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scanning methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 3560件
TOUCH CIRCUIT OF CAPACITIVE TOUCH SENSOR AND SCANNING METHOD例文帳に追加
静電容量式タッチセンサーのタッチ回路及びスキャン方法 - 特許庁
METHOD AND SYSTEM FOR FACILITATING ERRORLESS SCANNING APPLICATION例文帳に追加
無過誤スキャン施術を容易にするための方法及びシステム - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR PROVIDING SCANNING PATTERN TO ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加
電子デバイスにスキャンパターンを提供する方法および装置 - 特許庁
OPTICAL SCANNER AND OPTICAL SCANNING METHOD FOR FORMING IMAGE例文帳に追加
画像形成用の光走査装置および光走査方法 - 特許庁
VIRUS SCANNING METHOD AND COMPUTER SYSTEM USING THE SAME例文帳に追加
ウィルススキャン方法及びその方法を用いた計算機システム - 特許庁
METHOD FOR SCANNING IN PRINTER AND DEVICE FOR FETCHING IMAGE, OR LIKE例文帳に追加
印刷装置、画像取り込み装置等に於ける、走査方法 - 特許庁
MULTI-BEAM SOURCE SCANNER AND MULTI-BEAM SOURCE SCANNING METHOD例文帳に追加
マルチビーム光源走査装置およびマルチビーム光源走査方法 - 特許庁
MULTIBEAM SCANNER, MULTIBEAM SCANNING METHOD, AND IMAGE FORMING APPARATUS例文帳に追加
マルチビーム走査装置・マルチビーム走査方法・画像形成装置 - 特許庁
MEASURING METHOD OF PHYSICAL PROPERTY VALUE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
物性値の測定方法および走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD USING IT例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡及びこれを用いた観察方法 - 特許庁
CORRECTION METHOD OF MEASURED DATA IN SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡における測定データの補正方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR MULTI-SLICE CT SCANNING FOR REGION OF INTEREST例文帳に追加
関心領域マルチ・スライスCT走査の方法及び装置 - 特許庁
DOT POSITION MEASURING APPARATUS AND METHOD OF SCANNING OPTICAL SYSTEM例文帳に追加
走査光学系のドット位置測定装置およびその方法 - 特許庁
DEVICE FOR SCANNING AND DETECTING TOUCH POINT OF TOUCH PANEL AND METHOD THEREOF例文帳に追加
タッチパネルの押圧ポイントの走査検出装置及びその方法 - 特許庁
METHOD OF DRIVING LAMP OF SCANNING BACKLIGHT FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE例文帳に追加
液晶表示装置のスキャニングバックライトのランプ駆動方法 - 特許庁
OPTICAL SCANNING APPARATUS, CONTROL METHOD THEREOF, AND IMAGE FORMING APPARATUS例文帳に追加
光走査装置、その制御方法及び画像形成装置 - 特許庁
ADAPTIVE MACROBLOCK SCANNING METHOD FOR VIDEO AND IMAGE COMPRESSION例文帳に追加
ビデオ及び画像圧縮のための適応マクロブロックスキャン方法 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND ELECTRON BEAM AXIS ALIGNING METHOD例文帳に追加
走査電子顕微鏡および電子ビームの軸合わせ方法 - 特許庁
ILLUMINATION DEVICE, ILLUMINATION METHOD, AND SCANNING TYPE OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加
照明装置、照明方法、及び走査型光学顕微鏡 - 特許庁
DETECTION METHOD OF IMAGE INTEGRATION TIMES OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
走査電子顕微鏡の画像積算回数検出方法 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SURFACE INFORMATION MEASURING METHOD例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡及び表面情報測定方法 - 特許庁
INSPECTING DEVICE AND METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
走査電子顕微鏡を用いた検査装置および検査方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS OF OBSERVING IMAGE IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
走査電子顕微鏡における像観察方法及び装置 - 特許庁
PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD OF MANUFACTURING SAME例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡用探針およびその製造方法。 - 特許庁
MICRO STATE OBSERVING METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
微細状態の観察方法及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
LINEWIDTH MEASUREMENT REGULATION METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
線幅測定調整方法及び走査型電子顕微鏡 - 特許庁
PROBE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND PROBE MICROSCOPE OF SCANNING TYPE例文帳に追加
プローブとその製造方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
AUTOMATIC FOCUSING METHOD IN SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE例文帳に追加
走査型電子顕微鏡における自動焦点合わせ方法 - 特許庁
METHOD OF CORRECTING DEFECT OF PHOTOMASK AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
フォトマスクの欠陥修正方法及び走査プローブ顕微鏡 - 特許庁
ANISOTROPIC FRICTION DATA ACQUISITION METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡の異方摩擦データ取得方法 - 特許庁
PROBE FOR SCANNING TUNNELING MICROSCOPE AND METHOD OF FABRICATION例文帳に追加
走査型トンネル顕微鏡用探針およびその作製方法 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD USING SAME例文帳に追加
走査型電子顕微鏡及びそれを用いる測定方法 - 特許庁
CANTILEVER FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡用カンチレバーおよびその製造方法 - 特許庁
SCANNING IMAGE SIGNAL ACQUIRING METHOD AND SCAN TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
走査像信号取得方法および走査電子顕微鏡 - 特許庁
SCANNING LASER MICROSCOPE, ITS CONTROL METHOD AND PROGRAM例文帳に追加
走査型レーザ顕微鏡、及びその制御方法、並びにプログラム - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND EXCITATION METHOD FOR CANTILEVER ARRAY例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡及びカンチレバーアレイの励振方法 - 特許庁
PRODUCING METHOD OF SILVER NANO-STRUCTURE BY SCANNING TUNNELING MICROSCOPE例文帳に追加
走査トンネル顕微鏡による銀ナノ構造の作製方法 - 特許庁
ELECTROSTATIC CAPACITY MEASURING METHOD BY SCANNING CAPACITIVE MICROSCOPE例文帳に追加
走査容量顕微鏡による静電容量測定方法 - 特許庁
SCANNING METHOD IN ELECTRON SOURCE DEVICE AND ELECTRON SOURCE DEVICE例文帳に追加
電子源装置におけるスキャン方法および電子源装置 - 特許庁
SENSOR FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
走査型探針顕微鏡用センサ及びその製造方法 - 特許庁
PROBE OF SCANNING TUNNELING MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
走査型トンネル顕微鏡の探針及びその製造方法 - 特許庁
NETWORK SCANNING METHOD AND APPARATUS, AND PACKET FORMAT例文帳に追加
ネットワークスキャニング方法,ネットワークスキャニング装置およびパケットフォーマット - 特許庁
LASER SCANNING-TYPE FLUORESCENCE MICROSCOPE AND FLUORESCENCE OBSERVATION METHOD例文帳に追加
レーザ走査型蛍光顕微鏡および蛍光観察方法 - 特許庁
DEFECT INSPECTING METHOD USING SCANNING CHARGED PARTICLE BEAM SYSTEM例文帳に追加
走査型荷電粒子ビーム装置を用いた欠陥検査方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR CORRECTING SCANNING ERROR IN FLATBED CANNER例文帳に追加
フラットベッドスキャナーにおけるスキャニングエラー補正方法及び装置 - 特許庁
SELF-SCANNING LIGHT-EMITTING DEVICE ARRAY CHIP AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
自己走査型発光素子アレイチップおよびその製造方法 - 特許庁
MOTOR CONTROLLER, DOCUMENT SCANNING DEVICE, AND MOTOR CONTROL METHOD例文帳に追加
モータ制御装置、原稿読取装置およびモータ制御方法 - 特許庁
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