「test method」に関連した英語例文の一覧と使い方(24ページ目) - Weblio英語例文検索

REGENERATIVE LOAD APPARATUS AND LOAD TEST METHOD例文帳に追加

回生負荷装置及び負荷試験方法 - 特許庁

IMAGE CORRECTION DEVICE, PATTERN TEST DEVICE, IMAGE CORRECTION METHOD, AND PATTERN DEFECT TEST METHOD例文帳に追加

画像補正装置、パターン検査装置、画像補正方法、及び、パターン欠陥検査方法 - 特許庁

CASTING INSULATOR AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

注型絶縁物およびその試験方法 - 特許庁

TRANSMISSION TEST METHOD AND TRANSMISSION SIMULATOR例文帳に追加

伝送試験方法及び伝送模擬装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR PRINTING TEST PATTERN例文帳に追加

テストパターンをプリントする方法及び装置 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR ORDERING CLINICAL TEST例文帳に追加

臨床検査オーダリングシステムおよび方法 - 特許庁

OPERATION TEST METHOD FOR DIRECTIONAL GROUND RELAY例文帳に追加

地絡方向継電器の動作試験方法 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR TEST CONSIGNMENT例文帳に追加

半導体試験受託方法及びシステム - 特許庁

CYCLE TESTING DEVICE AND CYCLE TEST METHOD例文帳に追加

サイクル試験装置及びサイクル試験方法 - 特許庁

DETERIORATION TESTING DEVICE AND DETERIORATION TEST METHOD例文帳に追加

劣化試験装置及び劣化試験方法 - 特許庁

IMAGE PROCESSING APPARATUS AND TEST CONTROLLING METHOD例文帳に追加

画像処理装置及びテスト制御方法 - 特許庁

TEST DATA GENERATION PROGRAM, METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

テストデータ生成プログラム、方法及び装置 - 特許庁

LSI TEST CIRCUIT AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加

ＬＳＩテスト回路およびそのテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY CIRCUIT, AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体記憶回路および検査方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体試験装置および試験方法 - 特許庁

TEST DATA GENERATION METHOD, PROGRAM AND APPARATUS例文帳に追加

テストデータ作成方法及びプログラム、装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR WIND RESISTANCE TEST例文帳に追加

耐風試験方法および耐風試験装置 - 特許庁

TEST SPECIFICATION EDITING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

テスト仕様書編集装置および方法 - 特許庁

SCANNING TEST CIRCUIT AND METHOD FOR ARRANGING THE SAME例文帳に追加

スキャンテスト回路及びその配置方法 - 特許庁

ACCELERATED TEST METHOD OF STRESS CORROSION CRACKING例文帳に追加

応力腐食割れの加速試験方法 - 特許庁

PENETRATION TEST METHOD AND MACHINE例文帳に追加

貫入試験方法および貫入試験機 - 特許庁

LEAK TEST SYSTEM FOR ENGINE OIL AND METHOD THEREOF例文帳に追加

エンジンオイル漏れ試験システム及び方法 - 特許庁

TEST DATA GENERATING PROGRAM, DEVICE, AND METHOD例文帳に追加

テストデータ生成プログラム、装置、及び方法 - 特許庁

METHOD FOR TESING ONLINE SYSTEM AND TEST SYSTEM例文帳に追加

オンラインシステムのテスト方法及びテストシステム - 特許庁

TEST SYSTEM, AND COMMUNICATION METHOD BETWEEN MODULES例文帳に追加

試験システム及びモジュール間通信方法 - 特許庁

TEST METHOD FOR PERFORMANCE OF ION-EXCHANGE RESIN例文帳に追加

イオン交換樹脂の性能試験方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR CREATING TEST DATA例文帳に追加

テストデータ作成装置及び作成方法 - 特許庁

FERROELECTRIC MEMORY AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

強誘電体メモリ及びそのテスト方法 - 特許庁

ELECTRONIC CIRCUIT DEVICE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

電子回路装置及びその試験方法 - 特許庁

TEST PROGRAM PREPARING DEVICE AND ITS METHOD例文帳に追加

テストプログラム作成装置およびその方法 - 特許庁

TRIBO-PLASMA REACTION TEST METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

トライボプラズマ反応試験方法及び装置 - 特許庁

TEST PIECE CONTAINER AND METHOD FOR USING THE SAME例文帳に追加

試験片容器およびその使用方法 - 特許庁

TEST PIECE STORING BODY AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

試験片収容体、その製造方法 - 特許庁

TEST COMPOUND DETECTION APPARATUS AND METHOD例文帳に追加

被検化合物検出装置及び方法 - 特許庁

PROCESSING METHOD OF SEMICONDUCTOR CHIP TEST DATA例文帳に追加

半導体チップ検査データの処理方法 - 特許庁

EQUIPMENT AND METHOD FOR MACRO CORE TEST例文帳に追加

マクロコアテスト装置およびマクロコアテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体集積回路及び試験方法 - 特許庁

CREEP TESTING TOOL AND CREEP TEST METHOD例文帳に追加

クリープ試験治具およびクリープ試験方法 - 特許庁

DISCONNECTION TEST METHOD OF COAXIAL CABLE ASSEMBLY例文帳に追加

同軸ケーブルアセンブリの断線試験方法 - 特許庁

RECEIVER CIRCUIT AND RECEIVER CIRCUIT TEST METHOD例文帳に追加

レシーバ回路及びレシーバ回路試験方法 - 特許庁

The test method should now look like the following: 例文帳に追加

テストメソッドは次のようになるはずです。 - NetBeans

Change the name of the testEqual test method to equalsCheck. 例文帳に追加

testEqual テストメソッドの名前を equalsCheck に変更します。 - NetBeans

WINDING SYSTEM AND WEAVING TEST METHOD例文帳に追加

巻回装置および巻きずれ検査方法 - 特許庁

HYDRANT DEVICE, AND WATER DISCHARGE TEST METHOD例文帳に追加

消火栓装置及び放水試験方法 - 特許庁

PERFORMANCE TEST SYSTEM AND METHOD例文帳に追加

性能試験システム及び性能試験方法 - 特許庁