMPLE INSPECTING DEVICE例文帳に追加

電子線照射条件決定支援ユニット、および電子線式試料検査装置 - 特許庁

In a chamber of a charged particle beam device, the sample on the sample substrate is held and conveyed to the sample holder, and the posture of the sample is controlled when the sample is fixed on the sample holder.例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置のチャンバ内において、試料基板上の試料を把持して試料ホルダまで運搬し、該試料を試料ホルダ上で固定する際の試料の姿勢を制御する。 - 特許庁

A sample of an irradiation beam is generated, and its sample is projected to a second image forming face.例文帳に追加

照射ビームのサンプルが生成され、そのサンプルが第２の結像面へ投影される。 - 特許庁

The sample is thinned using an ion beam after the sample is attached to the rigid structure.例文帳に追加

試料を剛性構造体に取り付けた後、イオンビームを用いてその試料を薄くする。 - 特許庁

METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE, CONVERGED ION BEAM DEVICE AND A SAMPLE SUPPORT STAND例文帳に追加

電子顕微鏡用試料作製方法、集束イオンビーム装置および試料支持台 - 特許庁