「test data generator」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

The test aid device comprises a test pattern memory memorizing a plurality of test pattern data corresponding to a plurality of test items, and a test pattern signal generator which writes test pattern data selected from among a plurality of the test pattern data.例文帳に追加

テスト補助装置は、複数のテスト項目に対応した複数のテストパターンデータを記憶するテストパターンメモリと、複数のテストパターンデータの中から選択されたテストパターンデータを書き込テストパターン信号発生器を有する。 - 特許庁

A test signal generator 6 generates known digital data signals D.例文帳に追加

試験信号発生器６は、既知のデジタル・データ信号Ｄを発生する。 - 特許庁

An address/data generator 9, a buffer 10 and a command generator 11 are provided in a memory test device.例文帳に追加

メモリテスト装置には、アドレス／データ発生器９、バッファ１０、およびコマンド発生器１１が設けられている。 - 特許庁

A pattern generator 20 generates a functional test pattern comprising steps of logical data.例文帳に追加

パターンジェネレータ２０は論理データの各ステップからなる機能テストパターンを発生する。 - 特許庁

LINE CALL GENERATOR FOR FUNCTION TEST OF RADIO DATA SERVICE DEVICE AND FUNCTION TESTING METHOD例文帳に追加

無線デ—タサ—ビス装置の機能試験用回線呼発生器及び機能試験方法 - 特許庁

The test system includes a test code generator, a test engine for executing a plurality of copies of a test code, and a data analyzer for analyzing a result and presenting the result to a human user.例文帳に追加

テストシステムは、テストコードジェネレータ、テストコードの複数のコピーを実行するためのテストエンジン、結果を分析し、ヒューマンユーザに提示するためのデータアナライザーを含んでいる。 - 特許庁

Operations for reading out the selected test pattern data from the test pattern memory, and writing it into the test pattern signal generator are controlled by a control unit.例文帳に追加

選択されたテストパターンデータをテストパターンメモリから読み出す動作と、それをテストパターン信号発生器に書き込む動作は、制御部によって制御される。 - 特許庁

A pattern generating circuit generates a plurality of the same continuous pattern data of test rate in the generation of a test waveform at a general test rate on the basis of the clock of the test rate generated in a rate generator, and generates a plurality of different continuous pattern data of test rate in the generation of high-speed test waveform.例文帳に追加

パターン発生回路は、レート発生器で発生したテストレートのクロックに基づいて、通常のテストレートでテスト波形を生成するときはテストレートの複数の同じ連続パターンデータを発生し、高速のテスト波形を生成するときはテストレートの複数の異なる連続パターンデータを発生する。 - 特許庁

To provide a pattern data generator which can prepare various types of test pattern data as required by a user through a simple arrangement.例文帳に追加

簡単な構成で、使用者の希望に応じて種々のテストパターンデータを用意できるテストパターンデータの生成装置を提供する。 - 特許庁

An exclusive OR-gate 10 combines digital data signals D from the test signal generator and error signals from the error signal generator to generate test signals T having poisson's distribution errors.例文帳に追加

排他的オア・ゲート１０は、試験信号発生器からのデジタル・データ信号Ｄと、エラー信号発生器からのエラー信号Ｅとを組み合わせて、エラーがポアソン分布の試験信号Ｔを発生する。 - 特許庁

The generator (150) generates test data of a block unit by a combination of signals receiving from external pins.例文帳に追加

データ発生回路１５０は、外部ピンから受ける信号の組合わせによりブロック単位のテストデータを発生する。 - 特許庁

The test generator then propagates a TRI stored in a TRI data structure through the diagram, and determines a test generation plate (430).例文帳に追加

次いで、検査生成装置は、ＴＲＩデータ構造に格納されているＴＲＩを、線図を通して伝搬させ、検査生成テンプレートを決定する（４３０）。 - 特許庁

To effectively detect bus fight of a data bus when data is written from the outside in a digital processing device such as a test pattern generator or the like in which programming is freely performed.例文帳に追加

