「test method」に関連した英語例文の一覧と使い方(28ページ目) - Weblio英語例文検索

IMAGE INFORMATION APPARATUS AND DEVICE TEST METHOD例文帳に追加

画像情報装置およびデバイステスト方法 - 特許庁

CREEP TESTING DEVICE AND CREEP TEST METHOD例文帳に追加

クリープ試験装置およびクリープ試験方法 - 特許庁

MECHANICAL LOAD TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置用機械荷重試験方法 - 特許庁

MEMORY DEVICE AND TEST METHOD FOR MEMORY DEVICE例文帳に追加

メモリ装置及びメモリ装置の試験方法 - 特許庁

TEST METHOD AND ITS DEVICE OF FUEL CELL例文帳に追加

燃料電池の試験方法とその装置 - 特許庁

AIRTIGHTNESS TEST METHOD AND GAS SUPPLY DEVICE例文帳に追加

気密試験方法及びガス供給装置 - 特許庁

MIXING TEST EVALUATION SYSTEM DEVICE AND METHOD例文帳に追加

混合試験評価システム装置及び方法 - 特許庁

PRINTING METHOD, PRINTING APPARATUS, AND TEST PATTERN例文帳に追加

印刷方法、印刷装置およびテストパターン - 特許庁

INFORMATION PROCESSOR TEST PROGRAM AND METHOD例文帳に追加

情報処理装置試験プログラム及び方法 - 特許庁

CONSOLIDOMETER OF SOIL AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

土の圧密試験装置及びその試験方法 - 特許庁

BALANCE TEST METHOD AND BALANCING MACHINE例文帳に追加

釣合い試験方法および釣合い試験機 - 特許庁

REMOTE TEST METHOD AND SYSTEM OF SEMICONDUCTOR例文帳に追加

半導体の遠隔試験方法及び装置 - 特許庁

ELONGATION MEASURING METHOD AND DEVICE FOR TEST PIECE例文帳に追加

試験片の伸び測定方法及び装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR CONDUCTION TEST例文帳に追加

導通検査方法および導通検査装置 - 特許庁

THIN FILM TEST PIECE STRUCTURE, ITS MANUFACTURING METHOD, ITS TENSILE TEST METHOD, AND TENSILE TESTING DEVICE例文帳に追加

薄膜試験片構造体、その製造方法、その引張試験方法及び引張試験装置 - 特許庁

TEST RESULT COLLATION SYSTEM, METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

テスト結果照合システム、方法、及びプログラム - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND MEMORY TEST METHOD例文帳に追加

半導体メモリ装置およびメモリテスト方法 - 特許庁

MAGNETIC RANDOM ACCESS MEMORY RAM AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

磁気ランダムアクセスメモリ及びそのテスト方法 - 特許庁

TEST PIECE OBSERVATION METHOD, AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料観察方法、及び電子顕微鏡 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

半導体記憶装置及びその検査方法 - 特許庁

HOLE HORIZONTALLY LOADING TEST METHOD AND DEVICE例文帳に追加

孔内水平載荷試験方法及び装置 - 特許庁

COMPRESSION STRENGTH TEST CONTROL METHOD OF CONCRETE例文帳に追加

コンクリートの圧縮強度試験管理方法 - 特許庁

MODULE TEST METHOD AND DEVICE THEREOF例文帳に追加

モジュール試験方法およびモジュール試験装置 - 特許庁

COMMUNICATION SYSTEM AND COMMUNICATION TEST METHOD THEREOF例文帳に追加

通信システムおよびその通信試験方法 - 特許庁

POLLUTION PROGRESS TEST METHOD FOR DUST例文帳に追加

塵埃についての汚染促進試験方法 - 特許庁

DEVICE TEST SYSTEM AND DEVICE TESTING METHOD例文帳に追加

装置試験システムおよび装置試験方法 - 特許庁

PERFORMANCE TEST METHOD FOR SLUDGE HANDLING APPARATUS例文帳に追加

汚泥取扱装置の性能試験方法 - 特許庁

VEHICLE CRASH TEST APPARATUS AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

車両用衝突試験装置及び方法 - 特許庁

ASEPTIC TEST SAMPLING METHOD AND APPARATUS THEREFOR例文帳に追加

無菌試験サンプリング方法及びその装置 - 特許庁

WAVEFORM DISPLAY METHOD AND TEST MEASUREMENT APPARATUS例文帳に追加

波形表示方法及び試験測定機器 - 特許庁

TESTING SYSTEM, TESTING METHOD, AND TEST PROGRAM例文帳に追加

試験システム、試験方法、及び試験プログラム - 特許庁

SCAN PATH TEST CIRCUIT AND DESIGNING METHOD THEREFOR例文帳に追加

スキャンパステスト回路及びその設計方法 - 特許庁

TEST METHOD OF MULTI-I/O SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

多Ｉ／Ｏの半導体メモリの試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体集積回路装置とテスト方法 - 特許庁

FAILURE DIAGNOSTIC METHOD OF A/T TEST APPARATUS例文帳に追加

Ａ／Ｔ試験装置の故障診断方法 - 特許庁

SOFTWARE AUTOMATIC-TEST APPARATUS AND METHOD THEREOF例文帳に追加

ソフトウェア自動試験装置およびその方法 - 特許庁

IMAGING APPARATUS, TEST DEVICE, AND RECYCLE METHOD例文帳に追加

撮像装置、試験装置、及びリサイクル方法 - 特許庁

METHOD FOR WELD SOLIDIFICATION CRACKING TEST FOR THIN PLATE例文帳に追加

薄板の溶接凝固割れ試験方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR VIBRATION TEST例文帳に追加

振動試験装置及び振動試験方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR VIBRATION TEST例文帳に追加

振動試験装置および振動試験方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR QUALIFICATION TEST例文帳に追加

認定試験システム及び認定試験方法 - 特許庁

MULTICHIP MODULE AND ITS CONNECTION TEST METHOD例文帳に追加

マルチチップモジュール及びその接続テスト方法 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT APPARATUS AND TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

集積回路装置及びその試験方法 - 特許庁

PRESSURE TEST METHOD FOR REACTOR PRESSURE VESSEL例文帳に追加

原子炉圧力容器の耐圧試験方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR GENERATING TEST PICTURE, TEST CIRCUIT AND PARAMETER DECIDING METHOD例文帳に追加

試験画像生成装置、試験画像生成方法、試験画像及びパラメタ決定方法。 - 特許庁