「test method」に関連した英語例文の一覧と使い方(32ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD AND DEVICE TO TEST TFT ARRAY例文帳に追加

ＴＦＴアレイ試験方法および試験装置 - 特許庁

TEST SYSTEM, TESTER AND TESTING METHOD例文帳に追加

試験システムおよび試験器および試験方法 - 特許庁

EFFLORESCENCE GENERATION TEST METHOD OF CEMENT- HARDENED BODY例文帳に追加

セメント硬化体の白華発生試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

半導体記憶装置およびそのテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TEST METHOD THEREFOF例文帳に追加

半導体集積回路、及びそのテスト方法 - 特許庁

COMPOSITE SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

複合半導体装置およびそのテスト方法 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR TEST OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置のテスト方法及びテストシステム - 特許庁

TEST FACILITATING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト容易化方法 - 特許庁

TESTING METHOD AND TEST BOARD FOR SEMICONDUCTOR ELEMENT例文帳に追加

半導体素子のテスト方法及びテスト基板 - 特許庁

TESTING TOOL AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置のテスト用治具とテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST DEVICE AND ITS CONTROL METHOD例文帳に追加

半導体検査装置及びその制御方法 - 特許庁

HYDROGENATION METHOD AND HYDROGENATION TEST PIECE例文帳に追加

水素添加方法および水素添加試験片 - 特許庁

TEST FACILITATING CIRCUIT AND METHOD FOR DESIGNING THE SAME例文帳に追加

テスト容易化回路およびその設計方法 - 特許庁

REGENERATING METHOD FOR IRRADIATION EMBRITTLEMENT MONITORING TEST PIECE例文帳に追加

照射脆化監視試験片の再生方法 - 特許庁

SUPERCRITICAL EXTRACTION METHOD USING TEST TUBE例文帳に追加

試験管を用いた超臨界抽出方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND SCANNING TEST METHOD例文帳に追加

半導体集積回路及びスキャンテスト方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR COLD CRITICALITY TEST例文帳に追加

冷温臨界試験方法および試験装置 - 特許庁

TEST DESIGN METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト設計方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

半導体集積回路及びそのテスト方法 - 特許庁

CHROMATOGRAPHY TEST PIECE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

クロマトグラフィー試験片、及びその製造方法 - 特許庁

NONDESTRUCTIVE TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR EPITAXIAL FILM例文帳に追加

半導体エピタキシャル膜の非破壊検査方法 - 特許庁

CORROSION EVALUATION METHOD USING EDDY CURRENT TEST例文帳に追加

渦流探傷を用いた腐食評価方法 - 特許庁

GROUND LOAD BEARING CAPACITY TEST METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

地盤支持力試験方法及びその装置 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR PROVIDING TEST SERVICE例文帳に追加

試験サービスの提供方法及びそのシステム - 特許庁

MEDIUM TEST METHOD AND DEVICE, AND PROGRAM例文帳に追加

媒体試験方法及び装置並びにプログラム - 特許庁

STRUCTURE AND METHOD FOR PACKAGE BURN-IN TEST例文帳に追加

パッケージ・バーンイン試験用の構造及び方法 - 特許庁

WEATHERING TEST METHOD AND WEATHERING TESTING DEVICE例文帳に追加

耐候性試験方法及び耐候性試験装置 - 特許庁

TEST METHOD FOR STRENGTH OF SINTERED ORE AFTER REDUCTION例文帳に追加

焼結鉱の還元後強度試験方法 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING AIRWAY SENSITIZATION OF TEST SUBSTANCE例文帳に追加

被験物質の気道感作性評価方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TENSILE TEST例文帳に追加

引張り試験方法及び引張り試験装置 - 特許庁

CHIP TEST MACHINE PROVIDED WITH STILL BELT AND CHIP TEST METHOD USING IT例文帳に追加

スチルベルトが備えられたチップ検査機及びこれを用いたチップ検査方法 - 特許庁

TEST CIRCUIT FOR RANDOM NUMBER GENERATION CIRCUIT, AND TEST METHOD FOR RANDOM NUMBER GENERATION CIRCUIT例文帳に追加

乱数発生回路用テスト回路及び乱数発生回路用テスト方法 - 特許庁

CONNECTION TEST METHOD, CONNECTION TEST PROGRAM, RECORDING MEDIUM, AND IMAGE FORMING APPARATUS例文帳に追加

接続テスト方法、接続テストプログラム、記録媒体および画像形成装置 - 特許庁

MOBILE COMMUNICATION TERMINAL TEST DEVICE AND MOBILE COMMUNICATION TERMINAL TEST METHOD例文帳に追加

移動体通信端末試験装置及び移動体通信端末試験方法 - 特許庁

TIRE TEST APPARATUS, TIRE FITTING SHAFT FOR USE IN IT, AND TIRE TEST METHOD例文帳に追加

タイヤ試験装置、これに用いられるタイヤ装着軸及びタイヤ試験方法 - 特許庁

OPERATION CONFIRMATION DEVICE, SYSTEM, METHOD AND PROGRAM FOR TEST RULE FOR BLACK BOX TEST例文帳に追加

ブラックボックステスト用テストルールの動作確認装置、システム、方法およびプログラム - 特許庁

TEST SPECIFICATION INFORMATION PREPARATION DEVICE, TEST SPECIFICATION INFORMATION PREPARATION METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

テスト仕様情報作成装置、テスト仕様情報作成方法、およびプログラム - 特許庁

INSTRUMENT AND METHOD CAPABLE OF RF TEST AND DC TEST BY USING RF ELEMENT例文帳に追加

ＲＦ素子でＲＦテスト及びＤＣテストが可能な装置及び方法 - 特許庁

BIDIRECTIONAL PHOTOTHYRISTOR TEST DEVICE AND TEST METHOD OF BIDIRECTIONAL PHOTOTHYRISTOR, AND TESTER例文帳に追加

双方向フォトサイリスタテスト装置、双方向フォトサイリスタのテスト方法、および、テスター - 特許庁

TEST METHOD OF ELECTRONIC DEVICE, TESTER OF ELECTRONIC DEVICE, AND TEST SYSTEM OF ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

電子デバイスのテスト方法、電子デバイスのテスタおよび電子デバイスのテストシステム - 特許庁

ADAPTATION ELEMENT, TEST SYSTEM, AND OPERATION METHOD OF ADAPTATION ELEMENT AND TEST SYSTEM例文帳に追加

適合エレメント、テストシステム、および該適合エレメントおよびテストシステムの動作方法 - 特許庁

TEST METHOD FOR SHORT WAVE MODULATION TYPE DIGITAL RADIO, AND TEST FIXTURE THEREOF例文帳に追加

微工率での短波変調式ディジタル無線のテスト方法及びテスト治具 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR GENERATING TEST PROGRAM FOR SEMICONDUCTOR TEST DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置用テストプログラム生成システム及びテストプログラム生成方法 - 特許庁

INSPECTION DEVICE OF SEMICONDUCTOR TEST PROGRAM AND INSPECTION METHOD OF SEMICONDUCTOR TEST PROGRAM例文帳に追加

半導体試験プログラム検査装置及び半導体試験プログラム検査方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM, AND METHOD AND PROGRAM FOR GENERATION OF TEST PATTERN例文帳に追加

半導体試験システム、テストパターン生成方法及びテストパターン生成プログラム - 特許庁