「system testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

BASE-STATION TESTING DEVICE AND SYSTEM AND METHOD FOR TESTING VOICE SIGNAL例文帳に追加

基地局試験装置，音声信号試験システムおよび試験方法 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR TESTING ATM AND CONTINUITY TESTING DEVICE例文帳に追加

ＡＴＭ試験方法とＡＴＭ試験システム及び導通試験装置 - 特許庁

TESTING SYSTEM FOR BRANCH LIGHT RAY LINE AND TESTING METHOD FOR BRUNCH LIGHT RAY LINE例文帳に追加

分岐光線路試験システムおよび分岐光線路試験方法 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT TESTING SYSTEM, AND HEATER STRUCTURE例文帳に追加

集積回路テストシステムおよびヒータ構造 - 特許庁

METHOD FOR TESTING PROJECTION OPTICAL SYSTEM, TESTING DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME SYSTEM例文帳に追加

投影光学系の検査方法、検査装置、及び投影光学系の製造方法 - 特許庁

SYSTEM AND PROGRAM FOR CONTROLLING VIBRATION-TESTING MACHINE例文帳に追加

振動試験機制御システム及びプログラム - 特許庁

TESTING SYSTEM INVOLVING DIFFERENTIAL SIGNAL MEASUREMENT例文帳に追加

差動信号測定をともなう試験システム - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING ELECTRONIC COMPASS例文帳に追加

電子コンパスをテストするシステム及び方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING IC例文帳に追加

ＩＣ試験システム、及びＩＣ試験方法 - 特許庁

ELECTRONIC DEVICE TESTING SYSTEM AND METHOD例文帳に追加

電子部品検査システムおよびその方法 - 特許庁

LIGHT SOURCE TESTING SYSTEM AND METHOD例文帳に追加

光源テストシステム及び光源のテスト方法 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR TESTING OPTICAL FIBER LINE例文帳に追加

光線路試験方法及び試験システム - 特許庁

LOADWHEEL ASSEMBLY FOR TIRE TESTING SYSTEM例文帳に追加

タイヤ検査システム用のロードホイール組立体 - 特許庁

STARTUP RANGE MONITOR SYSTEM INSPECTION TESTING DEVICE例文帳に追加

起動領域モニタシステム検査試験装置 - 特許庁

TESTING SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置のテストシステム - 特許庁

SUSPENSION SYSTEM AND MOVABLE LOAD TESTING VEHICLE例文帳に追加

懸架装置及び移動式載荷試験車 - 特許庁

LOAD TEST SYSTEM AND LOAD TESTING METHOD例文帳に追加

負荷試験システムおよび負荷試験方法 - 特許庁

POWER SYSTEM MONITOR CONTROL SYSTEM RECORDING AUTOMATIC TESTING DEVICE例文帳に追加

電力系統監視制御システム記録自動試験装置 - 特許庁

ELECTRIC TEST SYSTEM FOR TESTING CHANNEL OF COMMUNICATION SYSTEM例文帳に追加

通信システムのチャネルをテストするための電気テストシステム - 特許庁

PERSONAL COMPUTER SYSTEM FOR TESTING POWER SYSTEM SERVICE AID DEVICE例文帳に追加

電力系統保守支援装置の試験用パソコンシステム - 特許庁

SYSTEM FOR TESTING ARITHMETIC PROCESSOR IN MULTIPROCESSOR SYSTEM例文帳に追加

マルチプロセッサシステムにおける演算処理装置の試験方式 - 特許庁

SUBSCRIBER CIRCUIT TESTING DEVICE, SUBSCRIBER CIRCUIT TESTING SYSTEM, SUBSCRIBER CIRCUIT TESTING METHOD AND SUBSCRIBER CIRCUIT TESTING PROGRAM例文帳に追加

加入者回路試験装置、加入者回路試験システム、加入者回路試験方法および加入者回路試験プログラム - 特許庁

PROBE CARD HAVING ZIF CONNECTOR AND ITS WAFER TESTING SYSTEM, AND TEST BOARD AND ITS TESTING SYSTEM例文帳に追加

ＺＩＦコネクタを有するプローブカードとそのウェハテストシステム、テストボードおよびそのテストシステム - 特許庁

ANALYTE TESTING METHOD AND SYSTEM例文帳に追加

検体試験方法および検体試験システム - 特許庁

TESTING METHOD OF CENTRALIZED MONITORING CONTROL SYSTEM例文帳に追加

集中監視制御システムの試験方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING COMMUNICATION SYSTEM例文帳に追加

通信システムの検査方法及びその装置 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING ELECTRIFICATION例文帳に追加

帯電試験システムおよび帯電試験方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING MULTIPROCESSOR MEMORY例文帳に追加

マルチプロセッサメモリをテストするシステム及び方法 - 特許庁

MONITORING CONTROL SYSTEM AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

監視制御システムおよびその試験方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING CONTROL CABLE例文帳に追加

制御ケーブル試験システム及び試験方法 - 特許庁

METHOD OF TESTING COMPUTER, AND COMPUTER SYSTEM例文帳に追加

コンピュータの試験方法およびコンピュータ・システム - 特許庁

CAMERA, COMMUNICATION SYSTEM, AND TESTING METHOD OF CAMERA例文帳に追加

カメラ、通信システム、及びカメラのテスト方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING DUPLEX SUPERVISORY AND CONTROL SYSTEM例文帳に追加

二重化監視制御システムの試験方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING VIBRATION例文帳に追加

振動試験装置及び振動試験方法 - 特許庁

ELECTRONIC BEAM-TESTING SYSTEM AND METHOD例文帳に追加

電子ビームテストシステム及び電子ビームテスト方法 - 特許庁

DEVICE TEST SYSTEM AND DEVICE TESTING METHOD例文帳に追加

装置試験システムおよび装置試験方法 - 特許庁

METHOD OF TESTING PATTERN AND DATA PROCESSING SYSTEM例文帳に追加

パターン検証方法及びデータ処理システム - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING SUBSCRIBER LINE例文帳に追加

加入者回線テストシステム及びその方法 - 特許庁

BLOWING SYSTEM AND DEVICE FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加

送風装置及び電子部品試験装置 - 特許庁

SYSTEM FOR TESTING EXPIRATION, AND EXHALATION BAG THEREFOR例文帳に追加

呼気検査システム及びそのための呼気バッグ - 特許庁

ANTENNA ACCOMMODATING APPARATUS AND ANTENNA TESTING SYSTEM例文帳に追加

アンテナ収容装置およびアンテナ検査システム - 特許庁

TESTING MEASURING APPARATUS, MEASURING SYSTEM AND METHOD例文帳に追加

試験測定機器、測定システム及び方法 - 特許庁

TESTING SYSTEM AND TEST METHOD OF SHORT MESSAGE例文帳に追加

ショートメッセージ試験システム及び試験方法 - 特許庁

MICRO FLUID DEVICE, METHOD FOR TESTING SOLUTION TO BE TESTED, AND SYSTEM FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

マイクロ流体デバイス並びに試液の試験方法および試験システム - 特許庁

INFORMATION PROCESSING APPARATUS, ALLOWABLE VOLTAGE TESTING SYSTEM, AND ALLOWABLE VOLTAGE TESTING METHOD例文帳に追加

情報処理装置、許容電圧試験システム、許容電圧試験方法 - 特許庁