試験パターン発生器などのプログラミング自在なデジタル処理装置での外部からのデータの書き込みの際のデータバスのバスファイトを有効に検出する。 - 特許庁

ANALYSIS RESULT DISPLAYING DATA GENERATOR, METHOD AND PROGRAM, PROGRAM GENERATOR WITH TEST FUNCTION, METHOD AND PROGRAM, CONTROL OPERATION DETERMINING APPARATUS, METHOD AND PROGRAM, AND CONTROL OPERATION DETERMINING SYSTEM例文帳に追加

分析結果表示用データ生成装置、方法及びプログラム、テスト機能付きプログラム生成装置、方法及びプログラム、制御動作判定装置、方法及びプログラム、並びに、制御動作判定システム - 特許庁

The HSI sample data generator 210 serially combines received low-speed parallel test data, and generates first and second test input signals TXP, TXN having reverse phases.例文帳に追加

ＨＳＩサンプルデータ生成器２１０は、受信した低速の並列テストデータを直列に結合して、位相が互いに逆になる高速の第１テスト入力信号ＴＸＰ及び第２テスト入力信号ＴＸＮを生成する。 - 特許庁

To provide an algorithm pattern generator for a memory element test and enabling to optimize the constitution of a memory tester that includes address scrambling and data scrambling.例文帳に追加

アドレススクランブリング及びデータスクランブリングを含んでメモリテスタの構成を最適化できるメモリ素子テストのためのアルゴリズムパターン生成器を提供する。 - 特許庁

This tester 50 comprises a test signal generator 51 generating a test signal of a sine sweep waveform imitating an output signal of the torque sensor 5, a master controller 10M generating a drive signal corresponding to the test signal generated by the signal generator 51 to supply it to the electric motor M, and a data logger 52 for monitoring the test signal and a torque signal.例文帳に追加

試験装置５０は、トルクセンサ５の出力信号を模擬したサインスィープ波形の試験信号を発生する試験信号発生器５１と、この試験信号発生器５１が発生する試験信号に応じた駆動信号を発生して電動モータＭに供給するマスタコントローラ１０Ｍと、試験信号およびトルク信号をモニタするデータロガ５２とを含む。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus which performs parallel tests while applying test pattern waveforms to a plurality of devices under measurement 12, is equipped with a pattern generator 101 for generating first test pattern data common to each device 12, a storage portion 103 for generating second test pattern data individual to each device 12, and a first selection circuit 105 for choosing either the first test pattern data or the second test pattern data.例文帳に追加

複数の被測定デバイス１２に対し、試験パターン波形を印加して並列試験を行う半導体試験装置において、各被測定デバイス１２に共通の第１試験パターンデータを発生するパターン発生器１０１と、各被測定デバイス１２に個別の第２試験パターンデータを発生する記憶部１０３と、第１試験パターンデータと第２試験パターンデータのいずれかを選択する第１の選択回路１０５とを備えたことを特徴とする。 - 特許庁

The test signal generator includes: a FPGA 21; a memory 22 whose circuit data are referenced by the FPGA 21; and a connector 26 to which a module board 10 to be inspected is connected.例文帳に追加

ＦＰＧＡ２１と、このＦＰＧＡ２１が回路データを参照するメモリ２２と、被検査モジュール基板１０が接続されるコネクタ２６とを設ける。 - 特許庁

This test equipment for a memory device has a pattern generator 60, a pin data selector 70, a waveform forming device 30, a memory device insertion section 40, and a comparator 50.例文帳に追加

本発明によるメモリデバイス装置は、パターン発生器６０、ピンデータセレクタ７０、波形整形器３０、メモリデバイス差込部４０および比較器５０を有する。 - 特許庁

A test data signal and the clock signal outputted from a pulse pattern generator 11 can be adjusted on the basis of a control signal from an error detector 12.例文帳に追加

パルスパターン発生器１１が出力するテストデータ信号とクロック信号とは、エラー検出器１２からの制御信号に基づいて調整可能である。 - 特許庁

A BIST circuit comprises: an address and control signal generator generating an address and a control signal responding to the control of a BIST controller; a test data generator generating test data; and a fail detector determining whether data outputted from the same address of the memory are the same mutually or not and detecting the propriety of the fail of a memory.例文帳に追加

