| 意味 | 例文 |
scanning methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 3560件
SCANNING OPTICAL DEVICE, METHOD OF MANUFACTURING IT, AND IMAGE FORMING APPARATUS例文帳に追加
走査光学装置及びその製造方法及び画像形成装置 - 特許庁
OPTICAL SCANNING DEVICE, BEAM CURVATURE CORRECTION METHOD AND IMAGE FORMING APPARATUS例文帳に追加
光走査装置、光線湾曲補正方法及び画像形成装置 - 特許庁
LIGHT SOURCE DEVICE, ADJUSTMENT METHOD, OPTICAL SCANNING DEVICE AND IMAGE FORMING APPARATUS例文帳に追加
光源装置、調整方法、光走査装置及び画像形成装置 - 特許庁
LIGHT BEAM SCANNER, IMAGE FORMING DEVICE, AND LIGHT BEAM SCANNING METHOD例文帳に追加
光ビーム走査装置、画像形成装置及び光ビーム走査方法 - 特許庁
OPTICAL BEAM SCANNING EXPOSURE DEVICE AND METHOD FOR REGULATING OPTICAL AXIS THEREOF例文帳に追加
光ビーム走査式露光装置及びそれの光軸調整方法 - 特許庁
SCANNING PROJECTING LIGHT EXPOSURE APPARATUS, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD USING IT例文帳に追加
走査型投影露光装置、及び該装置を用いる素子製造方法 - 特許庁
To provide an improved method for operating a laser scanning system.例文帳に追加
レーザースキャンニングシステムを操作する改良された方法を提供する。 - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING SAMPLE FOR CROSS-SECTIONAL OBSERVATION BY SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
走査電子顕微鏡による断面観察用サンプルの作製方法 - 特許庁
METHOD FOR OBSERVING SAMPLE IMAGE IN SCANNING CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加
走査型荷電粒子ビーム装置における試料像観察方法 - 特許庁
METHOD AND INSTRUMENT FOR MEASURING BEAM SHAPE OF SCANNING OPTICAL SYSTEM例文帳に追加
走査光学系におけるビーム形状の測定方法及び装置 - 特許庁
OPTICAL SCANNING METHOD, OPTICAL SCANNER, PHOTOSENSITIVE MEDIUM, AND IMAGE FORMING APPARATUS例文帳に追加
光走査方法・光走査装置・感光媒体・画像形成装置 - 特許庁
METHOD, MODULE, AND DEVICE FOR OPTICAL SCANNING, AND IMAGE FORMING DEVICE例文帳に追加
光走査方法、光走査モジュール、光走査装置、画像形成装置 - 特許庁
DEFECT-DETECTING METHOD OF METAL BODY, AND SCANNING TYPE MAGNETIC DETECTOR例文帳に追加
金属体の欠陥検出方法及びスキャニング式磁気検出器 - 特許庁
SCANNING ELEMENT, SYMBOLIC DEVICE, AND METHOD FOR TESTING QUALITY OF COMBINED CIRCUIT例文帳に追加
スキャン素子、論理装置および、組み合せ回路の良否テスト方法 - 特許庁
IMAGE FORMING DEVICE, OPTICAL SCANNING DEVICE, AND CONTROL METHOD FOR THE SAME例文帳に追加
画像形成装置、光学走査装置、及びそれらの制御方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR ADJUSTING SCANNING OPTICAL SYSTEM例文帳に追加
走査光学系の調整方法及び走査光学系の調整装置 - 特許庁
SCANNING BEAM INSPECTION DEVICE AND SIGNAL PROCESSING METHOD OF FLAW DETECTION例文帳に追加
走査ビーム検査装置、および欠陥検出の信号処理方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR IMAGING SAMPLE WITH SCANNING MICROSCOPY例文帳に追加
走査顕微鏡により試料を画像化するための方法および装置 - 特許庁
LIGHT BEAM SCANNER, IMAGE FORMING APPARATUS AND LIGHT BEAM SCANNING METHOD例文帳に追加
光ビーム走査装置、画像形成装置、及び光ビーム走査方法 - 特許庁
SCANNING CIRCUIT, DISPLAY DEVICE, DRIVE METHOD OF DISPLAY DEVICE, AND ELECTRONIC APPARATUS例文帳に追加
走査回路、表示装置、表示装置の駆動方法、及び、電子機器 - 特許庁
ELECTRONIC CIRCUIT BOARD, ARRANGING METHOD FOR CIRCUIT BOARD, AND OPTICAL SCANNING DEVICE例文帳に追加
電子回路基板、回路基板の配置方法、及び光走査装置 - 特許庁
HEIGHT MEASURING METHOD, CONFOCAL SCANNING OPTICAL MICROSCOPE, AND PROGRAM例文帳に追加
高さ測定方法、共焦点走査型光学顕微鏡、及びプログラム - 特許庁
METHOD FOR REDUCING MOIRE INTERFERENCE PATTERN IN SCANNING OF HALFTONE IMAGE例文帳に追加
ハーフトーン画像の走査におけるモアレ干渉パターンの低減方法 - 特許庁
SCANNING TYPE CONFOCAL MICROSCOPE AND METHOD OF MEASURING SAMPLE INFORMATION例文帳に追加
走査型共焦点顕微鏡および試料情報測定方法 - 特許庁
BEAM LIGHT SCANNER, IMAGE FORMING APPARATUS, AND BEAM LIGHT SCANNING METHOD例文帳に追加
ビーム光走査装置、画像形成装置、及びビーム光走査方法 - 特許庁
