「system test」に関連した英語例文の一覧と使い方(71ページ目) - Weblio英語例文検索

The screening method is a novel method for quickly and easily screening antiallergic factors without using an allergy onset model culture system for suppressing the IgE antibody production but by measuring a decrease in an expression level of NOV-derived protein correlated thereto using human T-lymphocyte leukemia cell line MOLT-4, or measuring a binding capacity of the NOV-derived protein itself with a test substance.例文帳に追加

ＩｇＥ抗体の生産を抑制するアレルギー発症モデル培養系を利用せず、それに相関するＮＯＶ由来タンパク質の発現量減少をヒトＴリンパ球性白血病細胞株Ｍｏｌｔ−４を利用して計測するか、又は、ＮＯＶ由来タンパク質そのものと被検物質との結合能を測定することにより、新規に方法として、抗アレルギー因子を迅速、簡便にスクリーニング可能にする方法である。 - 特許庁

As a method for time limiting (setting) of an open trial examination, a home test wherein an examination is assumed, etc., through the Internet, a time setting method for question answering using a communication network is provided which performs forcible transmission to an educational system server immediately each time a time previously set for each problem elapses after a problem begins to be solved.例文帳に追加

インターネット等を介しての公開模擬試験や、試験を仮定しての在宅テスト等における時間制限（設定）を行う方法において、問題に着手してから、予め問題単位ごと等に設定された時間に応じて、設定時間の経過と共に、即座に教育システムサーバーに強制的に送信されるようにしてなる、通信ネットワークを用いた問題解答における時間設定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a production evaluation control system in which, when a defective point of a product is found from evaluation result information based on at least one of the inspection and test of the product, site information data on the equipment of a production process involved in the production of the product corresponding to the information are collected immediately and analyzed so that the problem of the production process can be elucidated instantly.例文帳に追加

製品の検査および試験の少なくとも一方に基づく評価結果情報から製品の不具合点が判明した場合にその評価結果情報に対応する製品の製造に関与した製造工程の設備の現場情報データを直ちに収集し分析することで製造工程の問題点を短時間で即座に究明することができる製造評価管理システムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit that secures a timing margin at -40°C in the design of the semiconductor integrated circuit, guarantees normal operation under a low-temperature environment since design and a substantive test for securing appropriate operation under strict temperature conditions, such as -40°C, require a great number of working hours and time, and can reduce a design period, and to provide a system.例文帳に追加

半導体集積回路の設計において−４０℃でのタイミングマージンを確保するとともに、−４０℃というような厳しい温度条件での適切な動作を確保するための設計及び実証テストは非常に多くの工数、手間、及び時間がかかる問題があるため、低温環境下での正常動作を保証するとともに、設計期間を短縮することが可能な半導体集積回路及びシステムを提供する。 - 特許庁

This system for measuring optical characteristic of an object to be optically measured (DUT) 104 comprises a light source 112 for generating a light signal applied to the optical DUT 104, a reference interferometer 106, a test interferometer 108 connected with the light source 112 optically, and a computing device 110 connected with the interferometers to assist the determination of optical characteristic of the optical DUT by utilizing amplitude and phase computing component.例文帳に追加

本発明は、光学被測定物（ＤＵＴ）（１０４）の光学特性を測定するためのシステムであって、前記光学ＤＵＴ（１０４）に加えられる光信号を発生するための光源（１１２）と、基準干渉計（１０６）、及び、光源（１１２）に光学的に結合されたテスト干渉計（１０８）と、干渉計に結合され、振幅及び位相計算コンポーネントを利用して、光学ＤＵＴの光学特性の判定を助ける計算装置（１１０）が含まれる、システムを提供する。 - 特許庁