ＢＩＳＴ回路はＢＩＳＴコントローラの制御に応答してアドレスおよび制御信号を発生するアドレスおよび制御信号発生器と、テストデータを発生するテストデータ発生器と、メモリの同一のアドレス領域から出力されたデータが互いに同一であるか否かを判断してメモリのフェイルの可否を検出するフェイル検出器とを含む。 - 特許庁

A plurality of waveform generating circuits generates the test waveform of each continuous pattern data from the continuous pattern data generated in the pattern generating circuit and the clock for determining the change timing of each continuous pattern data generated in an edge generator.例文帳に追加

複数の波形発生回路は、パターン発生回路で発生した連続パターンデータと、エッジ発生器で発生した各連続パターンデータの変化タイミングを決定するクロックとから、各連続パターンデータのテスト波形を発生する。 - 特許庁

The data transfer control device includes a pattern generator 52 for generating a test pattern of a compliant pattern, a scrambler 54 for performing scrambling, and a data scrambler 56 for scrambling and outputting transmission data.例文帳に追加

データ転送制御装置は、コンプライアントパターンのテストパターンを発生するパターンジェネレータ５２と、スクランブル処理を行うスクランブラ５４と、送信データに対してスクランブル処理を行って出力するデータスクランブラ５６を含む。 - 特許庁

To improve the test quality, when test data are random numbers in a test method of a scanning base, by detecting a circuit description in an RTL where a failure is hardly detected by the test data of pseudo random numbers applied from the pseudo random number generator of a logic BIST, and alarming a designer to support the RTL improvement for the logic BIST.例文帳に追加

ロジックＢＩＳＴの擬似乱数発生器から印加される擬似乱数のテストデータによって故障検出がされにくいＲＴＬ中の回路記述を検出して、設計者に警告し、ロジックＢＩＳＴ向けのＲＴＬ改善を支援し、スキャンベースのテスト法においてテストデータが乱数であるときのテスト品質を向上させること。 - 特許庁

This optical transmission system has a continuity confirming circuit 106 which confirms the conduction of an input data signal, a test signal generator 105 which generates a test signal, and a switch 107 on its transmission side.例文帳に追加

本発明の光伝送システムは、送信側に、入力データ信号の導通を確認する導通確認回路１０６と、テスト信号を発生させるテスト信号発生器１０５と、切替え器１０７とを有している。 - 特許庁

The optical transmission system of this invention is provided with a continuity confirmation circuit 106 for confirming continuity of an input data signal, a test signal generator 105 for generating a test signal, and a changeover device 107 at a transmission side.例文帳に追加

本発明の光伝送システムは、送信側に、入力データ信号の導通を確認する導通確認回路１０６と、テスト信号を発生させるテスト信号発生器１０５と、切替え器１０７とを有している。 - 特許庁

By providing a vibration judging device body 11 with the simulation data storing means 15 storing the simulation data, the test can be easily performed without preparing a simulation signal generator at the external.例文帳に追加

振動判断装置本体１１に模擬データを記憶する模擬データ記憶手段１５を設けることにより、外部に模擬信号発生器を用意することなく、容易に試験を行うことができる。 - 特許庁

A test pattern 20 which is generated, by compressing data corresponding respective pins of an LSI 70 by using an algorithm enabling the data to be decompressed (easily) in real time, is stored in a pattern memory 40 of a pattern generator 30.例文帳に追加

パターンジェネレーター３０のパターンメモリ４０には、ＬＳＩ７０の各ピンに対応するデータがそれぞれリアルタイムに伸張可能（容易）なアルゴリズムで圧縮されたテストパターン２０が格納される。 - 特許庁

When a test generator comprising a computer is initialized (410), a diagram composed of higher-level semantic notations of a statechart notation and a data-flow notation is input (420).例文帳に追加

計算機からなる検査生成装置が初期化され（４１０）ると、ステートチャート表記及びデータ・フロー表記の上位セマンティック表記のからなる線図が入力される（４２０）。 - 特許庁

