| 意味 | 例文 |
system testの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 3508件
BATTERY PACK EVALUATION TEST SYSTEM例文帳に追加
組電池評価試験システム - 特許庁
TEST SYSTEM FOR FIRE EXTINGUISHING EQUIPMENT例文帳に追加
消火設備の試験システム - 特許庁
TEST SYSTEM OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置のテストシステム - 特許庁
TEST SYSTEM OF COMMUNICATION TERMINAL例文帳に追加
通信端末の試験システム - 特許庁
To provide a test data generator, a test system and a test method.例文帳に追加
テストデータ発生器、テストシステム及びテスト方法を提供する。 - 特許庁
TEST DEVICE, TEST SYSTEM AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路のテスト装置、テストシステム、及びテスト方法 - 特許庁
TEST SYSTEM FOR INCORPORATED SOFTWARE例文帳に追加
組み込みソフトウェアのテストシステム - 特許庁
AUTOMATIC TEST PROGRAM GENERATION SYSTEM例文帳に追加
テストプログラム自動生成システム - 特許庁
TEST COVERING RATIO CALCULATION SYSTEM例文帳に追加
テスト網羅率算出方式 - 特許庁
LOGIC CIRCUIT VERIFICATION/TEST SYSTEM例文帳に追加
論理回路検証・テストシステム - 特許庁
PROCESS MODEL BASE AUTOMATIC TEST SYSTEM例文帳に追加
プロセスモデルベース自動テストシステム - 特許庁
MULTI-CHANNEL SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM例文帳に追加
マルチチャネル半導体テストシステム - 特許庁
BROADCAST COMMUNICATION TEST SYSTEM例文帳に追加
ブロードキャスト通信試験方式 - 特許庁
TEST TUBE AND DISPENSING SYSTEM例文帳に追加
試験管及び分注システム - 特許庁
PROGRAM GENERATOR AUTOMATIC TEST SYSTEM例文帳に追加
プログラムジェネレータ自動テストシステム - 特許庁
EVENT TYPE SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM例文帳に追加
イベント型半導体テストシステム - 特許庁
DATA TRANSMISSION SYSTEM TEST DEVICE例文帳に追加
データ伝送システム試験装置 - 特許庁
TEST SYSTEM FOR STEERING DEVICE例文帳に追加
ステアリング装置用試験システム - 特許庁
PSYCHOLOGICAL TEST DATA JUDGMENT SYSTEM例文帳に追加
心理検査データ判定システム - 特許庁
SUPPORT SYSTEM FOR DEVELOPMENT TEST OF INFORMATION SYSTEM例文帳に追加
情報システム開発試験支援システム - 特許庁
TEST SUPPORTING SYSTEM FOR DISTRIBUTED OBJECT SYSTEM例文帳に追加
分散オブジェクトシステムの試験支援システム - 特許庁
BASE STATION TEST APPARATUS, BASE STATION TEST SYSTEM, AND BASE STATION TEST METHOD OF BASE STATION TEST SYSTEM例文帳に追加
基地局試験装置、基地局試験システム及び基地局試験システムの基地局試験方法 - 特許庁
TEST PATTERN GENERATOR FOR SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM例文帳に追加
半導体試験装置の試験パターン発生装置 - 特許庁
PERSONALITY TEST SYSTEM AND PERSONALITY TEST METHOD例文帳に追加
性格診断システムおよび性格診断方法 - 特許庁
TEST SUPPORT SYSTEM, TEST SUPPORT METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加
テスト支援システム、テスト支援方法、及びプログラム - 特許庁
ELECTRON BEAM TEST SYSTEM AND ELECTRON BEAM TEST METHOD例文帳に追加
電子ビームテストシステム及び電子ビームテスト方法 - 特許庁
TEST SYSTEM AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR PACKAGE例文帳に追加
半導体パッケージのテストシステム及びテスト方法 - 特許庁
STTD FUNCTIONAL TEST SYSTEM例文帳に追加
STTD機能試験システム - 特許庁
AUTOMATIC TEST SPECIFICATION GENERATION SYSTEM例文帳に追加
テスト仕様自動生成方式 - 特許庁
TEST SYSTEM OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置のテスト方式 - 特許庁
TEST SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置の試験システム - 特許庁
CLINICAL TEST DATA PROCESSING SYSTEM例文帳に追加
臨床検査データ処理システム - 特許庁
PERFORMANCE TEST SYSTEM OF PROTECTION RELAY例文帳に追加
保護リレーの動作試験システム - 特許庁
SYSTEM FOR AUTOMATICALLY GENERATING TEST PROGRAMS例文帳に追加
テストプログラム自動作成システム - 特許庁
PERFORMANCE BOARD AND TEST SYSTEM例文帳に追加
パフォーマンスボード及び試験システム - 特許庁
TEST SYSTEM AND SAMPLING METHOD例文帳に追加
テストシステム及びサンプリング方法 - 特許庁
SUBORDINATE UNIT OPPOSITE TEST SYSTEM例文帳に追加
下位装置対向試験方式 - 特許庁
TEST SYSTEM FOR DATA TRANSMITTER例文帳に追加
データ送出装置のテストシステム - 特許庁
WIRELESS NETWORK TEST SYSTEM AND WIRELESS NETWORK TEST METHOD例文帳に追加
無線網試験システム及び無線網試験方法 - 特許庁
TEST JIG AND TEST METHOD FOR WIRELESS COMMUNICATION SYSTEM例文帳に追加
無線通信システムのテスト治具およびテスト方法 - 特許庁
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