MAGNETIC DOMAIN STRUCTURAL IMAGE ACQUISITION METHOD AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
磁区構造画像取得方法および走査透過電子顕微鏡 - 特許庁
DISTANCE CONTROL METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加
距離制御方法およびそれを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
CONFOCAL SCANNING OPTICAL MICROSCOPE, HEIGHT MEASURING METHOD AND PROGRAM例文帳に追加
共焦点走査型光学顕微鏡、高さ測定方法、及びプログラム - 特許庁
LASER SCANNING MICROSCOPE APPARATUS, AND SURFACE SHAPE MEASURING METHOD THEREOF例文帳に追加
レーザ走査型顕微鏡及びその表面形状の測定方法 - 特許庁
PROBE USED FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡用プローブ及びそのプローブの作製方法 - 特許庁
ELECTROMAGNETIC WAVE SCANNING METHOD, PICTURE PROJECTION DEVICE AND IMAGE ACQUISITION DEVICE例文帳に追加
電磁波の走査方法、映像投影装置および画像取得装置 - 特許庁
IMAGE PROCESSING APPARATUS AND IMAGE PROCESSING METHOD BY SHEET SCANNING SYSTEM例文帳に追加
シートスキャン方式による画像処理装置および画像処理方法 - 特許庁
PATTERN DIMENSION MEASURING METHOD, AND SCANNING TRANSMISSION CHARGED PARTICLE MICROSCOPE例文帳に追加
パターン寸法計測方法及び走査型透過荷電粒子顕微鏡 - 特許庁
LOW VACUUM SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS METHOD FOR EXCHANGE OF TEST PIECE例文帳に追加
低真空走査電子顕微鏡及びその試料交換方法 - 特許庁
SCANNING CONTROL METHOD FOR INPUT DEVICE, APPARATUS THEREFOR AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
入力装置のスキャン制御方法、その装置及び記録媒体 - 特許庁
SCANNING TYPE SURFACE SHAPE MEASURING DEVICE AND SURFACE SHAPE MEASURING METHOD例文帳に追加
走査型面形状測定装置および面形状測定方法 - 特許庁
LIGHT BEAM DISPLACEMENT CALCULATION METHOD, LIGHT SCANNING DEVICE, AND IMAGE FORMATION APPARATUS例文帳に追加
光線変位算出方法、光走査装置、及び画像形成装置 - 特許庁
FIXING METHOD OF OPTICAL ELEMENT, OPTICAL SCANNING DEVICE, AND IMAGE FORMING DEVICE例文帳に追加
光学素子の固定方法、光走査装置及び画像形成装置 - 特許庁
SCANNING CONTROL METHOD FOR INPUT DEVICE, APPARATUS THEREFOR, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
入力装置のスキャン制御方法、その装置及び記録媒体 - 特許庁
INTERPORATION METHOD AND DEVICE FOR ACOUSTIC SCANNING LINE, AND ULTRASONOGRAPH例文帳に追加
音響走査線補間方法および装置と超音波診断装置 - 特許庁
OPTICAL SCANNER, IMAGE FORMING APPARATUS, AND METHOD FOR DETECTING SCANNING LINE INCLINATION例文帳に追加
光走査装置・画像形成装置・走査線傾きの検出方法 - 特許庁
OPTICAL SCANNING DEVICE, LIGHT-QUANTITY CONTROL METHOD, AND IMAGE FORMATION DEVICE例文帳に追加
光学走査装置、光量制御方法及び画像形成装置 - 特許庁
SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE AND METHOD OF OBSERVING CHANGE IN MOLECULAR STRUCTURE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡および分子構造変化観測方法 - 特許庁
APPARATUS FOR FORMING IMAGE ON PLATE AND INTER-SLEEVE RASTER SCANNING METHOD例文帳に追加
版に画像を形成する装置、およびインタリーブラスタ走査ライン方法 - 特許庁
CORPUSCULAR-BEAM CANCER TREATMENT APPARATUS AND CORPUSCULAR-BEAM SCANNING IRRADIATION METHOD例文帳に追加
粒子線がん治療装置および粒子線スキャニング照射方法 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD OF SURFACE STRUCTURE OF SAMPLE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡及び試料の表面構造測定方法 - 特許庁
SCANNING IMAGE FORMING LENS, IMAGE WRITING METHOD AND IMAGE WRITING DEVICE例文帳に追加
走査結像レンズおよび画像書込方法および画像書込装置 - 特許庁
OPTICAL RECORDING MEDIUM SCANNING METHOD AND DEVICE THEREOF, AND OPTICAL RECORDING MEDIUM例文帳に追加
光記録媒体走査方法およびその装置と光記録媒体 - 特許庁
MEASURING METHOD AND APPARATUS OF BEAM TYPE IN SCANNING OPTICAL SYSTEM例文帳に追加
走査光学系におけるビーム形状の測定方法及び装置 - 特許庁
| 意味 | 例文 |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|