「test method」に関連した英語例文の一覧と使い方(29ページ目) - Weblio英語例文検索

GROUND/GROUND WATER MODEL TEST METHOD AND DEVICE例文帳に追加

地盤・地下水モデル試験方法及び装置 - 特許庁

IMPULSIVE TEST METHOD AND APPARATUS OF CARD例文帳に追加

カードの衝撃試験方法及びその装置 - 特許庁

COMMUNICATION TERMINAL TEST METHOD, DEVICE AND SYSTEM例文帳に追加

通信端末試験方法、装置、及びシステム - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR UNIVERSAL MATERIAL TEST例文帳に追加

万能材料試験方法及びその装置 - 特許庁

IMPACT TEST DEVICE AND METHOD例文帳に追加

衝撃試験装置及び衝撃試験方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR INSULATION TEST例文帳に追加

絶縁検査装置および絶縁検査方法 - 特許庁

ACID WASH COLOR TEST METHOD FOR OCTYLIC ACID例文帳に追加

オクチル酸の硫酸着色試験方法 - 特許庁

MATERIAL TEST METHOD AND MATERIAL TESTER例文帳に追加

材料試験方法および材料試験機 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR UPDATING TEST DEVICE例文帳に追加

テストデバイスを更新するシステムおよび方法 - 特許庁

MATERIAL TEST PIECE AND METHOD OF MANUFACTURING SAME例文帳に追加

材料試験片及びその製造方法 - 特許庁

CONTROL METHOD OF TEST FACILITY OF SMOKE DETECTOR例文帳に追加

煙感知器の試験設備の制御方法 - 特許庁

BEARING TEST DEVICE AND ITS METHOD例文帳に追加

軸受試験装置、及び、軸受試験方法 - 特許庁

COMMUNICATION DEVICE AND COMMUNICATION DEVICE TEST METHOD例文帳に追加

通信装置及び通信装置試験方法 - 特許庁

METHOD OF CALIBRATING ELECTRONIC COMPONENT TEST APPARATUS例文帳に追加

電子部品試験装置のキャリブレーション方法 - 特許庁

METHOD FOR CODUCTING LIGHT IRRADIATION TEST OF SOLAR BATTERY例文帳に追加

太陽電池の光照射試験方法 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING CHEMICAL, TEST EVALUATION SYSTEM FOR CHEMICAL AND TEST EVALUATION METHOD FOR CHEMICAL例文帳に追加

薬品の製造方法、薬品の試験評価システム、および薬品の試験評価方法 - 特許庁

PROJECTOR AND ITS TEST PATTERN DETECTING METHOD例文帳に追加

プロジェクタおよびそのテストパターン検出方法 - 特許庁

DETECTION METHOD AND DETECTION APPARATUS OF FOR TEST TUBE例文帳に追加

試験管の検知方法及び検知装置 - 特許庁

SHEET FOR COLOR REPRODUCTION DETERMINATION TEST, METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, AND COLOR REPRODUCTION DETERMINATION TEST METHOD例文帳に追加

色再現判定試験用シート、その製造方法、及び色再現判定試験方法 - 特許庁

AUTOMATIC TEST POINT INSERTION METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

テストポイント自動挿入方法及びプログラム - 特許庁

LOAD TESTING DEVICE AND LOAD TEST METHOD例文帳に追加

荷重試験装置および荷重試験方法 - 特許庁

TEST DEVICE, STAGE DEVICE, AND TESTING METHOD例文帳に追加

試験装置、ステージ装置、および試験方法 - 特許庁

METHOD FOR PHOTOMETRIC ANALYSIS OF TEST ELEMENT例文帳に追加

試験素子の測光分析のための方法 - 特許庁

LSI WITH MIXEDLY-LOADED MEMORY/LOGIC AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

メモリ・ロジック混載ＬＳＩとそのテスト方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TEST OF BELT WITH CLEATS例文帳に追加

桟付ベルトの試験方法及び試験装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR DISINTEGRATION TEST例文帳に追加

崩壊試験装置及び崩壊試験方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR CONNECTION TEST例文帳に追加

接続検査方法及び接続検査装置 - 特許庁

DIRECT GRIP TESTING METHOD AND TEST JIG例文帳に追加

直接つかみ試験方法及び試験治具 - 特許庁

NMR ANALYZER AND TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

ＮＭＲ分析装置及びその検査方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND TEST METHOD THEREOF例文帳に追加

半導体記憶装置及びその試験方法 - 特許庁

SMALL-SIZED BENDING FATIGUE TEST APPARATUS AND ITS METHOD例文帳に追加

小型曲げ疲労試験装置および方法 - 特許庁

METHOD FOR SOUNDNESS TEST OF SUPERCONDUCTING CABLE例文帳に追加

超電導ケーブルの健全性検査方法 - 特許庁

CORE CREASE TEST METHOD FOR CASTING MOLDING例文帳に追加

鋳造成形品の中子折れ検査方法 - 特許庁

THERMAL SHOCK TEST DEVICE, THERMAL SHOCK TEST METHOD AND METHOD OF INSPECTING SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置、冷熱衝撃試験方法及び半導体ウェハの検査方法 - 特許庁

DEVICE TEST EQUIPMENT AND DEVICE TESTING METHOD例文帳に追加

デバイス試験装置およびデバイス試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

半導体メモリ装置及びそのテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

半導体記憶装置及びそのテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE TEST CIRCUIT AND TESTING METHOD例文帳に追加

半導体装置のテスト回路とテスト方法 - 特許庁

TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND PROBE CARD AND SEMICONDUCTOR DEVICE USED FOR TEST METHOD例文帳に追加

半導体装置の試験方法、その試験方法に用いるプローブカード及び半導体装置 - 特許庁

SERIAL BUS TEST DEVICE AND ITS OPERATING METHOD例文帳に追加

シリアルバス検査装置及びその動作方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR TEST METHOD例文帳に追加

半導体装置、及び半導体試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

半導体記憶装置、及びそのテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

半導体集積回路とそのテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS SELF TEST METHOD例文帳に追加

半導体装置及びその自己テスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR CIRCUIT SYSTEM AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

半導体回路装置及びそのテスト方法 - 特許庁