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test data generatorの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 53件
A data fetch control section 2 of this luminance characteristic measurement instrument changes the raster size to display a test pattern, consisting of a plurality of longitudinal or lateral stripes generated by a signal generator 4 onto a color CRT 6, in a way such that relative positions of phosphors in each stripe differs from each other.例文帳に追加
データ取込制御部2はラスタサイズを変更して信号発生器4で発生した複数本の縦縞若しくは横縞の縞模様からなるテストパターンを、各縞内の発光螢光体の相対的な位置が異なるようにカラーCRT6に表示させる。 - 特許庁
A semiconductor test device 10 is provided with an address generator 13 generating a two-dimensional address given to a DUT 40, an address conversion part 16 converting the two-dimensional address A2 generated by the address generator 13 to one-dimensional address A4, and a collection memory controller 17 performing burst-transfer of fail data D3 output from a comparator 14 using an address A4 to a correction memory 18.例文帳に追加
半導体試験装置10は、DUT40に与える二次元アドレスを生成するアドレスジェネレータ13、アドレスジェネレータ13が生成した二次元のアドレスA2を一次元のアドレスA4に変換するアドレス変換部16、及びアドレスA4を用いてコンパレータ14から出力されるフェイルデータD3を収集メモリ18にバースト転送する収集メモリコントローラ17を備える。 - 特許庁
An analog input signal S26Ai from a simulation analog signal generator and a reference analog signal S26Si are compared, the reference analog signal S26Si and the analog input signal S26Ai are arithmetically processed or a function is provided on the basis of an arithmetic process result, and an input output characteristic test is carried out on the basis of data acquired by the process.例文帳に追加
模擬アナログ信号発生装置からのアナログ入力信号S26Aiと基準アナログ信号S26Siとを比較し、基準アナログ信号S26Siとアナログ入力信号S26Aiとを演算処理し、または演算処理結果を関数化し、この処理によって得られたデータを基に入出力特性試験を行う。 - 特許庁
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