test data generatorとは 意味・読み方・使い方

An address/data generator 9, a buffer 10 and a command generator 11 are provided in a memory test device.例文帳に追加

メモリテスト装置には、アドレス／データ発生器９、バッファ１０、およびコマンド発生器１１が設けられている。 - 特許庁

A pattern generator 20 generates a functional test pattern comprising steps of logical data.例文帳に追加

パターンジェネレータ２０は論理データの各ステップからなる機能テストパターンを発生する。 - 特許庁

LINE CALL GENERATOR FOR FUNCTION TEST OF RADIO DATA SERVICE DEVICE AND FUNCTION TESTING METHOD例文帳に追加

無線デ—タサ—ビス装置の機能試験用回線呼発生器及び機能試験方法 - 特許庁

The test system includes a test code generator, a test engine for executing a plurality of copies of a test code, and a data analyzer for analyzing a result and presenting the result to a human user.例文帳に追加

テストシステムは、テストコードジェネレータ、テストコードの複数のコピーを実行するためのテストエンジン、結果を分析し、ヒューマンユーザに提示するためのデータアナライザーを含んでいる。 - 特許庁

Operations for reading out the selected test pattern data from the test pattern memory, and writing it into the test pattern signal generator are controlled by a control unit.例文帳に追加

選択されたテストパターンデータをテストパターンメモリから読み出す動作と、それをテストパターン信号発生器に書き込む動作は、制御部によって制御される。 - 特許庁

A pattern generating circuit generates a plurality of the same continuous pattern data of test rate in the generation of a test waveform at a general test rate on the basis of the clock of the test rate generated in a rate generator, and generates a plurality of different continuous pattern data of test rate in the generation of high-speed test waveform.例文帳に追加

パターン発生回路は、レート発生器で発生したテストレートのクロックに基づいて、通常のテストレートでテスト波形を生成するときはテストレートの複数の同じ連続パターンデータを発生し、高速のテスト波形を生成するときはテストレートの複数の異なる連続パターンデータを発生する。 - 特許庁

To provide a pattern data generator which can prepare various types of test pattern data as required by a user through a simple arrangement.例文帳に追加

簡単な構成で、使用者の希望に応じて種々のテストパターンデータを用意できるテストパターンデータの生成装置を提供する。 - 特許庁

An exclusive OR-gate 10 combines digital data signals D from the test signal generator and error signals from the error signal generator to generate test signals T having poisson's distribution errors.例文帳に追加

排他的オア・ゲート１０は、試験信号発生器からのデジタル・データ信号Ｄと、エラー信号発生器からのエラー信号Ｅとを組み合わせて、エラーがポアソン分布の試験信号Ｔを発生する。 - 特許庁