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「scan ff selection」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索


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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > scan ff selectionに関連した英語例文

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scan ff selectionの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 3



例文

In a normal operation, an output of the scan output fixing NAND circuit 106 can be fixed by mode selection, so that the output of the scan output fixing NAND circuit 106 remains unchanged and that the power consumption of the scan FF can be reduced.例文帳に追加

通常動作時、スキャン出力固定用のNAND回路106からの出力をモードセレクトにより固定することができるため、スキャン出力固定用のNAND回路106の出力は変化せず、スキャンFFの消費電力を削減することができる。 - 特許庁

The scan separation circuit 10 is provided with a selector 11 for selecting anyone out of the two signal lines, in addition to a selector 12 for constituting a scan path and an FF 13 therefor, and a switch controlling data latched by the each FF 13 from a test input terminal 2 via the scan path is used as an input selection signal SL of the selector 11.例文帳に追加

スキャン分離回路10には、スキャンパスを構成するためのセレクタ12とFF13に加えて、2本の信号線の内のいずれか一方を選択するセレクタ11が設けられ、このセレクタ11の入力選択信号SLとして、テスト入力端子2からスキャンパスを介してFF13にラッチされた切替制御用のデータを用いる。 - 特許庁

例文

A timing deviation is retrained from being generated in a transfer of an FF data between respective output clocks COn, and execution of the test such as a scan test is facilitated, when the LSI operated by the clocks of the plural different frequencies is tested, by generating the output clocks COn of n-pieces in which the selection clocks SC are synchronized with the input clock CI.例文帳に追加

同期化手段103において、選択クロックSCを入力クロックCIにて同期させたn個の出力クロックCOnを生成することにより、複数の異なる周波数のクロックで動作するLSIの試験時において、各出力クロックCOn間でのFFのデータの受け渡しでタイミング違反が発生することを抑制することができ、スキャン試験等の試験の実施を容易にすることができる。 - 特許庁





  
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