「test method」に関連した英語例文の一覧と使い方(20ページ目) - Weblio英語例文検索

HARDNESS TESTER AND HARDNESS TEST METHOD例文帳に追加

硬さ試験機及び硬さ試験方法 - 特許庁

TEST APPARATUS AND METHOD FOR MEMORY MODULE例文帳に追加

メモリモジュールの試験装置及び方法 - 特許庁

MACHINE AND METHOD FOR FRICTION TEST例文帳に追加

摩擦試験機及び摩擦試験方法 - 特許庁

DYNAMIC HORIZONTAL LOADING TEST METHOD FOR PILE例文帳に追加

杭の動的水平載荷試験方法 - 特許庁

WITHSTAND VOLTAGE TEST METHOD OF POWER EQUIPMENT例文帳に追加

電力設備の耐電圧試験方法 - 特許庁

METHOD FOR DESIGNING AND DECIDING LIFE TEST例文帳に追加

寿命試験の設計・判定方法 - 特許庁

IMAGE SENSOR TEST METHOD AND APPARATUS FOR IT例文帳に追加

イメージセンサテスト方法及びその装置 - 特許庁

TEST METHOD AND TELEPHONE TERMINAL DEVICES例文帳に追加

試験方法および電話端末装置 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

集積回路およびその試験方法 - 特許庁

CONTENTS DATA TEST METHOD AND SYSTEM例文帳に追加

コンテンツデータの試験方法およびシステム - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR NQR TEST例文帳に追加

ＮＱＲ試験の方法および装置 - 特許庁

TEST SYSTEM, METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

試験システム及び方法並びにプログラム - 特許庁

FRICTION TEST METHOD AND FRICTION TESTER例文帳に追加

摩擦試験方法及び摩擦試験機 - 特許庁

CONTINUITY TEST METHOD AND NETWORK SYSTEM例文帳に追加

導通試験方法及びネットワークシステム - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体集積回路とテスト方法 - 特許庁

CIRCUIT AND METHOD FOR SCAN TEST例文帳に追加

スキャンテスト回路、およびスキャンテスト方法 - 特許庁

SRAM (STATIC RANDOM ACCESS MEMORY) AND TEST METHOD OF SRAM例文帳に追加

ＳＲＡＭ（ＳｔａｔｉｃＲａｎｄｏｍＡｃｃｅｓｓＭｅｍｏｒｙ）、及びＳＲＡＭのテスト方法 - 特許庁

AGING TEST METHOD OF AUTOMOBILE TIRE例文帳に追加

自動車用タイヤの老化試験方法 - 特許庁

CALL-PROCESSING LOAD TEST APPARATUS AND METHOD例文帳に追加

呼処理負荷試験装置及び方法 - 特許庁

VERTICAL LOADING TEST METHOD FOR EXISTING PILE例文帳に追加

既存杭の鉛直載荷試験方法 - 特許庁

LOAD TEST METHOD FOR WORK BARGE例文帳に追加

作業船における荷重試験方法 - 特許庁

TEST METHOD OF COMPONENT OF RUNFLAT TIRE例文帳に追加

ランフラットタイヤのコンポーネントのテスト方法 - 特許庁

STRESS CORROSION CRACKING TEST METHOD例文帳に追加

応力腐食割れ発生試験方法 - 特許庁

ACCELERATED CORROSION TEST METHOD AND TESTER例文帳に追加

腐食促進試験方法及び装置 - 特許庁

TEST ELECTRIC POWER ADDITION RESISTANCE WELDING METHOD例文帳に追加

テスト通電付加抵抗溶接方法 - 特許庁

TEST EQUIPMENT, TESTING METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

試験装置、試験方法、および、プログラム - 特許庁

ABRASION TESTER AND ABRASION TEST METHOD例文帳に追加

摩耗試験機及び摩耗試験方法 - 特許庁

TEST CONDUCTING DEVICE, METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

テスト実行装置、方法およびプログラム - 特許庁

TEST SYSTEM AND MODULE CONTROL METHOD例文帳に追加

試験システム及びモジュール制御方法 - 特許庁

VERTICAL LOAD TEST METHOD FOR EXISTING PILE例文帳に追加

既存杭の鉛直載荷試験方法 - 特許庁

TEST METHOD OF TORSIONAL VIBRATION ATTENUATOR例文帳に追加

ねじり振動減衰器の検査方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

半導体装置及びそのテスト方法 - 特許庁

TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR WAFER AND TEST METHOD THEREOF例文帳に追加

半導体ウェハおよびそのテスト方法 - 特許庁

METHOD FOR TEST ROUTE SELECTION AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

試験ルート選定方法及び装置 - 特許庁

DEVICE TEST HANDLER AND ITS OPERATION METHOD例文帳に追加

デバイステストハンドラ及びその作動方法 - 特許庁

RANDOM KEYING TEST METHOD AND TESTER例文帳に追加

ランダム打鍵試験方法及び試験機 - 特許庁

TEST SUPPORT DEVICE AND METHOD例文帳に追加

テスト支援装置及びテスト支援方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR AUTOMATIC PERMEABILITY TEST例文帳に追加

自動透水試験方法及び装置 - 特許庁

SCAN TEST CIRCUIT, SCAN TEST METHOD, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT PROVIDED WITH SCAN TEST CIRCUIT例文帳に追加

スキャンテスト回路及びスキャンテスト方法、スキャンテスト回路を備える半導体集積回路 - 特許庁

TEST-PRINTED PRINT, TEST-PRINTED PRINT FORMING SYSTEM, AND TEST-PRINTED PRINT FORMING METHOD例文帳に追加

試し焼きプリント及び試し焼きプリント作成システム並びに試し焼きプリント作成方法 - 特許庁

TEST SPECIFICATION GENERATING DEVICE, TEST SYSTEM, AND METHOD AND PROGRAM FOR GENERATING TEST SPECIFICATION例文帳に追加

試験仕様生成装置及び試験システム及び試験仕様生成方法及びプログラム - 特許庁

To provide a semiconductor test system which can execute a virtual test and a semiconductor test method.例文帳に追加

仮想テストが可能な半導体テストシステム及びその半導体テスト方法を提供する。 - 特許庁

TEST CIRCUIT, TEST CIRCUIT GENERATING DEVICE, TEST CIRCUIT GENERATING METHOD, AND ITS RECORDING MEDIUM例文帳に追加

テスト回路およびテスト回路生成装置、テスト回路生成方法およびその記録媒体 - 特許庁

IC TESTER, IC TEST METHOD, IC TEST PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM RECORDING IC TEST PROGRAM例文帳に追加

ＩＣテスタ、ＩＣテスト方法、ＩＣテストプログラムおよびＩＣテストプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