A semiconductor test device 100 determines pass/fail by applying a test signal from a data generator 12 to a DUT 40 and comparing the output signal and an expected value at a comparator 51, and improves testing efficiency by performing burst transfer of the fail data obtained at this time to a collection memory 18.例文帳に追加

半導体試験装置１００は、データジェネレータ１２からＤＵＴ４０に対して試験信号を印加し、その出力信号と期待値とをコンパレータ５１で比較してパス／フェイルを判定するが、このとき得られるフェイルデータを収集メモリ１８にバースト転送して試験効率を向上する。 - 特許庁

A light output from a light source 102 of an optical sender 101 is modulated by using repetition signals of "0011" from a test pattern generator 105 and a data modulator 103.例文帳に追加

光送信部１０１の光源１０２から出力された光を、試験パターン発生器１０５からの“００１１”の繰り返し信号と、データ変調器１０３を用いて変調する。 - 特許庁

The pattern data generator generating a test pattern based on register data forming a pattern comprises means for setting the register data forming a pattern being generated, and means for generating pattern data based on the register data set by the setting means.例文帳に追加

本発明のテストパターンの生成装置は、パターン作成用のレジスタデータに基づいてパターンデータを生成する装置であって、生成しようとするパターンの作成用のレジスタデータの設定手段と、上記設定手段により設定したレジスタデータに基づいてパターンデータを生成するパターンデータ生成手段とで構成されることを特徴とする。 - 特許庁

In the calculation system, a random pattern generator 12 generates test patterns 11a, 11b by extracting respective parameters such as data transfer destination, data transfer direction and the number of bursts at random and bus operation models 10a, 10b respectively transfer data on the basis of the patterns 11a, 11b through a system bus 1.例文帳に追加

ランダムパターンジェネレータ１２でデータの転送先・転送方向・バースト数等の各パラメータをランダムに抽出してテストパターン１１ａ，１１ｂを生成し、このパターン１１ａ，１１ｂに基づいてバス動作モデル１０ａ，１０ｂはシステムバス１を介してデータを転送する。 - 特許庁

A controller 50 writes a desired sequence pattern in the sequence pattern generator 23 and selects either the data encoded by a 64B/66B encoder 22 or a sequence pattern issued from the sequence pattern generator 23 and imparts the one selected to a test target device by controlling a data selector 24.例文帳に追加

制御部５０は、シーケンスパターン発生部２３に所望のシーケンスパターンを書き込むとともに、データ選択部２４を制御し、６４Ｂ／６６Ｂ符号化処理部２２によって符号化されたデータとシーケンスパターン発生部２３から出力されるシーケンスパターンとのいずれか一方を選択して被試験対象装置に与える。 - 特許庁

The load characteristics data on a model test piece at each timing of rock compressing tests is stored in a storage means 2, is read by an address generator 3 which generates an address according to a clock from the function generator 1, and is inputted to an amplifier 13 for load as a signal corresponding to a load of a virtual test piece.例文帳に追加

記憶手段２には岩石圧縮試験の各タイミングにおけるモデル試験片の荷重特性データが格納されており、これを前記関数発生器１からのクロックに対応してアドレスを発生するアドレス発生器３により読み出して、仮想試験片の荷重に対応する信号として、荷重用増幅器１３に入力する。 - 特許庁

When a command is specified for output data (test item) of one block in a model 20, a test case generator specifies a boundary 70 between a subsystem 40 including the block and a subsystem 30 preceding the subsystem 40, and calculates set points of input data to the subsystem 40 at the boundary 70 such that the test item becomes the target value.例文帳に追加

テストケース生成装置は、モデル２０中の１つのブロックの出力データ（すなわち検査項目）に対して目標値が定められている場合において、ブロックを含むサブシステム４０と、サブシステム４０の前段のサブシステム３０との境界７０を特定し、検査項目が当該目標値となるように、当該境界７０におけるサブシステム４０に対する入力データの設定値を算出する。 - 特許庁

Meanwhile, in the case of a RAM disk or a hybrid disk, the length of the recording information is decided by a data amount decision part 78 and when it is not the required length, a test pattern generated in a test pattern generator 62 of a media side EN/D and servo circuit 60 is written into a RAM area of the disk.例文帳に追加

しかし、ＲＡＭディスクやハイブリッドディスクの場合は、データ量判定部７８によって記録情報の長さが判定され、これが必要な長さでない場合は、メディア側ＥＮ／Ｄ＆サーボ回路６０のテストパターン発生器６２で発生したテストパターンをディスクのＲＡＭ領域に書き込む。 - 特許庁

A radiography reading order generator transmits an acquisition request for acquiring patient information and test information matched to predetermined retrieval conditions to an image server which stores DICOM image data including medical image data and collateral information (such as the patient information, the test information, and series information) (a step S2), and acquires the patient information and the test information provided from the image server (a step S5).例文帳に追加

読影オーダ生成装置は、医用画像データと付帯情報（患者情報、検査情報、シリーズ情報等）を含むＤＩＣＯＭ画像データを保存する画像サーバに対して、予め定められた検索条件に合致する患者情報及び検査情報を取得するための取得要求を送信し（ステップＳ２）、画像サーバから提供される患者情報及び検査情報を取得する（ステップＳ５）。 - 特許庁

To provide a pattern generator and capable of generating test pattern data by an interleave method without having to analyze or creating internal operations for pattern generation for each interleave operation, and to provide a pattern generating method.例文帳に追加

パターン生成のための内部演算をインターリーブ動作の各々に対して分析して作成しなくても、インターリーブ方式でテストパターンデータの生成が可能な半導体テストのためのパターン生成装置及びパターン生成方法を提供する。 - 特許庁

To provide a clock data recovery (CDR) IC that can adjust a jitter transmission band at a DC test for an IC without the need for employing an expensive measurement device such as a pulse pattern generator and a jitter analyzer, and to provide its jitter transmission band adjustment method.例文帳に追加

パルスパターン発生器やジッタアナライザのような高価な測定器を用いず、しかもＩＣのＤＣテスト時でのジッタ伝達帯域調整が可能なＣＤＲ ＩＣおよびそのジッタ伝達帯域調整方法を提供することにある。 - 特許庁

A frame processor 50 executes a process of decompressing the test pattern 20 output from the pattern generator 30 in operation in software manner by executing a previously set program, and generates/outputs a pulse shape signal, based on the decompressed data.例文帳に追加

フレームプロセッサー５０は、あらかじめ設定されたプログラムを実行することにより、パターンジェネレーター３０から出力されたテストパターン２０の伸張処理をソフト的に行い、さらに、伸張されたデータに基づいて、パルス波形を生成して出力する。 - 特許庁

A data fetch control part 2 changes a raster size and makes color CRT 6 display inversely a test pattern formed by arranging a plurality of dots generated by a signal generator 4, so that positions of light-emitting fluorescent substances in the dots are different from one another among the dots.例文帳に追加

データ取込制御部２はラスタサイズを変更して信号発生器４で発生した複数個のドットを配列してなるテストパターンをドット内の発光螢光体の位置がドット間で互いに異なるようにカラーＣＲＴ６に反転表示させる。 - 特許庁

The semiconductor random access memory having a complex shape is provided with a ROM device storing an all latent row data pattern to be input to a memory cell array during test procedure, a variable step address generator, a comparing device, and a control device.例文帳に追加

複雑な形状を持つ半導体ランダムアクセス・メモリが、試験手順の間に記憶セル・アレイに入力すべき悉くの潜在的な行データ・パターンを記憶するＲＯＭ装置、可変ステップ・アドレス発生器、比較装置及び制御装置を備えている。 - 特許庁

To obtain a built-in circuit for self-test in which increase of occupancy area in an integrated circuit can be suppressed by sharing a data generator generating a diagonal pattern even when RAMs having different shape are arranged in an integrated circuit.例文帳に追加

集積回路内にシェイプの異なるＲＡＭが配置されている場合においても、ダイアゴナルパターンを生成するデータ生成器を共有できるようにすることによって、集積回路内に占める面積増加を減少させることができる組込み自己試験用回路を得る。 - 特許庁